NI高速數(shù)字ATE和激勵(lì)響應(yīng)特性

1. 數(shù)字ATE特性

測(cè)試工程師能夠從具備多種應(yīng)用特性的不同數(shù)字I/O儀器中選擇合適的設(shè)備進(jìn)行通信與測(cè)試。數(shù)字測(cè)試設(shè)備的核心特性是能夠生成硬件定時(shí)以及/或?qū)崿F(xiàn)預(yù)定義數(shù)字測(cè)試模式的采集，這些模式通常存儲(chǔ)在設(shè)備所包含的存儲(chǔ)器中。數(shù)字儀器已經(jīng)超越了驅(qū)動(dòng)1和0等數(shù)字模式功能，它通常支持包含部分或所有表1所列出的邏輯狀態(tài)的波形。

如表1所示，六種邏輯狀態(tài)控制電壓驅(qū)動(dòng)器和數(shù)字測(cè)試儀的比較引擎（如果可以被支持）。這些狀態(tài)指定測(cè)試儀在特定的通道中驅(qū)動(dòng)哪些激勵(lì)數(shù)據(jù)以及被測(cè)設(shè)備的期望響應(yīng)。當(dāng)這些狀態(tài)出現(xiàn)在數(shù)字測(cè)試儀器中時(shí)，它們能夠完成雙向通信以及采集響應(yīng)數(shù)據(jù)的直接比較。

NI 655x數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀支持表1中所示的全部6種邏輯狀態(tài)。以下章節(jié)解釋了這些特性的硬件實(shí)現(xiàn)，提供了每周期雙向控制和實(shí)時(shí)硬件比較的更為詳細(xì)的分析。

2. 每周期雙向控制

通信方向控制功能是為被測(cè)設(shè)備選擇數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的十分關(guān)鍵的特性。最基本的數(shù)字I/O儀器包含簡(jiǎn)單的單向控制，這意味著一個(gè)通道不是將數(shù)據(jù)傳送到管腳上就是進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。更為復(fù)雜的設(shè)備可以被配置為將激勵(lì)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)到管腳上，或是從該管腳采集數(shù)據(jù)，但無(wú)法在同一操作中完成。兩個(gè)基本的邏輯狀態(tài)，1代表驅(qū)動(dòng)邏輯高，0代表驅(qū)動(dòng)邏輯低，能夠控制這些設(shè)備所有的發(fā)生操作。它們無(wú)法在同一個(gè)操作中支持雙向功能。這些設(shè)備的典型應(yīng)用包括基本模式I/O、握手和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄。

更為復(fù)雜的數(shù)字測(cè)試儀允許在同一個(gè)數(shù)字操作中完成雙向功能，這意味著儀器能夠在連續(xù)的時(shí)鐘周期內(nèi)，在發(fā)生數(shù)據(jù)和采集數(shù)據(jù)之間進(jìn)行切換。為了支持雙向控制，由于激勵(lì)通道必須還能夠禁用電壓驅(qū)動(dòng)器，因此需要超過(guò)兩種基本邏輯狀態(tài)。第三種狀態(tài)稱(chēng)為三態(tài)，或者也通常被稱(chēng)為高Z狀態(tài)或是高阻狀態(tài)。三態(tài)提供了在一個(gè)設(shè)備正在驅(qū)動(dòng)一個(gè)通道時(shí)，確保不會(huì)有多個(gè)設(shè)備同時(shí)驅(qū)動(dòng)這個(gè)通道的控制能力，否則可能會(huì)導(dǎo)致接收到錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。三態(tài)對(duì)于I2C通信、IC測(cè)試、比特錯(cuò)誤率測(cè)試（BERT）和通用數(shù)字激勵(lì)/響應(yīng)測(cè)試等雙向應(yīng)用而言是必須的。

NI 655x支持每通道、每周期三態(tài)，或者也稱(chēng)為高阻抗和“Z”狀態(tài)。圖1顯示了單一三態(tài)通道是如何在NI 655x數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀的FPGA實(shí)現(xiàn)的。在圖中，發(fā)生邏輯顯示在數(shù)字測(cè)試儀的上半部分，采集電路在下半部分顯示。

圖1：?jiǎn)我籒I 655X數(shù)字通道的方塊圖

典型的雙向設(shè)備測(cè)試，例如存儲(chǔ)器存儲(chǔ)器芯片等，首先需要將激勵(lì)數(shù)據(jù)或測(cè)試模式下載到數(shù)字測(cè)試儀的板載存儲(chǔ)器中。然后，激勵(lì)數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)解碼，決定是否需要激活通道電壓驅(qū)動(dòng)，如果需要激活，那么應(yīng)該激活哪些數(shù)據(jù)的驅(qū)動(dòng)。在NI 655x設(shè)備中，采集電路比較器直接連接到數(shù)字測(cè)試儀電壓驅(qū)動(dòng)器的輸出上。這意味著來(lái)自數(shù)字測(cè)試儀和被測(cè)設(shè)備的激勵(lì)數(shù)據(jù)可以用NI 655x進(jìn)行采集。由于比較器無(wú)法分辨是被測(cè)設(shè)備還是數(shù)據(jù)測(cè)試儀（或者兩者都是）將數(shù)據(jù)傳送到通道中，所以您必須在讀操作中將數(shù)字測(cè)試儀的電壓驅(qū)動(dòng)器設(shè)置為三態(tài)，防止數(shù)據(jù)同時(shí)從被測(cè)設(shè)備和數(shù)字測(cè)試儀的電壓驅(qū)動(dòng)器傳送到通道中。

在完成信號(hào)采集之后，數(shù)據(jù)解碼電路判斷采集信號(hào)是邏輯低還是邏輯高，并將結(jié)果存儲(chǔ)在板載存儲(chǔ)器中。采集得到的響應(yīng)數(shù)據(jù)最終被寫(xiě)入PC中，進(jìn)行分析和記錄。下一章節(jié)將這個(gè)方塊圖進(jìn)行進(jìn)一步擴(kuò)展，引入了NI 655x設(shè)備能夠?qū)Σ杉憫?yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行直接比較的特性。

3. 實(shí)時(shí)硬件比較

另一個(gè)數(shù)字測(cè)試儀器的重要功能是驗(yàn)證被測(cè)設(shè)備在不同用戶(hù)使用情形和激勵(lì)數(shù)據(jù)的情況下，都能夠返回正確響應(yīng)數(shù)據(jù)的能力。為了實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)，主要有兩種將采集的響應(yīng)數(shù)據(jù)與預(yù)期數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的方法。第一種方法是采集實(shí)際響應(yīng)數(shù)據(jù)，并使用軟件解釋結(jié)果。應(yīng)用程序只需要兩種基本邏輯狀態(tài)來(lái)配置測(cè)試儀的激勵(lì)數(shù)據(jù)。另一種方法是將激勵(lì)數(shù)據(jù)和預(yù)期響應(yīng)數(shù)據(jù)預(yù)先載入硬件中，確保在采集數(shù)據(jù)的同時(shí)進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)比較。過(guò)去，第二種方法只適用于高價(jià)的數(shù)字測(cè)試儀，現(xiàn)在強(qiáng)大低價(jià)的FPGA技術(shù)通過(guò)使用表1列出的三種比較狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)硬件比較，極大地?cái)U(kuò)大了這種功能的用戶(hù)群體。只要波形包含比較狀態(tài)，采集的響應(yīng)數(shù)據(jù)就能夠與預(yù)測(cè)響應(yīng)進(jìn)行比較。

圖2顯示了帶有硬件比較電路和之前討論過(guò)的每通道三態(tài)特性的NI 655X通道的完整方塊圖。

圖2：帶有硬件比較電路的NI 655X數(shù)字通道的方塊圖

FPGA的數(shù)據(jù)比較邏輯將發(fā)生電路與采集電路結(jié)合在一起。數(shù)據(jù)解碼器從板載存儲(chǔ)器接收數(shù)據(jù)，根據(jù)每個(gè)采樣的邏輯狀態(tài)啟用或禁用驅(qū)動(dòng)器。解碼器將預(yù)期響應(yīng)傳送到FIFO存儲(chǔ)器中，在響應(yīng)數(shù)據(jù)開(kāi)始采集的時(shí)候，將預(yù)期數(shù)據(jù)傳送到數(shù)據(jù)比較邏輯中。如果在比較的過(guò)程中檢測(cè)到了錯(cuò)誤，出錯(cuò)信息將與采集數(shù)據(jù)分開(kāi)存儲(chǔ)，確保這些數(shù)據(jù)可以使用應(yīng)用軟件進(jìn)行訪問(wèn)，用于進(jìn)一步的分析。

FPGA為每個(gè)檢測(cè)到的錯(cuò)誤存儲(chǔ)以下信息：

• 錯(cuò)誤采樣數(shù)
• 出錯(cuò)通道
• 錯(cuò)誤總數(shù)

4. 常見(jiàn)數(shù)字測(cè)試應(yīng)用

本小節(jié)解釋了如何實(shí)現(xiàn)之前章節(jié)所討論的用于通用數(shù)字測(cè)試應(yīng)用的數(shù)字ATE特性，例如功能測(cè)試和特征提取。

功能測(cè)試

對(duì)于許多行業(yè)而言，最重要的測(cè)試之一是元件功能測(cè)試，例如定制ASIC和商業(yè)A/D轉(zhuǎn)換器。需要擴(kuò)展功能測(cè)試的常見(jiàn)雙向設(shè)備是存儲(chǔ)器芯片。圖3顯示了一個(gè)典型的SRAM集成電路（IC）及其管腳輸出。

如前所述，典型的存儲(chǔ)器集成電路包含三條地址線、八條數(shù)據(jù)線、一條寫(xiě)啟用（WE）線和一條讀啟用（OE）線。表2顯示了一組可以用于測(cè)試這塊SRAM芯片的數(shù)字測(cè)試模式。

在WE（寫(xiě)啟用）置為高電平時(shí)，IC芯片從數(shù)字測(cè)試儀等外置設(shè)備接收數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)寫(xiě)回由地址線指定的位置中。如果OE（讀啟用）置為高電平，集成電路從地址線所指定的位置接收數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)至數(shù)據(jù)線上。驗(yàn)證這種存儲(chǔ)器設(shè)備的最后一個(gè)步驟是通過(guò)比較預(yù)期響應(yīng)分析輸出。

下面兩個(gè)小節(jié)討論了使用NI 655x數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀，在LabVIEW中，利用軟件解決方案和硬件解決方案實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試。

軟件比較方法

在軟件比較應(yīng)用中，測(cè)試儀生成激勵(lì)數(shù)據(jù)、采集實(shí)際響應(yīng)數(shù)據(jù)，然后在存儲(chǔ)到主機(jī)PC存儲(chǔ)器之后完成響應(yīng)數(shù)據(jù)的分析。實(shí)際響應(yīng)數(shù)據(jù)分析完全是在軟件中進(jìn)行的，而不是實(shí)時(shí)完成的。下面的步驟更為詳細(xì)地描述了軟件比較。

1、如圖所示，原始測(cè)試數(shù)據(jù)是用戶(hù)輸入或通過(guò)文件讀取的。測(cè)試數(shù)據(jù)包含了激勵(lì)數(shù)據(jù)和響應(yīng)數(shù)據(jù)。

2、如圖所示，純激勵(lì)數(shù)據(jù)是從測(cè)試數(shù)據(jù)中提取的，測(cè)試數(shù)據(jù)中的1和0表示激勵(lì)數(shù)據(jù)；所有其他的字符表示沒(méi)有數(shù)據(jù)生成，因此電壓驅(qū)動(dòng)器必須被置入三態(tài)禁用。

3、激勵(lì)數(shù)據(jù)通過(guò)數(shù)字測(cè)試儀生成并送入通道中，之后采集響應(yīng)數(shù)據(jù)。發(fā)生操作和采集操作并行運(yùn)行。

4、在完成發(fā)生和采集之后，應(yīng)用程序在軟件中完成以字節(jié)為單位的比較。給出的例子是采集的響應(yīng)數(shù)據(jù)。只有當(dāng)“H”或“L”出現(xiàn)在原始測(cè)試數(shù)據(jù)中的時(shí)候，最終通過(guò)/不通過(guò)的判斷才會(huì)受到所采集的響應(yīng)數(shù)據(jù)的影響。

軟件比較要求所有數(shù)據(jù)傳送到主機(jī)計(jì)算機(jī)，進(jìn)行后處理，使之適合于低速應(yīng)用。如果所采集到的數(shù)據(jù)超出了測(cè)試儀板載內(nèi)存的大小，將所有數(shù)據(jù)傳送到主機(jī)計(jì)算機(jī)可能會(huì)超出計(jì)算機(jī)的帶寬限制。在這種情況以及其他需要更高比較速率的情形下，必須使用實(shí)時(shí)硬件比較。

NI LabVIEW是一種圖形化編程語(yǔ)言，下面用LabVIEW展示了NI 655x設(shè)備的數(shù)字軟件比較應(yīng)用的功能。下面的幾張圖片展示了如何建立獨(dú)立的發(fā)生操作和采集操作，以及如何將它們合并在一個(gè)同步功能測(cè)試應(yīng)用中。

首先，圖4顯示了如何建立發(fā)生部分的LabVIEW程序。其中的關(guān)鍵功能包括配置測(cè)試儀、讀取測(cè)試模式并開(kāi)始進(jìn)行發(fā)生。

在測(cè)試數(shù)據(jù)被載入板載發(fā)生內(nèi)存之前，在圖5中所示的原始數(shù)字測(cè)試數(shù)據(jù)被解釋為激勵(lì)數(shù)據(jù)和預(yù)期響應(yīng)數(shù)據(jù)。在數(shù)據(jù)被解釋之后，激勵(lì)數(shù)據(jù)被下載到NI 6552進(jìn)行發(fā)生。

圖5：LabVIEW的數(shù)字表

建立程序的采集部分十分相似。圖6給出了功能測(cè)試應(yīng)用所需的采集程序。

圖6：LabVIEW高速數(shù)字采集程序

盡管NI 6552支持這兩個(gè)程序同時(shí)工作，但是簡(jiǎn)單地將它們組合在一起并不是有效的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地同時(shí)運(yùn)行我們的采集程序和發(fā)生程序并不能將采集數(shù)據(jù)與預(yù)期響應(yīng)數(shù)據(jù)對(duì)齊。由于這些程序運(yùn)行在非確定性軟件中，您無(wú)法依賴(lài)程序的定時(shí)來(lái)保持一致性。此外，通過(guò)被測(cè)設(shè)備和連接被測(cè)設(shè)備電纜的傳遞延遲也必須考慮。數(shù)據(jù)從數(shù)字測(cè)試儀通過(guò)電纜和被測(cè)設(shè)備流回測(cè)試儀所需的時(shí)候稱(chēng)為全程延遲，在圖7中標(biāo)出。

圖7：使用外部連接解決全程延遲

解決全程延遲和軟件延遲的最佳方法是輸出與測(cè)試開(kāi)始對(duì)應(yīng)的邊沿信號(hào)。對(duì)于NI 655x而言，數(shù)據(jù)活動(dòng)事件提供了這個(gè)功能，并且可以輸出到外部來(lái)觸發(fā)采集的開(kāi)始，如圖8所示。注意，必須確保信號(hào)的回路與數(shù)據(jù)具有相同的全程延遲。

圖8：使用數(shù)據(jù)活動(dòng)事件觸發(fā)從發(fā)生信號(hào)進(jìn)行采集

您還可以使用數(shù)據(jù)活動(dòng)事件控制響應(yīng)數(shù)據(jù)和采樣時(shí)鐘活動(dòng)邊沿的相對(duì)延遲。舉例而言，您可以將數(shù)據(jù)活動(dòng)事件輸出到PFI 1上，并路由到PFI 2上，PFI 2可以配置為采集開(kāi)始觸發(fā)的信號(hào)源，如圖8所示。您還可以將發(fā)生采樣時(shí)鐘輸出到DDC CLK OUT，并將采集采樣時(shí)鐘設(shè)置為STROBE。

圖9顯示了配置和外部路由數(shù)據(jù)活動(dòng)事件和采樣時(shí)鐘的LabVIEW程序。標(biāo)有箭頭的函數(shù)可以完成所需的額外配置。

如圖10所示，采集操作必須在發(fā)生操作之前開(kāi)始，以便確保采集操作在發(fā)生操作開(kāi)始之前，做好接收開(kāi)始觸發(fā)的準(zhǔn)備。最后可選的步驟是分析采集到的數(shù)據(jù)，您可以用來(lái)得到一個(gè)是否通過(guò)的簡(jiǎn)單結(jié)果。無(wú)需將采集的響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行詳細(xì)軟件分析，下面的小節(jié)會(huì)討論如何使用實(shí)時(shí)硬件比較特性，實(shí)現(xiàn)比軟件更高效地完成分析。

實(shí)時(shí)硬件比較方法

利用板載FPGA完成采集響應(yīng)數(shù)據(jù)與預(yù)期數(shù)據(jù)的比較，能夠大大提高速度和激勵(lì)響應(yīng)程序的可靠性。要開(kāi)發(fā)使用硬件進(jìn)行響應(yīng)數(shù)據(jù)比較的程序，只需要對(duì)之前描述的LabVIEW軟件比較程序進(jìn)行少量的改動(dòng)。

1、在發(fā)生環(huán)節(jié)和采集環(huán)節(jié)的配置階段中，使用niHSDIO屬性節(jié)點(diǎn)，啟用NI 655x的硬件比較部分，如圖11所示。

2、在打開(kāi)硬件比較之后，波形中的六個(gè)邏輯狀態(tài)開(kāi)始控制NI 655x操作，而免去使用任何解釋函數(shù)和分析函數(shù)。請(qǐng)參閱表1獲得關(guān)于六個(gè)邏輯狀態(tài)的更多信息。

3、對(duì)于需要更為復(fù)雜的出錯(cuò)分析的應(yīng)用，獲取函數(shù)可以采集出錯(cuò)數(shù)據(jù)和錯(cuò)誤附近的采樣點(diǎn)。對(duì)于錯(cuò)誤的每個(gè)采樣，您都可以得到以下信息：

• 包含錯(cuò)誤的采樣點(diǎn)
• 錯(cuò)誤采樣點(diǎn)中出錯(cuò)的比特
• 被測(cè)設(shè)備的預(yù)期響應(yīng)

結(jié)合硬件比較中的采樣錯(cuò)誤緩存屬性的屬性節(jié)點(diǎn)，您可以直接從NI 655x FPGA獲得總錯(cuò)誤數(shù)。圖12顯示了硬件比較實(shí)例，采樣錯(cuò)誤緩存屬性用于獲取錯(cuò)誤以及在錯(cuò)誤發(fā)生前后的五個(gè)采樣的響應(yīng)數(shù)據(jù)。通過(guò)獲取這些信息，您可以完成更為詳細(xì)的錯(cuò)誤分析。

所有數(shù)據(jù)比較都是以采樣為單位在硬件中完成的，這大大減少了在軟件中分析數(shù)據(jù)所花費(fèi)的時(shí)間。使用硬件比較方法，NI 655x可以方便地編程實(shí)現(xiàn)高性能功能測(cè)試和其他激勵(lì)響應(yīng)的應(yīng)用。

需要這個(gè)硬件比較的完整實(shí)例，請(qǐng)參考在線NI開(kāi)發(fā)者園地（ni.com/zone）中的“高速數(shù)字實(shí)時(shí)硬件比較”實(shí)例。

特征提取

可以通過(guò)將之前所討論的功能測(cè)試實(shí)例進(jìn)行擴(kuò)展，來(lái)完成被測(cè)設(shè)備的特征提取。舉例而言，要得到被測(cè)設(shè)備的最大時(shí)鐘速率，應(yīng)用程序必須修改為從較低的頻率開(kāi)始，對(duì)一定范圍的采樣時(shí)鐘速率進(jìn)行掃描。特征提取測(cè)試使用之前功能測(cè)試所討論的方法，返回通過(guò)/不通過(guò)的結(jié)果；但是，如果測(cè)試通過(guò)，就會(huì)提高采樣時(shí)鐘速率，并重新運(yùn)行測(cè)試。這些步驟被不斷重復(fù)直至被測(cè)設(shè)備無(wú)法通過(guò)測(cè)試。通過(guò)測(cè)試的最高頻率就被解釋為被測(cè)設(shè)備的最大工作頻率。

為實(shí)現(xiàn)這種類(lèi)型的特征提取，需要為程序增加一個(gè)循環(huán)，以便調(diào)節(jié)所需的測(cè)試參數(shù)，實(shí)現(xiàn)重復(fù)測(cè)試。NI-HSDIO并不需要在每次循環(huán)中都重新配置數(shù)字測(cè)試儀的所有設(shè)置，因此測(cè)試之間的重新配置時(shí)間可以盡量縮短。圖13給出這個(gè)代碼修改的實(shí)例。

圖13：增加循環(huán)修改參數(shù)，完成特征提取

5. 擴(kuò)展性

由于數(shù)字電子設(shè)備變得越來(lái)越高級(jí)，其組件可能包含只有幾個(gè)管腳的串行設(shè)備，也可能包含具有數(shù)百個(gè)管腳的復(fù)雜集成電路。為了測(cè)試這些設(shè)備，數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)必須擴(kuò)展其通道數(shù)。使用NI-TClk（觸發(fā)時(shí)鐘）同步技術(shù)，多個(gè)NI 655x模塊可以方便地在同一個(gè)系統(tǒng)中以亞納秒級(jí)別進(jìn)行同步，測(cè)試高通道數(shù)設(shè)備。舉例而言，如果系統(tǒng)需要40個(gè)通道，下列程序解釋了對(duì)多個(gè)設(shè)備進(jìn)行同步所需的附加函數(shù)。

每個(gè)模塊仍然需要使用自己的一套函數(shù)進(jìn)行配置和控制；但是，添加一個(gè)簡(jiǎn)單的For循環(huán)可以大大減少所需的編程任務(wù)。圖14給出了使用For循環(huán)和儀器名稱(chēng)數(shù)組將發(fā)生程序擴(kuò)展為多模塊的實(shí)例。在內(nèi)循環(huán)中完成所有設(shè)備的配置之后，如圖15所示，只需要三個(gè)用于配置NI-TClk同步的附加VI。

您還可以使用NI-TClk編寫(xiě)程序，使多個(gè)模塊對(duì)同步的外部觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行響應(yīng)。要獲取關(guān)于NI-TClk技術(shù)的更多信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)ni.com/info并輸入信息代碼rdtctf，參考《用于模塊化儀器定時(shí)與同步的NI T時(shí)鐘技術(shù)》技術(shù)白皮書(shū)。

在使用NI-TClk同步多個(gè)模塊完成硬件比較之后，如果在一個(gè)NI 655x設(shè)備上檢測(cè)到錯(cuò)誤，那么只有那個(gè)設(shè)備存儲(chǔ)關(guān)于錯(cuò)誤的信息。系統(tǒng)中的其他NI 655x設(shè)備就好像采樣通過(guò)那樣繼續(xù)工作。由于每個(gè)設(shè)備只是記錄其自身的錯(cuò)誤，您無(wú)需擔(dān)心同一個(gè)錯(cuò)誤被計(jì)算多次；但是，您需要對(duì)所有模塊的信息進(jìn)行后期處理，以便在需要采樣器錯(cuò)誤率的時(shí)候建立完整的列表。

6. 結(jié)論

在增加每周期雙向控制和實(shí)時(shí)硬件比較之后，相對(duì)任何其他基于PC的設(shè)備而言，NI 655x數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀提供了更為豐富的數(shù)字測(cè)試應(yīng)用解決方案。全新的解決方案涵蓋了存儲(chǔ)器芯片的功能測(cè)試、快速特征提取應(yīng)用以及BERT（比特錯(cuò)誤率測(cè)試）。PXI平臺(tái)的可擴(kuò)展性和軟件的靈活性進(jìn)一步改進(jìn)了數(shù)字測(cè)試儀器的靈活性和功能。