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基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)研究

作者: 時(shí)間:2010-01-02 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  引言

  PCB 光板測(cè)試機(jī)基本的測(cè)試原理是歐姆定律,其測(cè)試方法是將待測(cè)試點(diǎn)間加一定的測(cè)試電壓,用譯碼電路選中PCB 板上待測(cè)試的兩點(diǎn),獲得兩點(diǎn)間電阻值對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào),通過(guò)電壓比較電路,測(cè)試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)電路板的測(cè)試。

  由于被測(cè)試的點(diǎn)數(shù)比較多, 一般測(cè)試機(jī)都在2048點(diǎn)以上,測(cè)試控制電路比較復(fù)雜,測(cè)試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度,本文研究了基于的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

  硬件控制系統(tǒng)

  測(cè)試過(guò)程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下,控制測(cè)試電路分別打開(kāi)不同的測(cè)試開(kāi)關(guān)。測(cè)試機(jī)系統(tǒng)由以下幾部分構(gòu)成: 上位計(jì)算機(jī)PC104 、測(cè)試控制邏輯(由 實(shí)現(xiàn)) 、高壓測(cè)試電路。 其中上位機(jī)主要完成人機(jī)交互、測(cè)試算法、測(cè)試數(shù)據(jù)處理以及控制輸出等功能。 控制高壓測(cè)試電路完成對(duì)PCB 的測(cè)試過(guò)程。

  本系統(tǒng)以一臺(tái)PC104 為上位計(jì)算機(jī),以FPGA為核心,通過(guò)PC104 總線實(shí)現(xiàn)上位機(jī)對(duì)測(cè)試的控制。

  測(cè)試系統(tǒng)總體框圖如圖1所示。

測(cè)試系統(tǒng)總體框圖

  FPGA與PC104的接口電路

  PC104總線是一種專為嵌入式控制定義的工業(yè)控制總線,其信號(hào)定義與ISA 總線基本相同。 PC104總線共有4 類總線周期,即8 位的總線周期、16 位的總線周期、DMA 總線周期和刷新總線周期。 16 位的I/O總線周期為3 個(gè)時(shí)鐘周期,8 位的I/O總線周期為6 個(gè)時(shí)鐘周期。 為了提高通信的速度,ISA總線采用16 位通信方式,即16 位I/O方式。 為了充分利用PC104的資源,應(yīng)用PC104的系統(tǒng)總線擴(kuò)展后對(duì)FPGA 進(jìn)行在線配置。正常工作時(shí)通過(guò)PC104總線與FPGA進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。

  FPGA與串行A/D及D/A器件的接口

  根據(jù)測(cè)試機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求,需要對(duì)測(cè)試電壓及兩通道參考電壓進(jìn)行自檢,即A/D轉(zhuǎn)換通道至少有3 路。 兩路比較電路的參考電壓由D/A輸出,則系統(tǒng)的D/A通道要求有兩通道。 為了減少A/D及D/A的控制信號(hào)線數(shù),選用串行A/D及D/A器件。 綜合性能、價(jià)格等因素, 選用的A/D器件為TLC2543,D/A器件為TLV5618。

  TLV5618是TI公司帶緩沖基準(zhǔn)輸入(高阻抗)的雙路12 位電壓輸出DAC,通過(guò)CMOS 兼容的3線串行總線實(shí)現(xiàn)數(shù)字控制。器件接收16 位命令字,產(chǎn)生兩路D/A模擬輸出。TLV5618只有單一I/O周期,由外部時(shí)鐘SCL K決定,延續(xù)16 個(gè)時(shí)鐘周期,將命令字寫(xiě)入片內(nèi)寄存器,完成后即進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換。TLV5618讀入命令字是從CS的下降沿開(kāi)始有效,從下一SCLK的下降沿開(kāi)始讀入數(shù)據(jù),讀入16位數(shù)據(jù)后即進(jìn)入轉(zhuǎn)換周期,直到下次出現(xiàn)CS的下降沿。 其操作時(shí)序圖如圖2 所示。

操作時(shí)序圖

  TLC2543是TI公司的帶串行控制和11個(gè)輸入端的12 位、開(kāi)關(guān)電容逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器。 片內(nèi)轉(zhuǎn)換器有高速、高精度和低噪音的特點(diǎn)。 TLC2543工作過(guò)程分為兩個(gè)周期:I/O周期和轉(zhuǎn)換周期。I/O周期由外部時(shí)鐘SCLK決定,延續(xù)8、12或16個(gè)時(shí)鐘周期,同時(shí)進(jìn)行兩種操作: 在SCLK上升沿以MSB方式輸入8位數(shù)據(jù)到片內(nèi)寄存器;在SCLK下降沿以MSB 方式輸出8、12、16位轉(zhuǎn)換結(jié)果。轉(zhuǎn)換周期在I/O周期的最后一個(gè)SCLK下降沿開(kāi)始,直到EOC信號(hào)變高,指示轉(zhuǎn)換完成。 為了與TLV5618的I/O周期一致,采用了MSB方式,使用CS的16 時(shí)鐘傳送的時(shí)序。其操作時(shí)序如圖3 所示。

操作時(shí)序圖


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