EMC測(cè)試與連接器、電纜方法
EMC測(cè)試從連接器電纜開(kāi)始,EMC測(cè)試是衡量電子產(chǎn)品EMC性能優(yōu)劣的首要依據(jù),各種標(biāo)準(zhǔn)不但規(guī)定了各類(lèi)電子產(chǎn)品的測(cè)試等級(jí),而且還規(guī)定了測(cè)試方法和手段。因此,EMC設(shè)計(jì)及FMC問(wèn)題的分析必須建立在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的EMC測(cè)試基礎(chǔ)上。表1和表2是一無(wú)線(xiàn)基站產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于無(wú)線(xiàn)基站設(shè)備EMC測(cè)試項(xiàng)目要求表,其中表1為騷擾測(cè)試項(xiàng)目表,表2為抗擾度測(cè)試項(xiàng)目表,這是作者在寫(xiě)作過(guò)程中,隨意從現(xiàn)有的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中挑選出現(xiàn)的.
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/194183.htm表1 騷擾測(cè)試項(xiàng)目
表2 抗擾度測(cè)試項(xiàng)目
從上表可以看出,EMC測(cè)試的直接對(duì)象是電纜及其電纜直接相連的端口,對(duì)于騷擾測(cè)試來(lái)說(shuō)電子產(chǎn)品的騷擾是從電纜傳導(dǎo)出來(lái)的,或是從電纜輻射出來(lái)的,即使是輻射發(fā)射測(cè)試,往往大部分的問(wèn)題出現(xiàn)在產(chǎn)品的電纜或互連線(xiàn)上。對(duì)于抗擾度測(cè)試,干擾也是主要從電纜注入的,即使是ESD測(cè)試和輻射抗擾度測(cè)試,其主要的問(wèn)題通常還是性為電纜在測(cè)試中成為了接收天線(xiàn)而接收了輻射干擾并通過(guò)電纜和接口引人設(shè)各內(nèi)部。設(shè)想一下一個(gè)沒(méi)有任何電纜(包括沒(méi)有電源線(xiàn))的產(chǎn)品其對(duì)EMC的要求也會(huì)大大降低。在實(shí)際中也會(huì)經(jīng)常發(fā)現(xiàn),當(dāng)將設(shè)備上的外拖電纜取下來(lái)時(shí),設(shè)各就可以丿頁(yè)利通過(guò)試驗(yàn),在現(xiàn)場(chǎng)中遇到電磁干擾現(xiàn)象時(shí),只要將電纜拔下來(lái),故障現(xiàn)象就會(huì)消失。這是因?yàn)殡娎|不但是一根高效的接收和輻射天線(xiàn),而且也是干擾與騷擾進(jìn)出的通道。另外,電纜中的導(dǎo)線(xiàn)平行傳輸?shù)木嚯x最長(zhǎng),因此導(dǎo)線(xiàn)之間存在較大的分部寄生電容和寄生互感,這會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)線(xiàn)之間發(fā)生信號(hào)的串?dāng)_。
從第1章關(guān)于EMC測(cè)試技術(shù)的描述可以看出,對(duì)于EFT/B測(cè)試和傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試來(lái)說(shuō),干擾總是以共模的方式注入到產(chǎn)品各種電纜端口上的;對(duì)于ESD測(cè)試和輻射抗擾度測(cè)試,當(dāng)測(cè)試進(jìn)行時(shí),電纜無(wú)時(shí)無(wú)刻地都在以共模的形式接收著電磁場(chǎng)的干擾(當(dāng)然差模的干擾也不能被忽略,如環(huán)路所引起的干擾);對(duì)于傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾測(cè)試,其主要問(wèn)題及問(wèn)題處理的難點(diǎn)也在于共模問(wèn)題。共模問(wèn)題往往錯(cuò)綜復(fù)雜,干擾傳遞路徑不明確,而差模干擾問(wèn)題相比之下顯得相對(duì)單一。
隨著當(dāng)今電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)及多層板電路設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展,其時(shí)鐘頻率通常在幾十MHz或幾百M(fèi)Hz,甚至更高,所用信號(hào)脈沖的前后沿在亞ns范圍。信號(hào)接口傳輸數(shù)據(jù)速率為也通常在幾十Mbit/s或幾百M(fèi)bit/s。例如,高質(zhì)量視頻電路也以亞ns級(jí)的像素速率傳輸信號(hào)。電路上振蕩速率(上升/下降時(shí)間的dV/dt)變得更快,電壓/電流的幅度變得更大。在這樣情況下,那些本來(lái)可以忽略的寄生電容C中將流過(guò)更大的寄生電流r=CdY/dt,這些寄生電流大多數(shù)是EMC問(wèn)題中的共模電流,這使得共模問(wèn)題將顯得更為嚴(yán)峻。例如,盡管在電路設(shè)計(jì)時(shí),為了不產(chǎn)生或引入不希望的干擾,總會(huì)將信號(hào)的環(huán)路設(shè)計(jì)得最小并做工些必要的差模濾波,但是經(jīng)容性耦合的噪聲干擾總是無(wú)時(shí)無(wú)刻地發(fā)生著,-旦在輸入/輸出(I /O)連接器和機(jī)殼或地平面之間接人電纜,某些RF電壓就會(huì)出現(xiàn)在電纜上,導(dǎo)致幾十μA的RF電流就足以超過(guò)允許的發(fā)射電平;或某些干擾(如EFT/B、ESD干擾)就會(huì)被引入到電路內(nèi),幾V瞬態(tài)電壓就足以使電路工作不正常。
可見(jiàn)電纜和接口是EMC測(cè)試中干擾與被測(cè)設(shè)備最早發(fā)生關(guān)系的部分,也是導(dǎo)致電磁兼容問(wèn)題的最直接的因素;共模問(wèn)題是EMC測(cè)試中最關(guān)注的問(wèn)題。
評(píng)論