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科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

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作者: 時間:2006-01-20 來源: 收藏
系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《》雜志授予的”   award”(譯:最佳測試獎)獎項。

Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng),它采用先進科技,集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的設(shè)計充分地考慮了不管是量產(chǎn)測試還是工程驗證的不同測試要求。
》主編Rick Nelson說:“2006年度  s獎項只頒給那些能給測試界帶來重大技術(shù)革新的新產(chǎn)品。我們的編輯之所以選擇的Sapphire D-10做為該獎項的獲獎?wù)呤且驗樵摽钕到y(tǒng)綜合了高速的數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò),基于FPGA的高度靈活性以及高密度的CMOS集成來提高系統(tǒng)測試各種消費類芯片的產(chǎn)能和效率。“
系統(tǒng)公司總裁兼首席執(zhí)行官Dave Ranhoff(中文名:任永浩)說:“我們非常高興能榮獲該獎項。做為一種革新的測試系統(tǒng)設(shè)計理念,并結(jié)合科利登的先進技術(shù),Sapphire D-10迅速地獲得了全世界市場的接受和認可。事實上,該系統(tǒng)首先在北美和亞洲的多個IDM和 OSAT工廠被采用正好證明了它在降低內(nèi)置MCU,顯示驅(qū)動控制和無線基帶芯片測試成本時的重大成果?!?


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