談談UP TRIG 和DOWN TRIG

沿檢測在PLC中用的非常多,PLC是循環(huán)掃描的,可以看做是LABVIEW的一個WHILE循環(huán),在PLC中是這樣定義的.

DF：當檢測到輸入觸發(fā)信號的上升沿時，僅將觸點閉合一個掃描周期。
DFI：當檢測到輸入觸發(fā)信號的下降沿時，僅將觸點閉合一個掃描周期。
程序示例

示例說明
在檢測到 X0的上升沿（OFF→ON）時，Y0僅為 ON一個掃描周期。
在檢測到 X1的下降沿（ON→OFF）時，Y1僅為 ON一個掃描周期。

描述
當觸發(fā)信號狀態(tài)從 OFF 狀態(tài)到 ON狀態(tài)變化時，DF 指令才執(zhí)行并且輸出僅接通一個掃描周期。
當觸發(fā)信號狀態(tài)從 ON狀態(tài)到 OFF 狀態(tài)變化時，DFI 指令才執(zhí)行并且輸出僅接通一個掃描周期。
若執(zhí)行條件最初即為閉合，則 PLC接通電源，則不會產生輸出。

在LV編程中經常也會遇到類似的問題.

比如統(tǒng)計按鈕按下的次數,不采用事件結構而是采用POLLING方式,在C語言中是這樣編程的.

boolcount(bool button) /* UpTrig */

{

static int counter=0;

static bool button_Old=FALSE;

if(Button && !Button_Old)counter++; /*OLD=FALSE,NEW=TRUE -->UP TRIG */

button_Old=button /*Update Old Status ,相當于LV的shift Register */

return(Button &&!Button_Old);

}

如果不是沿檢測,如if(Button) counter++; 如果按鈕一直處于按下狀態(tài),將導致COUNTER不斷增加,這顯然不是我們希望的結果.

再比如一個狀態(tài)機結構,可以分成N個狀態(tài),在每一個狀態(tài)中又可以分解成三個子狀態(tài),進入準備(初始化),運行,退出(清理),顯然進入準備和退出清理必須是在條件發(fā)生變化的時候執(zhí)行一次,這就需要沿的操作.

LABVIEW本身就提供了沿判斷的VI,在逐點分析庫其它中.

它的代碼如下圖：

它可以根據選擇檢測FALSE-->TRUE(UP), TRUE-->FALSE(DOWN) 或者EITHER,(UP AND DOWN)

OpenG也提供了一個類似的ＶＩ，

這兩個ＶＩ都是利用了未初始化的SHIFT REGISTER,封裝在子ＶＩ中，這是一個非常重要的概念，稱做LV2型全局變量或者Function Global,以后會專門討論