THS4271集成電路實驗特性及其應(yīng)用
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3．4 開環(huán)差模放大倍數(shù)
由于集成運放的開環(huán)電壓放大倍數(shù)很高，難以直接進行測量，一般采用閉環(huán)電路。Aud的測試方法很多，現(xiàn)采用交，直流同時閉環(huán)的測試方法，如圖4所示。被測運放一方面通過Rf，R1，R2完成直流閉環(huán)，以抑制輸出電壓漂移，另一方面通過Rf和Rs實現(xiàn)交流閉環(huán)，外加信號Us經(jīng)R1、R2分壓，使Ui足夠小，以保證運放工作在線性區(qū)，同相輸入端電阻R3應(yīng)與反相輸入端電阻R2相匹配，以減小輸入偏置電流的影響，電容C為隔直電容。被測運放的放大倍數(shù)Aud=UO／Ui=(1+R1+R2)*UO／Ui，經(jīng)實驗測試，Aud=50．81dB。本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/176881.htm
3．5 測試時需要考慮的問題
3．5．1 輸入信號選擇
交直流均可，但要注意所選信號頻率和幅度，同時考慮運放的頻率響應(yīng)特性和輸出幅度的限制。運放工作在非線性區(qū)，輸入頻率過高，幅度過大等都會導(dǎo)致測量結(jié)果的偏差。
3．5．2 調(diào)零
為提高運算精度，在運算前，應(yīng)首先對直流輸出電位進行調(diào)零，即保證輸入為零時，輸出也為零。因THS4271沒有調(diào)零端子，實驗時如果需要調(diào)零可采取如圖5中的(a)，(b)兩種方式進行，只需按組件要求接入調(diào)零電位器RP，細心調(diào)節(jié)RP，使UO為零，即可實現(xiàn)調(diào)零。輸入端失調(diào)值為零，也會減小對測量數(shù)據(jù)的影響。
3．5．3 消振
集成運放自激時，表現(xiàn)為輸入為零，也會有輸出，使運放的各種運算功能無法實現(xiàn)，嚴重時還會損壞器件。消振方法：可以通過外接RC補償電路；合理布局電路走線和元器件位置以減少分布電容；在電源線和地之間接入適合的電容減小電源引線的影響。
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