埋嵌式元件共面度測量方法研究（二）

4 測量方法改良

4.1 改良思路

對比共面度定義以及PCBA貼裝和焊接過程對器件引腳共面度值的測量方法，結(jié)合公司前期共面度測量、分析經(jīng)驗(yàn)，公司現(xiàn)有的埋嵌銅塊共面度的測量方法有如下待改進(jìn)之處(表7)。

4.2 改良方法

從表7的分析可知，使用三維坐標(biāo)儀測量公司埋嵌銅塊的共面度，需要在參考平面選取、測量數(shù)據(jù)量、計(jì)算方法和結(jié)果評價方法方面進(jìn)行優(yōu)化，以使其更加符合共面度原始定義，測量結(jié)果更能與客戶需求呼應(yīng)。

4.2.1 參考平面選取

根據(jù)共面度定義，被測點(diǎn)的共面度值反映該點(diǎn)與基準(zhǔn)面之間的偏移量，對于PCB上的埋嵌銅塊而言，其基準(zhǔn)面應(yīng)是銅塊所在的PCB局部區(qū)域，而非整個PCB板面。而為便于區(qū)分埋嵌銅塊不同位置的共面度值，我們?nèi)詼y量器件的四角與中央共五個點(diǎn)，同時測量PCB板面對應(yīng)銅塊四角位置的四個點(diǎn)(板面上點(diǎn)與銅塊的距離一般為0.5 mm ~ 1.0 mm)，銅塊對應(yīng)的基準(zhǔn)面由PCB板面的這四個點(diǎn)構(gòu)造。

三維坐標(biāo)儀輸出的各點(diǎn)測量結(jié)果是三個數(shù)字一組的數(shù)據(jù)(如(5.012,10.251,-0.026))，分別代表測量點(diǎn)所在的X、Y、Z坐標(biāo)，這一個個點(diǎn)在一個三維空間內(nèi)。

在高等數(shù)學(xué)內(nèi)有如下定義和定理：

定理一：空間內(nèi)任意兩個點(diǎn)之間的連線，以及其連接方向，可以確定一個向量;

定理二：不在同一直線上的三個點(diǎn)，可以確定一個平面;

定理三：過一點(diǎn)做點(diǎn)外一個平面的垂線，則點(diǎn)與垂足組成的線段的長度即為該點(diǎn)到平面的距離。

基于上述定義和定理，我們可以把PCB板面的各測量點(diǎn)組成向量，并構(gòu)造出平面，然后計(jì)算銅塊表面各測量點(diǎn)到平面的距離，就可以得到測量點(diǎn)的共面度值。

測量PCB板面呈方形的四個點(diǎn)A1、B1、C1、D1,對于每個測量點(diǎn)，選取與其直角相鄰的2個點(diǎn)構(gòu)造一個平面，則可構(gòu)造四個平面，如圖9所示。定義A1、B1、C1、D1對應(yīng)的平面為α1、α2、α3、α4.

下文以構(gòu)造點(diǎn)A1、B1、D1對應(yīng)的平面α1為例，介紹使用PCB板面測量點(diǎn)的坐標(biāo)、采用點(diǎn)法式方法構(gòu)造基準(zhǔn)平面的過程：

(1)選取構(gòu)造點(diǎn)：設(shè)A1點(diǎn)坐標(biāo)為(x1,y1,z1)，B1點(diǎn)坐標(biāo)為(x2,y2,z2)，D1點(diǎn)坐標(biāo)為(x4,y4,z4);

(2)構(gòu)造向量：向量A1D1記為a1{(x4-x1)，(y4-y1)，(z4-z1)},向量A1B1記為b1{(x2-x1)，(y2-y1)，(z2z1)};

(3)計(jì)算平面法向量：

(4)構(gòu)造平面α1:點(diǎn)法式方程為：

同理可利用A1、B1、C1點(diǎn)構(gòu)造B1點(diǎn)對應(yīng)的基準(zhǔn)平面α2,B1、C1、D1點(diǎn)構(gòu)造C1點(diǎn)對應(yīng)的基準(zhǔn)平面α3,C1、D1、A1點(diǎn)構(gòu)造D1點(diǎn)對應(yīng)的基準(zhǔn)平面α4.

4.2.2 測量數(shù)據(jù)量

為兼顧測量效率和測量結(jié)果準(zhǔn)確性，設(shè)計(jì)每個點(diǎn)測量1、2、3次的計(jì)算方法，其中每個點(diǎn)測量2、3次時，每次測量時需對同一位置測量2、3次，計(jì)算共面度時各點(diǎn)坐標(biāo)取測量的平均值。

計(jì)算共面度時的優(yōu)先順序?yàn)椋簡吸c(diǎn)3次>單點(diǎn)2次>單點(diǎn)1次?？稍趦?yōu)先(Excel)表格內(nèi)編程，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)優(yōu)先級設(shè)定。

4.2.3 共面度值計(jì)算

如圖10,計(jì)算銅塊表面A(xA,yA,zA)點(diǎn)到基準(zhǔn)面的共面度，基準(zhǔn)面為點(diǎn)A1、B1、D1所構(gòu)造的平面α1,已知A1點(diǎn)坐標(biāo)為(x1,y1,z1)，平面α1的點(diǎn)法式方程為：

則A(xA,yA,zA)點(diǎn)到其基準(zhǔn)平面α1的距離dA可用下式計(jì)算：

同理，可計(jì)算銅塊表面其它各點(diǎn)B、C、D距離其對應(yīng)的基準(zhǔn)平面的距離dB、dC、dD.對于銅塊表面中央點(diǎn)E,由于其距離PCB表面參考點(diǎn)A1、B1、C1、D1均較遠(yuǎn)，故分別計(jì)算其到α1、α2、α3、α4四個基準(zhǔn)平面的距離dE1、dE2、dE3、dE4,并考量四個計(jì)算值的差異，用以輔助評價被測PCB樣品是否存在翹曲、樣品在測量臺面上是否被水平放置。

上述銅塊上各點(diǎn)到基準(zhǔn)平面的距離dA、dB、dC、dD、dE1、dE2、dE3、dE4,即為被測銅塊表面各點(diǎn)的共面度值。dA、dB、dC、dD、dE1、dE2、dE3、dE4中絕對值最大者，即為被測銅塊的共面度值。