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作者： 時間：2013-12-14 來源：網(wǎng)絡(luò)

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體, arial; WHITE-SPACE: normal; ORPHANS: 2; LETTER-SPACING: normal; COLOR: rgb(0,0,0); WORD-SPACING: 0px; PADDING-TOP: 0px; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">基本測試設(shè)置如圖7所示。使用了兩種方法來評估該電路的性能。首先使用連接到電路板的熱電偶來測量冰桶的溫度，然后測量沸水的溫度。

圖7. 用于在整個熱電偶輸出電壓范圍內(nèi)校準和測試電路的設(shè)置

使用Wavetek 4808多功能校準儀來充分評估誤差，如圖3和圖4所示。這種模式下，校準儀代替熱電偶作為電壓源，如圖7所示。為了評估T型熱電偶的整個范圍，利用校準儀設(shè)置T型熱電偶?200°C至+350°C的正負溫度范圍之間52個點的等效熱電偶電壓（T型熱電偶請參見ITS-90表）。

為了評估查找算法的精度，將?200°C至+350°C溫度范圍內(nèi)每隔+1°C的溫度所對應(yīng)的551個電壓讀數(shù)傳遞到溫度計算函數(shù)中。針對線性方法和分段線性逼近法計算得到誤差，如圖3和圖4所示。

RTD測量測試

為了評估RTD電路和線性化源代碼，以精確的可調(diào)電阻源代替了電路板上的RTD。所用的儀器是1433-Z十進制電阻。測試的RTD值范圍是90Ω到140Ω，代表?25°C到+114°C的RTD溫度范圍。

圖8顯示了RTD測試的誤差結(jié)果，圖9則顯示了設(shè)置電路。

圖8. 使用分段線性代碼和ADC0測量結(jié)果進行RTD測量時的°C誤差

圖9. 用于校準和測試?25°C至+114°C范圍內(nèi)RTD輸出電壓的測試設(shè)置

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