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基于NI VeriStand和JMAG-RT進(jìn)行高性能電機(jī)仿真

作者: 時(shí)間:2012-08-24 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  在FEA仿真中,電機(jī)模型極其精確,且具有高精度,可充分體現(xiàn)電機(jī)中的非線性 。然而,這種高精真的仿真耗時(shí)嚴(yán)重,之前來(lái)說(shuō)還是天方夜譚。設(shè)計(jì)工程師們不得不測(cè)量電機(jī)參數(shù),并在后處理過(guò)程中進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。 對(duì)于復(fù)雜的電機(jī)模型,該過(guò)程需要花費(fèi)數(shù)個(gè)小時(shí)。公司合作,借助其FEA工具、-RT,可生成高精度模型,再搭配使用 LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件和 VeriStand軟件來(lái)配置實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用程序,最終完成驗(yàn)證任務(wù)。 通過(guò)這樣的方式,NI滿足了電機(jī)測(cè)試和仿真中的主要需求?,F(xiàn)在您可以使用LabVIEW FPGA和基于FPGA的NI RIO硬件,從而以微秒的速度運(yùn)行FEA電機(jī)模型。這些模型可精確地仿真復(fù)雜的非線性行為, 然后您就可以將在FPGA中運(yùn)行的模型連接至其它硬件,以高I / O速率進(jìn)行完整測(cè)試。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/136107.htm

  用于NI VeriStand的附加軟件

  NI VeriStand是基于配置的軟件環(huán)境,可用于創(chuàng)建實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用。其即買(mǎi)即用的特點(diǎn)可幫助您進(jìn)行實(shí)時(shí)目標(biāo)主機(jī)通信、數(shù)據(jù)記錄、激勵(lì)生成,以及報(bào)警檢測(cè)和響應(yīng)。NI VeriStand從仿真測(cè)試到HIL測(cè)試的轉(zhuǎn)換相當(dāng)快速,可讓您復(fù)用測(cè)試組件,包括測(cè)試文件、預(yù)警、步驟和分析程序等。您可以輕松地重新映射模型、硬件通道等參數(shù),以促成真實(shí)I / O。如此簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換能夠節(jié)省您的回歸測(cè)試時(shí)間,并幫助您使用NI TestStand等測(cè)試執(zhí)行軟件完成自動(dòng)化測(cè)試。

  NI VeriStand具備開(kāi)放的框架,可通過(guò)實(shí)時(shí)插件創(chuàng)建特定應(yīng)用功能,這為測(cè)試系統(tǒng)提供了最大的靈活性。您可以借助NI VeriStand的JMAG附件在HIL測(cè)試中運(yùn)行具有高精度的實(shí)時(shí)模型。它能夠啟動(dòng)內(nèi)聯(lián)FEA仿真,將分析時(shí)間從幾小時(shí)縮短至微秒。您還可在NI PXI實(shí)時(shí)控制器上運(yùn)行具備中等精度的FEA模型,其仿真步長(zhǎng)約為20至30μs。在基于NI RIO的FPGA上運(yùn)行FEA模型,可實(shí)現(xiàn)對(duì)仿真度要求極高的應(yīng)用程序。這些基于FPGA的模型的步長(zhǎng)可低達(dá)1µs。JMAG電機(jī)模型庫(kù)擁有各種不同類型的電機(jī),可與多種電機(jī)型號(hào)進(jìn)行匹配。您能夠?qū)⒖啥ㄖ贫雀叩哪P托薷某商囟ǖ碾姍C(jī)類型,從而避免創(chuàng)建自定義模型。  

 

  NI VeriStand和針對(duì)NI VeriStand的JMAG附加軟件可在NI PXI實(shí)時(shí)控制器和NI RIO FPGA I/ O設(shè)備上運(yùn)行。NI PXI提供了多種高速和高精度的I / O模塊,可確保您獲取所需的I / O,來(lái)滿足特定的應(yīng)用需求。除了實(shí)時(shí)的PXI功能,PXI的NI RIO模塊在FPGA上還具備極高的處理速度。NI PXIe-7965R極高的性能讓您放心借助FPGA進(jìn)行模型計(jì)算,即使是在具備最高精度的JMAG-RT FEA模型上也可行?! ?/p>

 

  總結(jié)

  在真實(shí)系統(tǒng)中測(cè)試多種順變電流以及故障情況往往很麻煩或難操作,但這一點(diǎn)可通過(guò)實(shí)時(shí)高精度電機(jī)仿真實(shí)現(xiàn)。在這之前,通過(guò)HIL測(cè)試以及標(biāo)準(zhǔn)電機(jī)D-Q模型來(lái)實(shí)現(xiàn)許多情況,例如電機(jī)終端上或直流和交流總線間的故障仿真,幾乎不可能完成。

  NI的HIL平臺(tái)可提供最高仿真度的實(shí)時(shí)仿真,讓您在開(kāi)發(fā)的早期階段就發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并優(yōu)化性能。全面的HIL測(cè)試可減少驗(yàn)證嵌入式軟件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試次數(shù),最終縮短產(chǎn)品上市時(shí)間,并提高開(kāi)發(fā)效率。


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