嵌入式存儲(chǔ)器的前世今生,作為電子工程師的你知道嗎?
隨著超大規(guī)模集成電路工藝的發(fā)展,人類已經(jīng)進(jìn)入了超深亞微米時(shí)代。先進(jìn)的工藝使得人們能夠把包括處理器、存儲(chǔ)器、模擬電路、接口邏輯甚至射頻電路集成到一個(gè)大規(guī)模的芯片上,形成所謂的SoC(片上系統(tǒng))。作為SoC重要組成部分的嵌入式存儲(chǔ)器,在SoC中所占的比重(面積)將逐漸增大。下面就隨嵌入式小編一起來了解一下相關(guān)內(nèi)容吧。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201712/373359.htm近期臺(tái)積電技術(shù)長(zhǎng)孫元成在其自家技術(shù)論壇中,首次揭露臺(tái)積電研發(fā)多年的eMRAM(嵌入式磁阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ))和eRRAM(嵌入式電阻式存儲(chǔ)器)將分別訂于明后年進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)性試產(chǎn)。預(yù)計(jì)試產(chǎn)主要采用22nm工藝。這種次世代存儲(chǔ)將能夠?yàn)槲锫?lián)網(wǎng)、行動(dòng)裝置、高速運(yùn)算電腦和智能汽車等四領(lǐng)域所提供效能更快和耗電更低的存儲(chǔ)效能。臺(tái)積電此舉讓嵌入式存儲(chǔ)器再度回到人們的視線中。本文將為你闡述嵌入式存儲(chǔ)器的前世今生。
何為嵌入式存儲(chǔ)器
嵌入式存儲(chǔ)器現(xiàn)在已經(jīng)不是一個(gè)新的概念了。相對(duì)于片外存儲(chǔ)器,嵌入式存儲(chǔ)器是指集成在片內(nèi)與系統(tǒng)中各個(gè)邏輯、混合信號(hào)等IP共同組成單一芯片中的存儲(chǔ)器。現(xiàn)已經(jīng)成為SOC芯片的基本組成部分,幾乎今天每個(gè)SOC芯片中嵌入式存儲(chǔ)器都占有一定比重。
按照掉電后數(shù)據(jù)是否會(huì)丟失,可將嵌入式存儲(chǔ)器分為兩大類,一類是揮發(fā)性存儲(chǔ)器,另一類則是非揮發(fā)性存儲(chǔ)器。揮發(fā)性存儲(chǔ)器是指掉電后數(shù)據(jù)會(huì)丟失,主要包括速度快、功耗低的SRAM和高密度的DRAM。而非揮發(fā)性存儲(chǔ)器則剛好相反,其在實(shí)際應(yīng)用中主要包括eFlash、EEPROM以及eMRAM、eRRAM、ePRAM等次世代存儲(chǔ)器。
雖然都是存儲(chǔ)器,但二者還是有些許不同。嵌入式存儲(chǔ)器和分立式存儲(chǔ)器最重要的不同之處在于嵌入式存儲(chǔ)器往往跟應(yīng)用IC自身的工藝特性條件有很大關(guān)系,比如用90nm和用45nm工藝做出來的芯片,其內(nèi)部嵌入式存儲(chǔ)器大小差別也是很大的。而分立式存儲(chǔ)器件則主要圍繞存儲(chǔ)器器件工藝進(jìn)行優(yōu)化。
隨著信息技術(shù)的發(fā)展,嵌入式存儲(chǔ)器在SOC中的面積所占比重也在逐年增加,從圖一可以看出,從1999年平均的20%上升到2007年的60-70%乃至2014年的90%的面積。可以看出,嵌入式存儲(chǔ)器對(duì)于芯片系統(tǒng)性能的影響越來越大。
圖一 嵌入式存儲(chǔ)器在SOC中所占芯片面積的比重
嵌入式存儲(chǔ)器發(fā)展歷程
早在上世紀(jì)六七十年代,那時(shí)的半導(dǎo)體行業(yè)主要由IDM占據(jù),每個(gè)公司從芯片設(shè)計(jì)、制造到封裝都自己做。各家都是獨(dú)立開發(fā)自己的工藝、IP和相關(guān)芯片。
早期人們對(duì)于系統(tǒng)的要求包括集成度、速度、功耗都不高,因此分立式存儲(chǔ)器在那時(shí)占據(jù)主流位置,成為各應(yīng)用廠家的首選。
后來到了上世紀(jì)八九十年代,fabless和foundry模式開始出現(xiàn),基于設(shè)計(jì)的復(fù)雜性以及產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期兩方面考慮,開始出現(xiàn)第三方的獨(dú)立IP供應(yīng)商,如ARM公司。
隨著芯片集成度的不斷提升,反過來給分立存儲(chǔ)器帶來了兩大挑戰(zhàn):1)集成度和工藝開始允許片內(nèi)集成更多的存儲(chǔ)器;2)存儲(chǔ)器的速度發(fā)展遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于MPU的速度,MPU速度以每年60%在成長(zhǎng),而存儲(chǔ)器只有10%。二者速度之間增長(zhǎng)的差異,如圖二所示。
圖二 MPU于DRAM隨時(shí)代變遷而發(fā)展的關(guān)系圖
同時(shí)片內(nèi)存儲(chǔ)器具有靈活簡(jiǎn)單的接口、更低延遲和更寬總線,更為重要的是還能節(jié)省系統(tǒng)的空間大小,使得它日益受到集成電路設(shè)計(jì)師的青睞。在這一時(shí)期嵌入式存儲(chǔ)器主要以SRAM和DRAM兩種形式呈現(xiàn)。
到了九十年代中期,Intel做了一項(xiàng)重大創(chuàng)新,將片外高速緩沖器(Cache)集成到了片內(nèi)。這直接導(dǎo)致當(dāng)時(shí)一大批分立的片外高速緩沖存儲(chǔ)器廠商倒閉,成為嵌入式存儲(chǔ)器代替分立式存儲(chǔ)器的標(biāo)志性事件。
到了今天一顆手機(jī)處理器超過90%的面積由各種嵌入式SRAM如寄存器堆,一二級(jí)緩存甚至三級(jí)緩存組成,嵌入式SRAM也成為晶圓代工廠的工藝技術(shù)衡量指標(biāo)。由于SRAM由六個(gè)晶體管組成,而DRAM只有一個(gè)晶體管加一個(gè)電容組成,具有面積優(yōu)勢(shì),當(dāng)時(shí)很多廠商其實(shí)都在思考將DRAM嵌入到系統(tǒng)的可能性。
九十年代,當(dāng)時(shí)IBM,Toshiba等大公司都在嘗試開發(fā)嵌入式DRAM。但開發(fā)并不順利,開發(fā)的難點(diǎn)在于DRAM工藝與常規(guī)邏輯工藝差異很大,工藝的整合難度相當(dāng)大。雖然到今天,隨著工藝的進(jìn)步,使得一些公司像TSMC也在重新審視eDRAM的可行性,并有部分成果,但是主流的設(shè)計(jì)還是沒有將eDRAM納入必備選項(xiàng)。
后來隨著消費(fèi)類電子大幅成長(zhǎng),不斷擴(kuò)大的存儲(chǔ)需求刺激著嵌入式閃存(eFlash)不斷發(fā)展。從早期,設(shè)計(jì)人員將程序簡(jiǎn)單固化在ROM中,到后來的OTP,EEPROM乃至現(xiàn)在很火的高密度eFlash內(nèi)存。嵌入式內(nèi)存能夠有效存儲(chǔ)代碼和數(shù)據(jù),而且掉電后還不丟失,對(duì)很多應(yīng)用都有重要意義。
然而走到今天,現(xiàn)有存儲(chǔ)技術(shù)暴露的一些缺陷,比如SRAM、DRAM的問題在于其易失性,斷電后信息會(huì)丟失且易受電磁輻射干擾,這一缺陷極大限制了其在國(guó)防航空航天等一系列關(guān)鍵高科技領(lǐng)域的應(yīng)用。而FLASH、EEPROM的寫入速度慢,且寫入算法比較復(fù)雜,無法滿足實(shí)時(shí)處理系統(tǒng)中高速、高可靠性寫入的要求,且功耗較高,無法滿足嵌入式應(yīng)用的低功耗要求。
新型存儲(chǔ)器躍躍欲試
對(duì)于現(xiàn)有信息存儲(chǔ)產(chǎn)品的性能有了更高要求,迫切需要在存儲(chǔ)材料和技術(shù)方面取得突破。在這些需求的驅(qū)動(dòng)下,相繼出現(xiàn)了一些新型非易失存儲(chǔ)器,如鐵電存儲(chǔ)器(FRAM)、相變存儲(chǔ)器(PRAM)、磁存儲(chǔ)器(MRAM)、阻變存儲(chǔ)器(RRAM)。雖然說這些是新型存儲(chǔ)器,但從某個(gè)角度看,這些存儲(chǔ)器已經(jīng)存在有一段日子了。
(1)鐵電存儲(chǔ)器(FRAM)
鐵電存儲(chǔ)器是一種掉電后信息不丟失的非易失存儲(chǔ)器,具有高速、高密度、低功耗和抗輻射等優(yōu)點(diǎn)。其核心基礎(chǔ)是鐵電晶體材料,采用鐵電效應(yīng)作為其電荷存儲(chǔ)機(jī)制,同時(shí)擁有隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)和非易失性存儲(chǔ)產(chǎn)品的特性。其結(jié)構(gòu)圖如下圖所示。FRAM的工作原理是利用金屬-鐵電-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管結(jié)構(gòu),鐵電薄膜用來替代MOS管中的柵極氧化硅層,鐵電薄膜保持著兩個(gè)穩(wěn)定的極化狀態(tài),分別表示“1”和“0”。
圖三 FRAM結(jié)構(gòu)剖面圖
(2)磁性存儲(chǔ)器(MRAM)
MRAM是利用材料的磁場(chǎng)隨磁場(chǎng)的作用而改變的原理所制成。利用磁存儲(chǔ)單元磁性隧道結(jié)(MTJ)的隧穿磁電阻效應(yīng)來進(jìn)行存儲(chǔ)。
如下圖四所示,MTJ有三層,最上層為自由層,中間是隧道結(jié),下面是固定層。自由層的磁場(chǎng)極化方向是可以改變的,而固定層的磁場(chǎng)方向固定不變。當(dāng)自由層與固定層的磁場(chǎng)平行時(shí),存儲(chǔ)單元呈現(xiàn)低阻態(tài);當(dāng)磁場(chǎng)方向相反時(shí),存儲(chǔ)單元呈現(xiàn)高阻態(tài)。MRAM通過檢測(cè)存儲(chǔ)單元電阻的高低,來判斷所存數(shù)據(jù)是0還是1。
圖四 MJT結(jié)構(gòu)示意圖
(3)相變存儲(chǔ)器(PRAM)
PRAM的存儲(chǔ)原理是利用某些薄膜合金的結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)相變存儲(chǔ)0和1的信息。通常這些合金具有兩種穩(wěn)定狀態(tài):具有低電阻的多晶狀態(tài)和具有高電阻的無定形狀態(tài)。PRAM應(yīng)用硫系玻璃材料,利用硫族材料的電致相變特性,其在晶體和非晶體狀態(tài)呈現(xiàn)不同的電阻特性。當(dāng)被加熱時(shí)呈晶體狀,為1狀態(tài);當(dāng)冷卻為非晶體時(shí),為0狀態(tài)。通過改變流過該晶體的電流就可以實(shí)現(xiàn)這兩種狀態(tài)的轉(zhuǎn)換。
(4)阻變式存儲(chǔ)器(RRAM)
RRAM的原理是通過特定的薄膜材料的電阻值在不同電壓下呈現(xiàn)的電阻值不同來區(qū)分0和1的值。RRAM的存儲(chǔ)單元具有簡(jiǎn)單的金屬/阻變存儲(chǔ)層/金屬(MIM)三明治結(jié)構(gòu)如圖六所示。
圖五 RRAM器件結(jié)構(gòu)圖
哪種存儲(chǔ)會(huì)是未來的選擇?
FRAM的讀寫速度主要取決于鐵電材料的極化反轉(zhuǎn)特性,根據(jù)目前理論極化反轉(zhuǎn)速度可達(dá)到皮秒量級(jí)。
MRAM利用磁性存儲(chǔ)數(shù)據(jù),容量成本低,具有低功耗、高速存取、無限次讀寫、抗輻射能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),在軍事、航空航天、移動(dòng)通訊等領(lǐng)域的應(yīng)用有很大優(yōu)勢(shì)。
PRAM被認(rèn)為是FLASH和DRAM的替代者,讀寫速度是普通閃存的30倍,同時(shí)其擦寫壽命也是閃存的10倍。PRAM的最大優(yōu)點(diǎn)是高效能和低耗電。
RRAM具有與CMOS工藝兼容性好、低功耗、易于隨先進(jìn)工藝微縮等優(yōu)點(diǎn)受到廣泛關(guān)注??偨Y(jié)這幾種新式存儲(chǔ)器優(yōu)缺點(diǎn)如下表所示。
表一 幾種存儲(chǔ)器性能對(duì)比
新型存儲(chǔ)器挑戰(zhàn)
FRAM目前作為新型存儲(chǔ)器的主要問題是鐵電薄膜材料。未來發(fā)展需要解決的主要難題:一是采用3D結(jié)構(gòu)縮小單元面積提高集成度;二是提高鐵電薄膜特性。
RRAM還是一項(xiàng)前沿的研究課題,目前還主要停留在實(shí)驗(yàn)室階段。未來材料的尋找仍然是RRAM面臨的主要問題。
而臺(tái)積電未來選擇先生產(chǎn)的MRAM和PRAM也會(huì)遇到挑戰(zhàn)。MRAM的主要問題在于其高昂的制造成本。其次MRAM依靠磁性存儲(chǔ)材料,磁場(chǎng)會(huì)對(duì)周圍的芯片產(chǎn)生怎樣的影響需要仔細(xì)考慮。
而PRAM的最大問題是成本和容量。目前PRAM的單位容量成本還是比NAND高不少。發(fā)熱對(duì)于PRAM而言是個(gè)大問題,由于PRAM需要加熱電阻式材料發(fā)生相變,隨著工藝越來月先進(jìn),單元變得越來越精細(xì),對(duì)于加熱元件的控制要求也將越來越高,那發(fā)熱帶來的影響也將加大。發(fā)熱和耗電可能會(huì)制約PRAM的進(jìn)一步發(fā)展。
嵌入式存儲(chǔ)器未來
嵌入式存儲(chǔ)器具有大容量集成的優(yōu)勢(shì),是SOC的重要組成部分,具有重要的創(chuàng)新性和實(shí)用性。何種嵌入式存儲(chǔ)器將取得最終的成功,取決于多方面的因素:能否與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝兼容,在不斷增加復(fù)雜性的工藝步驟的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)大容量的片上集成,從而提高其性價(jià)比;能否隨著工藝的發(fā)展縮小尺寸,解決超深亞微米工藝的延續(xù)性和擴(kuò)展性問題,這是所有采用電容結(jié)構(gòu)存儲(chǔ)信息的存儲(chǔ)器面對(duì)的共同挑戰(zhàn);能否滿足片上其他高速邏輯的帶寬需要,構(gòu)成帶寬均衡、穩(wěn)定簡(jiǎn)潔的集成系統(tǒng);準(zhǔn)確的市場(chǎng)定位,保持量產(chǎn)。
總而言之每項(xiàng)技術(shù)的發(fā)展都有其機(jī)會(huì)與挑戰(zhàn)。而無懼挑戰(zhàn)勇于創(chuàng)新的企業(yè)最終將贏得市場(chǎng)。
評(píng)論