睡覺晶體和DLD的關(guān)系
H.晶體DLD的γ比值
當(dāng)我們隨機(jī)抽測晶體時,我們是否可測試到晶體目前的狀態(tài)是怎樣的?是“睡眠”,是“蘇醒”,還是“半睡,半醒”呢?又或者,有沒有某些測試方法可更有效,可靠地檢測睡覺晶體? 要回答這些問題實(shí)在不容易
以求解決問題,一些晶體工程師嘗試設(shè)計(jì)了一個方法:測試晶體于不同的激勵電平的電阻之比例,而非電阻變化的絕對值。
這種測量的方法是比較晶體的電阻比例和晶體的頻率比例,關(guān)系是:
γ12 = (第一次測試的等值串聯(lián)電阻/第二次測試的等值串聯(lián)電阻)令設(shè)定限度
γ13 = (第一次測試的等值串聯(lián)電阻/第三次測試的等值串聯(lián)電阻)令設(shè)定限度
(第一次測試的Fr一第二次測試的Fr ) 設(shè)定限度
(第一次測試的Fr一第三次測試的Fr ) 設(shè)定限度
亦有一些工程師修改了上述的方法,采用了在最大、最小激勵電平之間,多個測試點(diǎn)的晶體電阻和頻率的變化比。
詳情請參看國際電工委員會IEC 444-6號文件。
這類方法至今仍在晶體行業(yè)中試用,研究及討論,但至今仍米有定論到底那一種規(guī)格/方法是最終以及最好。
更復(fù)雜的是軍)Il及民)Il晶體對品質(zhì)及成本的要求都不一樣,較難厘定統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。
KH1200兀網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)可以提供一個比較方便的)Il戶界面,給晶體工程師提供研究這些方法的手段。
I.“睡覺”晶體的定義——“睡覺”和DLD的關(guān)系
民用晶體的頻率和電阻隨激勵的變化而變化是避免不了的。有些比較小,比如小于1歐姆;有些變化則較大,比如:幾百、幾千歐姆,甚至乎在專用的晶體測量儀器上都不振蕩或是不穩(wěn)定“Unstable。
究竟不好DLD的晶體會否“睡覺”呢?又或DLD有多差勁才會“睡覺”呢?還是,其它……?
粗略而言,“睡覺”晶體可定義為晶體有不重復(fù)的DLD特性而又在應(yīng)用的振蕩線路內(nèi)不能工作于:
振蕩線路正常工作時的激勵電平,或低于正常工作的激勵電平五至十倍的電平。
這個定義,在原理上是對的,但較依賴每一應(yīng)用線路,故較難令所有晶體用戶明自。
遺憾的是在晶體行業(yè),仍未有對睡覺晶體一個清楚的定義。作為晶體測量儀器的制造商,科研公司將盡力提供好的儀器助您分析問題。KH-1200兀網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)釗一對DLD問題采111了最好測量算法,以助這類問題的解決。
J.晶體的測量
基于上述對晶體DLD的不可重復(fù)特性的分析討論,在測試晶體時,應(yīng)注意以下的問題:
a. DLD的測試:
為了消除測量儀器誤差帶來的影響:
不要測試DLD-dFL>或DLD-dRL…等等。
晶體低于100 MHz時,測試DLD-d
Fr,和DLD-dRr,和
晶體高于100 MHz或以上時,測試DLD-dFs,和DLD-dRs
b. 復(fù)測以檢驗(yàn)測試結(jié)果(包括所有其它參數(shù)):
當(dāng)重新再次測量晶體的結(jié)果來復(fù)檢,請留意晶體在第一次測試時,可能己被激活。最好將晶體放幾天再重新測試。
C 不良品分析:
當(dāng)進(jìn)行不良品分析時,應(yīng)注意“老化率”差的晶體其參數(shù)也會隨時間的變化而變化。但是,“老化率”不好的晶體,是不會有被外界作用而激活的現(xiàn)象。有些晶體可能不好的原因可能有兩種情況:一是老化性能差;一是晶體DLD性能差。
d. Fs穩(wěn)定”,F(xiàn)L不穩(wěn)定”的晶體:
有些晶體當(dāng)測試FL時,Unstable,但是,當(dāng)測試Fs或Fr時,有能夠穩(wěn)定振蕩。這類情況大都是晶體的DLD問題。當(dāng)遇到這類問題,可用KH1200的DLD圖形掃描功能,便可得到這類晶體的DLD特性(注意以上的b點(diǎn))。本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/195277.htm
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