一種頻率穩(wěn)定的低功耗振蕩器電路設(shè)計(jì)
本文設(shè)計(jì)的振蕩器除了作為MCU芯片的低功耗模式時(shí)鐘以及睡眠模式喚醒源,還可用作上下電復(fù)位電路中濾波以及延時(shí)的時(shí)鐘源[4]。要求在低于復(fù)位放開(kāi)閾值電壓時(shí)即能工作,故該振蕩器工作電壓范圍應(yīng)較大。本文采用的振蕩器屬于張弛振蕩器,主要由與電源無(wú)關(guān)的電流源/恒流源充放電電路、遲滯比較器和控制開(kāi)關(guān)組成。通過(guò)改進(jìn)的對(duì)電容充放電方式,在保證輸出頻率對(duì)電源電壓敏感度的基礎(chǔ)上,省去了該振蕩器對(duì)參考電壓的需求,即不需要參考源模塊配合其工作,因而達(dá)到了進(jìn)一步降低芯片功耗的目的。
1 電路設(shè)計(jì)與分析
1.1 電路結(jié)構(gòu)與原理
本文設(shè)計(jì)的振蕩器結(jié)構(gòu)如圖1所示,由基準(zhǔn)電流源/恒流源充放電電路以及比較器組成。
其工作原理為:由基準(zhǔn)電流源電路產(chǎn)生與電源無(wú)關(guān)的電流,用該電流的鏡像電流對(duì)電容進(jìn)行充放電。其中,當(dāng)S1為高電平時(shí),S2為低電平,即此時(shí)比較器的輸出為低電平。從而通過(guò)PMOS管M5對(duì)C0的左端N1進(jìn)行恒流充電,同時(shí)通過(guò)NMOS管M6對(duì)C0的右端N2進(jìn)行恒流放電。隨著N1點(diǎn)的電位上升N2點(diǎn)電位下降,當(dāng)N1與N2的電位差大于遲滯比較器的遲滯窗口時(shí),比較器的輸出跳變?yōu)楦唠娖?,?dǎo)致S1跳變?yōu)榈碗娖剑瑫r(shí)S2跳變?yōu)楦唠娖?。同理,通過(guò)PMOS管M5對(duì)C0的左端N1進(jìn)行恒流放電,同時(shí)通過(guò)NMOS管M6對(duì)C0的右端N2進(jìn)行恒流充電。N1點(diǎn)電位下降,N2點(diǎn)電位上升,當(dāng)N2與N1的電位差大于遲滯比較器的遲滯窗口時(shí),比較器輸出反相,變?yōu)榈碗娖健亩瓿闪藭r(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)周期的變化過(guò)程。
由于遲滯比較器的輸入級(jí)采用NMOS管,為了使電容兩端的電壓在遲滯比較器正常工作輸入范圍之內(nèi),在設(shè)計(jì)中添加M7,使得工作時(shí)N1、N2點(diǎn)的電壓不會(huì)低于一個(gè)NMOS管的閾值電壓和兩個(gè)過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓之和,從而達(dá)到了遲滯比較器正常工作時(shí)對(duì)輸入電壓的要求。
振蕩周期公式如下:
其中,ΔV為遲滯比較器的遲滯窗口大小。由式(1)可知振蕩周期與遲滯窗口、充放電電流以及電容大小有關(guān)。由于充放電電流是由與電源無(wú)關(guān)的電流源產(chǎn)生,比較器遲滯窗口也與電源電壓無(wú)關(guān),因此,電路的輸出頻率受電源電壓的影響較小。
在常見(jiàn)的張弛比較器[5]中,比較器的電壓判決通常需要參考源模塊提供參考電壓用來(lái)與電容充放電極板上的電壓做比較,從而產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)。而參考源的產(chǎn)生需要另外消耗功耗,同時(shí)參考源的溫度特性會(huì)影響輸出頻率的溫度特性。而在本設(shè)計(jì)中,通過(guò)對(duì)電容兩端進(jìn)行充放電,消除了振蕩器對(duì)參考電壓源的需求,從而節(jié)省了功耗。
由于S1和S2的反相對(duì)稱性影響輸出時(shí)鐘信號(hào)的占空比,因此采用正反饋結(jié)構(gòu)來(lái)提高S1和S2的反相對(duì)稱性,從而提高了輸出時(shí)鐘信號(hào)的占空比特性。
1.2 與電源電壓無(wú)關(guān)的電流源
由M1~M6以及RP1和RD2組成與電源電壓無(wú)關(guān)的電流源[6],如圖2所示,MS1~MS3為啟動(dòng)電路[7]。正常工作時(shí),MS4管開(kāi)啟,將MS3管柵極電壓拉低,從而MS3管關(guān)斷,不影響電流源電路正常工作;當(dāng)電流源處于異常零狀態(tài)時(shí),M5/6管的柵極維持高電平,M1/2管的柵極電壓保持低電平,MS4管關(guān)斷,MS3管開(kāi)啟,從而將M5/6管的柵極拉低,使得電流源電路開(kāi)啟。
電流源支路上產(chǎn)生的電流為M1和M2的ΔVGS與電阻的比值,其中,為了進(jìn)一步提高電流與電源電壓的不相關(guān)性,采用cascode結(jié)構(gòu)。為了提高溫度特性,電阻采用多晶硅電阻RP1和擴(kuò)散電阻RD2串聯(lián)的形式實(shí)現(xiàn)。其中,多晶硅電阻為負(fù)溫度系數(shù),擴(kuò)散電阻為正溫度系數(shù),故采用一定比例串聯(lián)多晶硅電阻和擴(kuò)散電阻,使總電阻值與溫度無(wú)關(guān)。
1.3 遲滯比較器
在本設(shè)計(jì)中,使用的遲滯比較器如圖3所示。采用高增益開(kāi)環(huán)比較器的輸入級(jí)使用內(nèi)部正反饋實(shí)現(xiàn)遲滯結(jié)構(gòu)[8]。
其中,M5管柵極偏置電壓取自電流源產(chǎn)生電路。為了使電路內(nèi)部正反饋系數(shù)大于負(fù)反饋系數(shù),M6/7的寬長(zhǎng)比應(yīng)該大于M3/4的寬長(zhǎng)比。通過(guò)改變?cè)搶掗L(zhǎng)比和流過(guò)M5的電流可以調(diào)節(jié)該比較器的遲滯窗口。
2 仿真結(jié)果
該上電復(fù)位電路采用GSMC 0.18 μm CMOS工藝設(shè)計(jì)。使用Cadence Spectre工具對(duì)電路進(jìn)行仿真,在典型情況下,電路中充放電電容兩端的電壓波形以及輸出CLK波形如圖4所示。從圖中可以看到,由于恒流源充放電的緣故,電容兩端電壓的上升和下降基本上呈線性變化,但在開(kāi)關(guān)切換的瞬間會(huì)有一些毛刺,惡化了電容兩端電壓的線性變化特性,但并沒(méi)有影響到電路正常工作。輸出CLK信號(hào)的占空比為49.97%、在5 V電源供電下,整體電路消耗平均電流為2.67 μA。
在不同的溫度和電源電壓下,電路CLK信號(hào)輸出頻率如圖5所示。從圖中可以看到,在電源電壓從2 V~5.5 V,以及溫度從-40 ℃~+85 ℃的變化范圍內(nèi),其輸出頻率從115.6 kHz~125.2 kHz變化,與典型條件下的123.6 kHz的輸出頻率相比,其輸出頻率誤差范圍為-6.5%~1.3%。
在不同電源電壓和溫度下,振蕩器消耗的平均電流如圖6所示。從圖中可以看到,在電源電壓從2 V~5.5 V、以及溫度從-40 ℃~+85 ℃的變化范圍內(nèi),平均電流消耗從0.95 μA到3.4 μA變化。
本文所設(shè)計(jì)的振蕩器電路采用弛豫充放電的原理,通過(guò)改進(jìn)的方式對(duì)電容兩端進(jìn)行恒流充放電,并使用比較器的方式對(duì)電容兩端電壓進(jìn)行比較,省去了比較器對(duì)參考電平的需求,使設(shè)計(jì)更為簡(jiǎn)單,并且節(jié)省了參考電平產(chǎn)生模塊所需的功耗。仿真結(jié)果證明,在較寬的電源電壓和溫度范圍內(nèi),振蕩器能產(chǎn)生頻率穩(wěn)定的方波信號(hào),整體功耗較小,能滿足MCU對(duì)低功耗低頻振蕩器的要求。除了MCU芯片,該振蕩器還適用于其他對(duì)降耗要求較高的低頻應(yīng)用場(chǎng)合。
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評(píng)論