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ADC分辨率與精度——子范圍ADC、兩步式ADC和TUE

作者: 時間:2024-09-24 來源:EEPW編譯 收藏

了解不同模數轉換器(ADC)誤差源的特征,如分辨率和精度。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202409/463143.htm

為了確保系統(tǒng)滿足所需的精度規(guī)范,深入了解不同的誤差源非常重要。決定信號鏈精度的最關鍵因素之一是A/D轉換器(ADC),這是本文的重點。請記住,ADC的精度可以用絕對精度、相對精度和總未調整誤差()來表征。

一個偶爾會讓年輕工程師感到困惑的常見問題是:精度與分辨率有什么關系?例如,我的12位ADC也是12位精度的嗎?在之前關于微分非線性(DNL)誤差規(guī)范的文章中,我們簡要討論了分辨率和精度表征ADC的兩個不同方面。

ADC設計參數——分辨率

分辨率指定了ADC特性曲線中的步數。對于具有均勻步長的理想ADC,分辨率決定了使輸出變化一個計數的模擬輸入電壓的最小變化。例如,具有12位分辨率的ADC可以在212中分辨出1個部分(4096中的1個部分)。換句話說,12位ADC可以檢測小至滿量程值0.0244%的電壓。然而,這并不意味著轉換誤差(ADC輸出的輸入和模擬等效值之間的差)小于0.0244%。

分辨率主要是一個設計參數,而不是性能規(guī)格。它沒有指定實際由ADC非線性、偏移和增益誤差等非理想效應決定的轉換誤差。

ADC精度:精度低于分辨率時

在數據轉換器的上下文中,通常用比特數來表示精度。例如,我們可以說這個ADC的精度為12位。這意味著轉換誤差小于滿標度值除以212。換句話說,轉換誤差小于一個LSB(最低有效位)。

考慮到這一點,這可能不是表達性能準確性的準確方式,因為不清楚這種表征中實際包含了哪些誤差源。然而,它似乎通常是指偏移、增益和積分非線性(INL)誤差的組合效應。轉換器的精度可能遠低于其分辨率。

例如,考慮下圖1所示的12位ADC。

12位ADC示例。

 

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圖1。12位ADC示例。

在這個圖中,藍色和紫色曲線分別是理想和實際的特征曲線。在這個特定的例子中,偏移和增益誤差被校準出來。代碼7FD的寬度為5個LSB,這導致代碼7FE處出現4個LSB的INL錯誤。此代碼中的錯誤由下式給出:

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方程式1。

這可以簡化為:

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方程式2。

由于轉換誤差等于滿標度值除以210,我們說它的精度為10位。上圖應該能幫助你更好地理解這一點。首先,請注意,對于給定的滿標度值,10位系統(tǒng)的步長是12位系統(tǒng)步長的4倍。雖然點A和B之間的差在12位系統(tǒng)中為4 LSB,但在10位系統(tǒng)中僅為1 LSB。因此,方程式1和2告訴我們,由INL為4 LSB的12位系統(tǒng)引入的誤差等于由INL僅為1 LSB的10位系統(tǒng)產生的誤差。

從INL誤差的角度來看,這兩個系統(tǒng)具有相同的性能。然而,這并不意味著這兩個系統(tǒng)完全相同。例如,12位系統(tǒng)的最大量化誤差比10位系統(tǒng)小四倍(或者12位系統(tǒng)量化噪聲功率小16倍)。

為了更容易計算精度,我們可以使用以下方程式:

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方程式3。

其中“錯誤”出現在原始系統(tǒng)的LSB中。通過將其應用于上述示例,我們得到:

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ADC精度:精度高于分辨率時

考慮下面所示的三位特性曲線(圖2)。

三位特征曲線示例。

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圖2:三位特征曲線示例。

在這種情況下,只有代碼010和011的INL是非零的。最大的錯誤發(fā)生在代碼010處,可以用滿標度值表示如下:

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這可以簡化為:

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由于轉換誤差等于滿標度值除以26,我們可以說它的精度為6位。具有6位精度的3位ADC意味著什么?這意味著,我們的3位ADC產生的誤差與INL為1 LSB的6位ADC所產生的誤差相同。換句話說,我們的ADC的步數得到了精確控制(優(yōu)于ADC的位數)。因此,ADC僅引入了超出其量化誤差的少量誤差。

同樣,我們可以使用方程3來找到ADC精度,并得到:

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子范圍和簡介

讓我們從稍微不同的角度來檢查上述3位ADC,以便更好地理解為什么可能需要高于分辨率的精度。

假設我們有一個理想的三位數模轉換器(DAC)。我們可以使用此DAC將ADC輸出轉換回模擬信號。從原始模擬輸入中減去DAC輸出,我們可以找到3位量化器的量化誤差(或“殘差”信號)。如圖3所示。

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圖3。一個示例圖顯示了從ADC輸入中減去DAC輸出的“殘差”信號。

雖然ADC的分辨率只有3位,并且引入了較大的量化誤差,但其線性誤差相對較低。由于量化誤差是主要的誤差因素,因此可以通過第二個ADC進一步處理殘差信號,以產生高于3位的整體分辨率。這是可能的,因為3位ADC的線性誤差不會破壞我們的信號。我們只需要再次數字化3位ADC的大量化誤差,即可實現具有更精細分辨率的整體ADC。這實際上是子測距和工作的原理。這些ADC的更詳細的框圖如圖4所示。

子測距和的示例框圖

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圖4。子測距和兩步式ADC的示例框圖。圖片由F.Maloberti提供

第一ADC執(zhí)行粗略轉換,并確定最終輸出中最高有效位(MSB)的M位。然后,殘差信號由第二個N位ADC處理。第二級執(zhí)行精細轉換并產生輸出的N位LSB。這種結構使我們能夠以功耗和硅面積來換取轉換速度。例如,與全閃存轉換器相比,兩步式架構需要的比較器數量要少得多。

采用兩步式式架構,粗略ADC的精度需要遠高于其分辨率。除了粗ADC外,DAC和減法器在殘差信號的準確性方面也起著關鍵作用。這就是為什么應該仔細確定每個塊的最大允許誤差,以實現一定的整體精度性能。

現在我們已經確定了分辨率和精度之間的差異,讓我們來看一個簡單的例子,看看如何計算具有非零偏移和增益誤差的ADC的精度。

利用評估精度——非零偏移和增益誤差

根據設計目標,可以使用絕對精度或相對精度定義來計算方程3中的“誤差”項。在實踐中通常使用的更好的選擇是規(guī)范。最大TUE可以使用增益、偏移和INL誤差的最大值的均方根(RSS)來計算。這可以從下面的方程式中看出:

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RSS方法基于誤差項不相關的假設,因此,所有誤差項同時達到最大值的概率很小。例如,使用這種方法,我們可以假設對于12位ADC,我們有:

INL=3個LSB

偏移誤差=2.5 LSB

增益誤差=3 LSB

假設應用于ADC的模擬輸入可以在ADC的整個輸入范圍內取值,我們可以將總誤差估計為:

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方程式4。

現在,應用方程式3,我們得到:

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我們有時將方程式3中獲得的精度稱為“有效精度位數”。如果我們應用校準來消除偏移和增益誤差,我們只會留下INL誤差。請注意,為了使用TUE方程,所有誤差項都應以相同的單位表示(上例中的LSB)。

在實踐中,ADC只是誤差的一個來源。其他幾個組件(如輸入驅動器、電壓參考等)可能會增加額外的誤差,必須加以考慮。



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