實(shí)時(shí)嵌入式產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

3 方案比較
3．1 兩種方案優(yōu)缺點(diǎn)比較
表1詳細(xì)比較了上述2套方案的優(yōu)缺點(diǎn)。第2種設(shè)計(jì)方案中，因?yàn)橛辛?a class="contentlabel" href="http://m.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/FPGA">FPGA器件，使得原來(lái)考慮不周的設(shè)計(jì)可以只重新配置硬件就得以修改，減少重新制版的周期、經(jīng)費(fèi)等一系列不確定因素，達(dá)到更廣泛的測(cè)試目的。

3．2 不同操作系統(tǒng)優(yōu)缺點(diǎn)比較
此外，方案的實(shí)行也可以考慮在工控機(jī)上直接運(yùn)行一些實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，如DOS、VxWorks等等。DOS是單任務(wù)實(shí)時(shí)系統(tǒng)，人機(jī)交互界面差，沒(méi)有網(wǎng)絡(luò)功能。表2比較了Windows+RTX和VxWorks兩種方案的優(yōu)缺點(diǎn)。

4 用例管理軟件設(shè)計(jì)
在軟件上層，需要設(shè)計(jì)出帶有數(shù)據(jù)庫(kù)的用例管理系統(tǒng)，它需要管理用例的定義、簡(jiǎn)介、組別、運(yùn)行時(shí)間、過(guò)程數(shù)據(jù)、結(jié)果數(shù)據(jù)，并能夠作用例回歸測(cè)試的用例管理層。用例運(yùn)行前需要收集用戶輸入的各種參數(shù)，并從相應(yīng)的文件位置提前把相關(guān)數(shù)據(jù)讀取到內(nèi)存里，提前準(zhǔn)備數(shù)據(jù)。用例運(yùn)行時(shí)，RTX層會(huì)有相應(yīng)的CPU空閑時(shí)間，而用例管理層會(huì)利用這段時(shí)間進(jìn)行運(yùn)行狀態(tài)的顯示。用例運(yùn)行結(jié)束后，相應(yīng)的標(biāo)志位會(huì)被置位，用例管理層讀到相應(yīng)的狀態(tài)后會(huì)主動(dòng)向RTX層索要運(yùn)行的各種數(shù)據(jù)和結(jié)果，并把相應(yīng)的數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫(kù)，寫(xiě)入日志，并呈現(xiàn)到界面上。

結(jié)語(yǔ)
試驗(yàn)證明，上述設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)在整機(jī)聯(lián)調(diào)過(guò)程中運(yùn)行狀態(tài)良好，符合對(duì)系統(tǒng)各個(gè)模塊功能全面測(cè)試的要求。本文針對(duì)目前嵌入式系統(tǒng)測(cè)試這一熱點(diǎn)問(wèn)題，提出了1種實(shí)時(shí)嵌入式軟件的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框架，并且按照這個(gè)思路實(shí)現(xiàn)了對(duì)黑盒(功能)測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)。下一步工
作就是開(kāi)發(fā)1個(gè)嵌入式軟件的通用測(cè)試平臺(tái)，能夠同時(shí)對(duì)多種型號(hào)、多種接口的嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。
此方案也適用于視頻圖像處理、視頻監(jiān)控系統(tǒng)。