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流水線ADC中高速比較器的設(shè)計和分析

作者: 時間:2009-03-17 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

1、前言

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/189009.htm

  在任何一個高速高分辨率的模數(shù)轉(zhuǎn)換器中,高精度和快速總是起著至關(guān)重要的作用。與其它種類的相比, 有著高速、高分辨率的特點(diǎn)。因此,它在電子系統(tǒng)中,有著廣泛的應(yīng)用。由許多子FLASHADC 構(gòu)成。ADC 的特性中,特別是速度、功耗和失調(diào)電壓對整個電路有著很重要的影響。適合流水線的動態(tài)主要有三種:電阻分壓、差分比較器和電容差分比較器[1]。但是他們可能消耗過多的功耗和較大的失調(diào)電壓。因此,前置運(yùn)放鎖存比較器的優(yōu)勢體現(xiàn)在3.5 位的子FLASHADC 或者更高分辨率的子FLASHADC 中。在考慮上面提及的因素后,本文給出了時間延遲、失調(diào)電壓和比較器的踢回噪聲的理論,并根據(jù)此,設(shè)計和優(yōu)化了比較器電路。

2、預(yù)放大鎖存比較器的工作原理

  前置增益運(yùn)放鎖存比較器的原理是前置增益運(yùn)放放大輸入信號,被放大后的信號輸入到鎖存比較器,最后信號通過一個普通的RS 觸發(fā)器,得到最終比較結(jié)果。這種結(jié)構(gòu)結(jié)合了前置增益運(yùn)放對輸入信號負(fù)指數(shù)響應(yīng)和鎖存比較器對輸入信號正指數(shù)響應(yīng)的優(yōu)點(diǎn)。因此前置增益運(yùn)放鎖存比較器與其它鎖存比較器相比,有較小的傳輸?shù)难舆t。鎖存比較器的失調(diào)電壓除以預(yù)放大器的增益后折算到運(yùn)放的輸入端。因此,前置增益運(yùn)放比較器的失調(diào)電壓主要來自于預(yù)放大器。通過前置增益運(yùn)放比較器輸入端的踢回噪聲,在信號的比較階段混淆了輸入信號。沒有隔離電路可能導(dǎo)致采樣電路的不穩(wěn)定性和不精確的比較結(jié)果。因此在鎖存比較器輸入端和前置增益運(yùn)放的輸出端在之間需要一個隔離電路[2]。

3、電路的結(jié)構(gòu)

  圖1 給出了前置增益運(yùn)放鎖存器的電路結(jié)構(gòu)。前置增益運(yùn)放有兩個差分對,分別由NM2,NM3,NM4 和NM5 組成。PM1,PM2,PM3,PM4 交叉相連形成一個正反饋回路,并且增大了前置放大器的增益。NM9,NM10,NM11,PM6,PM11 是開關(guān)。電路的工作流程為:當(dāng)Clk 為低的時候,鎖存比較器被復(fù)位,與此同時,Clk1 為高,鎖存比較器能夠接收到前置增益運(yùn)放的放大的信號。加載在NM2 和NM3 柵上的差分輸入信號,分別NM4 與NM5 柵上正相基準(zhǔn)電平和負(fù)相基準(zhǔn)電平相比較。兩端各自產(chǎn)生的差分電流,流過共柵級后,差分負(fù)載迫使它流過接在輸出兩端的電阻R1,產(chǎn)生一個電壓差(Vout+―Vout-),送到鎖存比較器的輸入端。當(dāng)Clk 為高電平是,鎖存比較器開始工作,差值(Vout+―Vout-)被交錯連接的正反饋回路放大,直至穩(wěn)定,一直到低電平的Clk 的到來。


(a) 前置增益運(yùn)放



(b) 鎖存比較器
圖1 前置增益鎖存比較器

3.1 前置增益運(yùn)放鎖存比較器的失調(diào)電壓

  前置增益運(yùn)放鎖存比較器結(jié)構(gòu)由帶正反饋的前置增益運(yùn)放和鎖存比較器組成,所以比較器的失調(diào)電壓主要由前置增益運(yùn)放和鎖存比較器的失調(diào)電壓組成。前置運(yùn)放放大了的差分信號用來出發(fā)鎖存比較器,并且電路的正反饋提高了比較器的速度,增益也提高了。前置運(yùn)放的失調(diào)電壓Vos1 主要是由于NM2,NM3,NM4 和NM5 的不匹配造成的。根據(jù)文獻(xiàn)[3]的方法,可以得到這樣的式子[3][4],


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