一種適用于UHF頻段RFID 近場天線的阻抗測量方法

圖 8 中我們比較了仿真和測量的阻抗值。從阻抗比較的小比例圖可以看出，天線的阻抗隨著頻率變化劇烈，這意味著匹配后天線的帶寬很窄。在 866MHz，仿真得到的阻抗值為366.9+j467.03(Ohm)，而de-embedding 后測量得到的阻抗值為 460.8+j309(Ohm)，二者的Q值相差了0.6 左右。對于窄帶的匹配，任何Q 值的微小差異都會導致匹配的失敗，所以精確的阻抗測量對于匹配網(wǎng)絡的設計至關重要。這也是我們要對天線測量進行de-embedding 技術處理原因。

　　基于在 866MHz 測量得到的阻抗值，我們可以設計出匹配網(wǎng)絡。圖9 給出了添加了設計的匹配網(wǎng)絡后NFRA 的S 參數(shù)的仿真和測量值的比較?？梢钥闯觯抡娴玫降膸挒?BR>

　　4 結(jié)論

　　以一款設計好的 NFRA 為例，闡述了一種低損耗的阻抗測量方法。通過聯(lián)合測量和de-embedding 技術，得到了天線阻抗的精確值。在得到的測量阻抗的基礎上，設計出了性能良好的匹配網(wǎng)絡，匹配后的NFRA 的S 參數(shù)仿真值和測量值吻合良好，證明了這種方法的有效性和精確性。