相位噪聲測量電路

測量可變頻率振蕩器或合成器的相位噪聲是用昂貴的頻譜分析儀。對于455kHz固定頻率的特定測量，可用便宜的方法實(shí)現(xiàn)。

本文的電路是用相位誤差控制電流調(diào)制器，將低噪聲基準(zhǔn)振蕩器鎖定到被測信號以此實(shí)現(xiàn)了一個(gè)PLL，電抗調(diào)制器用1.4V左右低夾斷電壓結(jié)型FET。

Clapp配置中的雙極晶體管構(gòu)成基準(zhǔn)振蕩器。晶體管對振蕩電路的耦合非常弱，所以加在它上面的負(fù)載非常小。

跟隨的緩沖器振蕩電路抑制可有的諧波并提供90°相移。正交解調(diào)器的輸出dc耦合到示波器（用在X/Y模式）的輸入。

相位噪聲偏差直接顯示在示波器上，一個(gè)完整的圓表示±180°峰值相位噪聲。相位偏差概率分布是Rayleigh和Gaussian正態(tài)分布之間的中間形式（見‘Noise’,Electronics World,Feb.1998,pp.146-151）。

-3dB滾降頻率是3Hz，它由R1和C1確定，此參量是設(shè)計(jì)的主要點(diǎn)。被測的接收器或收發(fā)器必須供給一個(gè)455kHz輸出。微調(diào)電容器C2必須調(diào)節(jié)到使Tr1柵極上的rms電壓不能超過100mV。已完成的這個(gè)電路的性能可用一個(gè)FET晶體振蕩器評估。