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納米技術(shù)在微電子連接上的設(shè)計(jì)應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2010-04-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

圖4 銀納米粉粒子模式圖

這種納米粒子的功能在其有機(jī)外殼熱分解去除后便展示出來。圖5顯示了銀納米粒子的熱分析結(jié)果(DTA/TG曲線)。從DTA曲線來看,在發(fā)熱反應(yīng)開始的同時(shí),粒子質(zhì)量迅速減少,可以認(rèn)為這時(shí)的有機(jī)外殼已被分解與去除。而且,當(dāng)提升加熱速度時(shí),分解溫度則向高溫側(cè)移動(dòng)。圖6顯示了分解結(jié)束溫度與加熱速度的關(guān)系,從圖可知,即使把加熱速度加快到20℃/m,分解也在 265℃左右結(jié)束,在300℃以下出現(xiàn)納米粒子的功能。也就是說,在300℃以下可利用該納米粒子進(jìn)行

圖5 銀納米粒子熱分析結(jié)果(DTA/TC曲線)



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圖6 有機(jī)外殼分解結(jié)束溫度與加熱溫度的關(guān)系

2 有機(jī)物―銀復(fù)合納米粒子的特點(diǎn)

日本大阪大學(xué)銅質(zhì)圓板型試驗(yàn)片作銀納米粒子試驗(yàn),分別測出了銀微米粒子(平均粒徑為100nm)和銀納米粒子的脆斷強(qiáng)度(見圖7)。其中,該試驗(yàn)是在300℃、保溫300min、加壓5Mpa的條件下進(jìn)行的。如圖7所示,納米粒子連接與微粒子連接相比,顯示出了很高的脆斷強(qiáng)度。

圖7 脆斷強(qiáng)度結(jié)果

用電鏡分別對各自的連接斷面觀察,發(fā)現(xiàn)用銀微米粒子的場合,其與銅的連接面有空隙狀缺陷。銀微米粒子的觸點(diǎn)破壞發(fā)生在銀/銅界面,所得的5Mpa左右的觸點(diǎn)強(qiáng)度被認(rèn)為是兩者簧片的機(jī)械連接結(jié)果。而銀納米粒子的觸點(diǎn)破壞面被認(rèn)為是銀伸長而塑性變形的痕跡,其在界面附近的銀層中會斷裂(圖8)。由此可見,用銀納米粒子連接比用銀微粒子連接的界面強(qiáng)度更高。



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