新聞中心

EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統(tǒng) > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > S2C為Xilinx原型驗(yàn)證系統(tǒng)提供突破性驗(yàn)證模塊技術(shù)

S2C為Xilinx原型驗(yàn)證系統(tǒng)提供突破性驗(yàn)證模塊技術(shù)

—— 實(shí)現(xiàn)基于FPGA的原型和用戶驗(yàn)證環(huán)境之間高速數(shù)據(jù)傳輸并實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)FPGA的同時(shí)調(diào)試
作者: 時(shí)間:2011-09-19 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
        日前宣布其Verification Module技術(shù)(專利申請(qǐng)中)已可用于其基于原型驗(yàn)證系統(tǒng)中。V6 TAI Verification Module可以實(shí)現(xiàn)在原型驗(yàn)證環(huán)境和用戶驗(yàn)證環(huán)境之間高速海量數(shù)據(jù)傳輸。用戶可以使用 ChipScope或者第三方調(diào)試環(huán)境,同時(shí)查看4個(gè)。另外,V6 TAI Verification Module還可以用于1.3M~4.7M ASIC門(mén)的原型設(shè)計(jì)。V6 TAI Verification Module具有PCIe Gen2、千兆串行收發(fā)器、SATA2和USB 3.0等高速接口。

         的董事長(zhǎng)及首席技術(shù)官M(fèi)on-Ren Chene先生說(shuō):“我們?cè)诮衲?月份首次發(fā)布的Verification module技術(shù)是為使用原型驗(yàn)證系統(tǒng)的客戶提供的技術(shù)。這是一種可以將用戶的FPGA原型環(huán)境和用戶驗(yàn)證環(huán)境接口的突破性技術(shù)。由于設(shè)計(jì)通 常被分割到多個(gè)FPGA中,用戶可以有這項(xiàng)新能力同時(shí)對(duì)多個(gè)FPGA進(jìn)行調(diào)試對(duì)他們來(lái)說(shuō)非常重要。FPGA原型驗(yàn)證系統(tǒng)以系統(tǒng)速度或者接近系統(tǒng)速度運(yùn)行。 通過(guò)高速接口,F(xiàn)PGA原型驗(yàn)證環(huán)境可以更容易地連接到實(shí)際目標(biāo)系統(tǒng)環(huán)境。”

三種運(yùn)行模式

        通用的 V6 TAI Verification Module提供了三種使用模式:驗(yàn)證模式、調(diào)試模式和邏輯模式。 驗(yàn)證模式使用SCE-MI或定制的C-API通過(guò)一條 x4-lane PCIe Gen2通道實(shí)現(xiàn)海量數(shù)據(jù)和PC之間的傳輸。在調(diào)試模式中,V6 TAI Verification Module通過(guò)使用Xilinx ChipScope或者其它第三方工具從而實(shí)現(xiàn)了多個(gè)FPGA的同步調(diào)試且同時(shí)保持用戶的RTL名。在邏輯模式中,用戶可以原型化一個(gè)設(shè)計(jì),其容量能達(dá)到 4.7M門(mén)。 所有對(duì)Verification Module的調(diào)試和驗(yàn)證設(shè)置都是在S2C 的TAI Player Pro™中完成。

驗(yàn)證模式

        驗(yàn)證模式利用TAI Verification Module的高速PCIe Gen2接口將大量仿真數(shù)據(jù)在PC和TAI Logic Module之間進(jìn)行雙向快速地傳輸。該模式能將原型系統(tǒng)和仿真器直接連接進(jìn)行同步仿真。用戶可以利用下圖所示的S2C提供的定制C-API或者符合行業(yè) 標(biāo)準(zhǔn)的SCE-MI接口:


 
調(diào)試模式

        調(diào)試模式則利用了用戶現(xiàn)有的Xilinx ChipScope或者其它第三方調(diào)試環(huán)境。V6 TAI Verification Module從Logic Module中的多個(gè)FPGA獲取用戶定義的信號(hào)并接收到V6 TAI Verification Module,通過(guò)JTAG接口與ChipScope連接。

        V6 TAI Verification Module 使用Xilinx Chip Scope Analyzer可同時(shí)對(duì)放在兩塊Dual V6 TAI Logic Module上的FPGA設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)試。


 
最高能見(jiàn)度
 
        每個(gè)Virtex 6 FPGA的120信號(hào)都接到了V6 TAI Verification Module的FPGA中。用戶能在4 個(gè)V6 FPGA中進(jìn)行120 x N信號(hào)的路徑選擇。最初的發(fā)布中,N固定在4上,但今后將由用戶定義。用戶所需要做的是在設(shè)計(jì)綜合前在RTL級(jí)選擇Probes并且將它們按照每個(gè) FPGA120個(gè)probe來(lái)進(jìn)行分組。S2C的TAI Player Pro自動(dòng)采用多路復(fù)用技術(shù)將來(lái)自多個(gè)FPGA的調(diào)試信號(hào)發(fā)送至V6 TAI Verification Module的單個(gè)Xilinx ChipScope,并保留RTL名。將使用Xilinx ChipScope調(diào)試過(guò)程中的調(diào)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在V6 TAI Verification Module的存儲(chǔ)器中直到滿足預(yù)先設(shè)置的觸發(fā)條件為止,再將這些調(diào)試數(shù)據(jù)讀取出來(lái)。

邏輯模塊

        V6 TAI Verification Module可以作為單個(gè)原型板,為高達(dá)4.7M門(mén)容量的小規(guī)模SoC或ASIC設(shè)計(jì)使用。V6 TAI Verification Module可以配備Xilinx LX130T、LX365T 或者SX475T FPGA上,而且在4個(gè)LM連接器上共有480個(gè)外部I/O,x4 PCIe Gen2接口,4路通過(guò)SMA連接器的千兆串行收發(fā)器、一個(gè)SATA2接口以及一個(gè)USB3.0 PHY接口。
配置詳情顯示在下表:


 
可用性

        V6 TAI Verification Module硬件現(xiàn)已供使用。


關(guān)鍵詞: S2C Xilinx FPGA

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉