NI聯合泰克等公司主辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”

繼2004和2005年連續(xù)在中國地區(qū)成功舉辦兩屆“設計、驗證及測試論壇”（Design Validation Test Forum，即DVTF）之后，美國國家儀器中國有限公司（National Instruments，簡稱NI）宣布即將于今年9月21日在北京天鴻科園大酒店主辦第三屆DVTF活動。除了兩年來王牌的自動化測試主題，嵌入式系統設計也將成為今年的亮點。

延承以往的傳統，DVTF 2006聯合了泰克科技、EWB（Electronics WorkBench）、聲望聲電，以及北京中科泛華、上海聚星儀器等行業(yè)知名公司共同參與，力求將DVTF打造成一個測試測量自動化以及設計行業(yè)權威的品牌活動，為廣大測試測量行業(yè)的工程技術人員提供一個絕佳的平臺，不但可以與行業(yè)專家面對面地交流，了解最新的技術趨勢，而且還可以同時觀摩多家參與企業(yè)的演示從而獲得最佳的解決方案。

全天的活動將分為嵌入式系統設計和測試專題與自動化測試專題兩個板塊同時進行。嵌入式系統設計和測試專題包括：“如何縮短嵌入式系統的設計周期”，“無需掌握VHDL，體驗圖形化的FPGA編程 ”，“電路設計與仿真最新技術介紹”等；自動化測試專題包括：“最新PCI Express和測試測量總線技術”，“射頻領域和多種行業(yè)領域內NI的解決方案”，“支持多種傳感器信號的便攜式數據采集系統”等。所有議程主題均是充分考慮到設計和測試兩個領域工程師的實際需求和未來挑戰(zhàn)而準備的。

除了兩項專題之外，本次DVTF還特設“測試經理高峰論壇”專場，邀請各領域公司的高級測試經理參與交流討論，共同應對和解決市場快速發(fā)展下產生的各種挑戰(zhàn)。該專場座席有限，憑確認函入場。