具有64位數(shù)據(jù)檢糾錯功能的FPGA模塊設計
CCl校驗位相異對應出錯數(shù)據(jù)位列號倒數(shù)第二位為1;CC2對應列號倒數(shù)第3位為1,可以推出錯誤數(shù)據(jù)位的列號為110,同理行號相關的幾個校驗位中CC4,CC5出現(xiàn)相異可以推出錯誤數(shù)據(jù)位的行號為0110,由此可以知道出錯的數(shù)據(jù)位是DA22,再對確認出錯的數(shù)據(jù)位取反就實現(xiàn)了糾正1位錯誤的功能。而如果出現(xiàn)2位錯誤,比如數(shù)據(jù)位DAl和DA34同時出錯,如圖2中所示,這會引起新老校驗位中的CC0,CCl,CC3,CC4,CC6同時出現(xiàn)相異。這時如果還按照上述糾正1位錯誤時的算法,就會推出出錯數(shù)據(jù)位的行號為1011列號為011,這樣,就會認為是數(shù)據(jù)為DA51發(fā)生了翻轉(zhuǎn),從而產(chǎn)生錯誤的檢糾錯結果,如圖2中粗箭頭所示。以前的測試數(shù)據(jù)表明,若在近地軌道中,SRAM存儲器中的每一個存儲數(shù)據(jù)位一天之內(nèi)發(fā)生SEU概率約是10-7(位?天),則可以推導出這個SRAM中1組64位的數(shù)據(jù),在一天時間內(nèi)有2位同時出現(xiàn)錯誤的可能性約為10-10(次?天),在南大西洋輻射異常區(qū)和太陽活動高峰期,這種情況的發(fā)生率可能還會提高1~2個數(shù)量級。
為了避免在發(fā)生雙位元錯誤時出現(xiàn)錯檢錯糾的情況,需要增加1個校驗位CC7,它是所有數(shù)據(jù)位的奇偶校驗結果,即CC7=DA0DAlDA2DA3…DA63。這樣在每次出現(xiàn)1個數(shù)據(jù)位錯誤時,新生成的NCC7也都會與先前的值相異,而當數(shù)據(jù)位中有2個存儲單元出錯,其他校驗位會檢測有錯誤出現(xiàn),但NCC7不會發(fā)生變化,NCC7CC7=0,這時就可以判斷出有雙位錯誤,從而使系統(tǒng)實現(xiàn)了檢測雙位錯誤的功能。
2 設計實現(xiàn)
將所有與主存儲器中數(shù)據(jù)一一對應的校驗位(CCl~CC8)存儲在另一個獨立的8位SRAM中,系統(tǒng)的硬件結構如圖3所示。
存儲校驗位的8位數(shù)據(jù)SRAM2同樣遇到出現(xiàn)SEU效應得可能,通過分析可以知道,SRAM2出現(xiàn)1位數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)時,只有對應的一位數(shù)值與通過數(shù)據(jù)位新生成的校驗位數(shù)值相異,而其他的7個校驗位數(shù)據(jù)都沒有變化,此時對對應的校驗位取反就實現(xiàn)了糾錯功能。對于出現(xiàn)雙位元錯誤的可能,通過理論分析,可以知道一組8位的校驗數(shù)據(jù)在一天中出現(xiàn)這種情況的概率約為7×10-13。,相比于主存儲器而言降低了兩三個數(shù)量級,暫時可以不予考慮。
FPGA的檢糾錯邏輯設計采用VHDL語言實現(xiàn)。設計使主存儲器SRAMl中的64位數(shù)據(jù)新生成的NCC[7:0]與SRAM2中的7位校驗位CC[7:0]一起經(jīng)過異或運算,生成8位的校正子,其中前7位就對應于前述定位錯誤數(shù)據(jù)的行號和列號的值,第8位用于判斷是否出現(xiàn)雙位元錯誤。8位校驗子的值可以求出1個64位糾錯掩碼(Mask),用以校正單位元錯誤。如果未檢測到錯誤,此掩碼的所有位都為零。如果檢測到單位元錯誤,相應掩碼會屏蔽除錯誤位之外的所有位。下一階段,使用原始數(shù)據(jù)對此掩碼進行異或運算。最終,錯誤位被反轉(zhuǎn)(或校正)至正確狀態(tài)。如果檢測到雙位元錯誤,所有掩碼位也都為零。使用1個雙位的數(shù)組(ER[1,O])用于報告檢測的錯誤類型(“OO”表示無錯、“01”表示單位元錯誤、“10”表示雙位錯誤、“11”表示無法判斷的多位錯誤)。整個糾錯邏輯的工作過程如圖4所示。生成錯誤類型報告數(shù)組和相應的校正掩碼的工作都在同一時鐘周期內(nèi)完成,體現(xiàn)了采用FPGA進行并行處理的獨特優(yōu)勢。
3 結 語
對綜合后進行仿真的結果進行分析,期間人為地加入1位、2位、3位隨機分布的數(shù)據(jù)位錯誤,該系統(tǒng)能夠在2個系統(tǒng)時鐘周期內(nèi)對1位錯誤的情況成功地檢測并予以糾正;對2位和3位錯誤情況也都進行了正確的類別判定。仿真結果表明,設計的系統(tǒng)比較理想,能滿足設計要求。
然而對于整個星載計算機系統(tǒng)而言,空間中的應用環(huán)境非??量?,輻射和粒子沖擊造成的影響絕不僅只在SRAM上,對FPGA,DSP等芯片同樣也會帶來各種復雜的影響,要消除這些影響,確保計算機系統(tǒng)可靠的工作,還需要廣大科技工作者進行大量的工作。
評論