一種低成本高效測試方法――合成測試系統(tǒng)

傳統(tǒng)測試系統(tǒng)通常將一些臺式儀器或特定儀器模塊組裝在機架上，構(gòu)成“機架堆疊”式測試系統(tǒng)，這種測試系統(tǒng)的局限性在于它們一般用來對一個元件、一個模塊或一個子系統(tǒng)進行測試，而沒有足夠的能力支持對大范圍的產(chǎn)品進行測試，最多只能對一個相近系列的產(chǎn)品進行測試。隨著產(chǎn)品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測試系統(tǒng)變得越來越不經(jīng)濟。為了降低產(chǎn)品的測試成本，測試系統(tǒng)現(xiàn)在必須能夠測試多種產(chǎn)品，以確保每種產(chǎn)品都能有一個合理的投資回報(ROI)。本文從解決靈活性、可伸縮和高效測試等問題入手，介紹既能經(jīng)濟地滿足今天的要求，又能保護未來投資的合成測試系統(tǒng)方法。

今天的測試與測量提供商面臨著與日俱增的壓力，它們需要為客戶提供成本更為經(jīng)濟，而且能支持迅速加快的產(chǎn)品周期的解決方案。產(chǎn)生這些壓力的部分原因是：

1. 產(chǎn)品的總體生命周期和生產(chǎn)成本持續(xù)下降，而測試成本卻往往不能同步降低。

2. 制造商不斷追求更高的生產(chǎn)能力。

3. 產(chǎn)品復(fù)雜性的提高、技術(shù)和產(chǎn)品集成度的快速進步不斷對生產(chǎn)測試設(shè)備提出更高要求。產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中也經(jīng)歷比以往更多的改進，這也相應(yīng)推動測試系統(tǒng)在生產(chǎn)周期中進行改進。

4. 在產(chǎn)品生命周期較長的情況下，測試設(shè)備的老化過時問題嚴(yán)重。

5. 產(chǎn)品性能的提高推動了對執(zhí)行速度更快、并能在運行過程中工作的質(zhì)量更高的系統(tǒng)級校準(zhǔn)和自測試的需求。

傳統(tǒng)測試系統(tǒng)提供商通常將一些臺式儀器或特定儀器模塊組裝在機架上，并用相應(yīng)的電纜和連接器將它們與被測產(chǎn)品連接起來。然后再增加軟件，對這些儀器的內(nèi)嵌功能進行調(diào)用。這種方法被稱為“機架堆疊”(rack-and-stack)式測試系統(tǒng)開發(fā)方式。表1列舉了一些傳統(tǒng)儀器的例子，圖1給出了一個簡單的機架堆疊式射頻(RF)測試系統(tǒng)。

臺式儀器是為在實驗室環(huán)境下使用而設(shè)計的，它們可以獨立進行測試，但供應(yīng)商也提供有機架安裝套件，方便將儀器集成到測試系統(tǒng)中使用。儀器模塊包含了與臺式儀器相同的核心硬件，但不包用戶接口、供電或其它輔助硬件部分。儀器模塊插入一塊背板之中，依靠一臺遠程計算機來提供用戶界面和控制功能。迄今為止，采用這些部件的傳統(tǒng)測試系統(tǒng)還是最為普遍的，但它們在解決測試和測量行業(yè)目前面臨的挑戰(zhàn)時遇到很大困難。

這些機架堆疊式解決方案常常受到其設(shè)計的限制。它們一般用來對一個元件、一個模塊或一個子系統(tǒng)進行測試，而沒有足夠的能力支持對大范圍的產(chǎn)品進行測試，最多只能對一個相近系列的產(chǎn)品進行測試。隨著產(chǎn)品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測試系統(tǒng)變得越來越不經(jīng)濟。為了降低產(chǎn)品的測試成本，測試系統(tǒng)現(xiàn)在必須能夠測試多種產(chǎn)品，以確保每種產(chǎn)品都能有一個合理的投資回報(ROI)。

許多基于臺式儀器的系統(tǒng)使用通用儀器總線(GPIB/IEEE-488)等低速通信總線，這大大限制了它們的測試吞吐率。不過，這還只是問題的一部分。由于系統(tǒng)集成商通常只能使用生產(chǎn)時構(gòu)建在各儀器內(nèi)部的功能和測試算法，這也帶來了一個很大的問題。在許多場合下，為測試而進行的產(chǎn)品配置僅僅允許優(yōu)化測試算法以提高速度和性能，但對于傳統(tǒng)儀器，系統(tǒng)集成商根本無法接觸到這個層面。

在許多情況下，產(chǎn)品中的信號波形或數(shù)據(jù)協(xié)議將隨時間發(fā)生變化，這可能導(dǎo)致需要改變測試系統(tǒng)中的一臺甚至所有儀器。圖1所示的傳統(tǒng)射頻測試系統(tǒng)就體現(xiàn)了這一點。如果原來的產(chǎn)品或被測單元(UUT)工作頻率在3GHz以下，測試系統(tǒng)集成商通常將選擇覆蓋這一頻率范圍的頻譜分析儀、合成器、信號發(fā)生器或矢量信號分析儀，以降低初始采購成本，在測試系統(tǒng)競標(biāo)中尤其如此。如果下一代產(chǎn)品的工作頻率改到了6GHz范圍或更高，就需要對只能覆蓋3GHz頻率范圍的所有儀器進行重新購置和集成，盡管它們的處理能力和瞬時帶寬或許仍然足夠應(yīng)付升級產(chǎn)品的測試工作。這導(dǎo)致了巨大的一次性成本，并使針對特定單一產(chǎn)品的測試系統(tǒng)泛濫成災(zāi)。

所有這些問題都影響了軍事、航天和商業(yè)領(lǐng)域的測試系統(tǒng)應(yīng)用，但儀器老化過時問題給軍事應(yīng)用帶來的挑戰(zhàn)最為嚴(yán)重。因為軍用設(shè)備的工作年限很長，軍用測試系統(tǒng)的使用期限常常在20年以上。系統(tǒng)老化過時的原因大多是由于測試軟件是圍繞儀器特定的硬件能力而編寫的，而且軟件驅(qū)動程序相對特殊，使得改進提高還不如徹底地重新設(shè)計。替換老化過時設(shè)備時也可能遇到?jīng)]有功能等效設(shè)備的情況。有時候，系統(tǒng)集成商必須用幾臺儀器來替換一臺儀器以取得等價功能，而傳統(tǒng)架構(gòu)的測試軟件也使這項工作變得更加困難。

最后，就一個測試系統(tǒng)的總體成本而言，系統(tǒng)校準(zhǔn)和自測試正變得越來越重要。機架堆疊式方法中所用的儀器主要是為單獨工作和校準(zhǔn)而設(shè)計的。在許多情況下，當(dāng)這些儀器被集成到一個系統(tǒng)中時，校準(zhǔn)和功能測試便變得難于執(zhí)行，有時甚至無法執(zhí)行。今天，產(chǎn)品的性能水平已要求在集成系統(tǒng)一級運行校準(zhǔn)程序。為了盡可能地滿足測試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)4:1或10:1性能要求，這種方法是必需的。

作為一個行業(yè)，測試和測量供應(yīng)商面臨著提供能夠解決這些問題的靈活、可伸縮和高效測試解決方案的挑戰(zhàn)。這個挑戰(zhàn)實際上也就是開發(fā)出一種既能經(jīng)濟地滿足今天的要求，又能保護未來投資的方法。

合成測試直面挑戰(zhàn)

今天，測試行業(yè)中有進取心的公司正努力迎接挑戰(zhàn)，合成儀器已成為許多公司的選擇方案。通過將軟件算法和基于核心儀器電路組成模塊的硬件相結(jié)合，合成儀器“合成”了傳統(tǒng)儀器中的激勵和測量功能。合成儀器的概念來源于當(dāng)前設(shè)計和使用的軟件無線電、移動電話和其它通信系統(tǒng)背后的一些廣為接受的技術(shù)與技巧。為了更好地描述和定義合成儀器的概念，對軟件無線電(SDR)作一個概略的介紹將會有所幫助。