使用LabVIEW和FPGA創(chuàng)建微控制器測試系統(tǒng)

　　在整個(gè)框架上，我們節(jié)省了大量的時(shí)間和成本。在此之前，對(duì)于微控制器的每個(gè)模塊/外設(shè)，測試十至二十個(gè)案例我們需要花費(fèi)四至五個(gè)小時(shí)。使用我們所創(chuàng)建的基于NI 產(chǎn)品的系統(tǒng)，相同的一組測試執(zhí)行時(shí)間在十到十五分鐘內(nèi)，而且測試質(zhì)量顯著地提高。

　　我們需要合適的測試平臺(tái)應(yīng)用程序以測試微控制器的不同外設(shè)。比如，為了測試SPI接口，我們需要建立SPI主機(jī)或者從機(jī)作為測試平臺(tái)。我們使用LabVIEW FPGA VIs(CAN接口的CAN VI) 來創(chuàng)建每個(gè)測試平臺(tái)。框架內(nèi)測試案例構(gòu)造則是指各自的VI。

　　在框架中，我們可以創(chuàng)建一個(gè)LabVIEW對(duì)象以獲取VI引用，對(duì)于每個(gè)測試案例的需求，都為用戶配置了輸入控件和顯示控件。執(zhí)行自動(dòng)化框架中的測試案例，需要調(diào)用特定的VI，配置該VI，最后運(yùn)行它。

　　該框架無需用戶參與就可以執(zhí)行測試。比如，測量PWM信號(hào)的解決方案如下：VI測量占空比和信號(hào)頻率，然后將其保存到Excel文件中。

　　另一種解決方案涉及從SPI主機(jī)接收數(shù)據(jù)。作為從機(jī)SPI 的VI 可以從主機(jī)測試設(shè)備(DUT)中接收數(shù)據(jù)。SPI從機(jī)工作在不同的波特率和變化的數(shù)據(jù)比特下。用戶可以配置VI,而其運(yùn)行取決于測試設(shè)備(DUT)的主SPI的配置。

　　然而，還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個(gè)數(shù)以測試捕獲和計(jì)數(shù)模塊。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖。在VI運(yùn)行時(shí)，用戶可以配置VI以產(chǎn)生所需個(gè)數(shù)的脈沖。

　　結(jié)論

　　使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測試不同的微控制器外設(shè)。我們使用NI的產(chǎn)品，通過向自動(dòng)化框架提供易用的接口，使我們的測試系統(tǒng)自動(dòng)化，這樣節(jié)省了大量的精力和成本。