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高速A/D轉(zhuǎn)換器TLC5540及其應(yīng)用

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作者:陳一新 時(shí)間:2006-10-09 來源:國外電子元器件 收藏
1 概述      

是美國德州儀器公司推出的高速8位A/D轉(zhuǎn)換器。它的最高轉(zhuǎn)換速率可達(dá)每秒40兆字節(jié)。采用了一種改進(jìn)的及CMOS工藝,因而大大減少了器件中比較器的數(shù)量,而且在高速轉(zhuǎn)換的同時(shí)能夠保持低功耗。在推薦工作條件下,其功耗僅為75mW。由于具有高達(dá)75MHz的模擬輸入帶寬以及內(nèi)置的采樣保持電路,因此非常適合在欠采樣的情況下應(yīng)用。另外,TLC5540內(nèi)部還配備有標(biāo)準(zhǔn)的分壓電阻,可以從+5V的電源獲得2V滿刻度的參考電壓,并且可保證溫度的穩(wěn)定性。 TLC5540可廣泛應(yīng)用于數(shù)字電視、醫(yī)學(xué)圖象、視頻會(huì)議、CCD掃描儀、高速數(shù)據(jù)變換及QAM調(diào)制器等應(yīng)用方面。

2 引腳功能

引腳排列

TLC5540采用NS型塑料帖片封裝,其引腳排列如圖1所示。其引腳功能如下:

      AGND(20,21):模擬信號地線;

      ANALOG IN(19):模擬信號輸入端;

      CLK(12):時(shí)鐘輸入端;

      DGND(2,24):數(shù)字信號地線;

      D1~D8(3~10):數(shù)據(jù)輸出端。D1為低位,D8為高位;

      OE(1):輸出使能端。當(dāng)OE為低時(shí),D1~D8數(shù)據(jù)有效,當(dāng)OE為高時(shí),D1~D8為高阻抗;

      VDDA(14,15,18):模擬電路工作電源;

      VDDD(11,13):數(shù)字電路工作電源;

      REFTS(16):參考電壓引出端之一;

      REFT(17):參考電壓引出端之二;

      REFB(23):參考電壓引出端之三;

      REFBS(22):參考電壓引出端之四。

tlc5540的內(nèi)部結(jié)構(gòu)

3 內(nèi)部結(jié)構(gòu)與運(yùn)行時(shí)序

TLC5540的內(nèi)部結(jié)構(gòu)見圖2所示。它包含有時(shí)鐘發(fā)生器,內(nèi)部參考電壓分壓器,1套高4位采樣比較器、編碼器、鎖存器,2套低4位采樣比較器、編碼器和一個(gè)低4位鎖存器。

TLC5540 的外部時(shí)鐘信號CLK通過其內(nèi)部的時(shí)鐘發(fā)生器產(chǎn)生3路內(nèi)部時(shí)鐘,用于驅(qū)動(dòng)3組斬波穩(wěn)零結(jié)構(gòu)的采樣比較器。參考電壓分壓器則為這3組比較器提供參考電壓。其中低位比較器的參考電壓是高位比較器的1/16。采用輸出信號的高4位由高4位編碼器直接提供,低4位的采樣數(shù)據(jù)則由兩個(gè)低4位的編碼器交替提供。其中低 4位比較器是對輸入信號的“殘余”部分進(jìn)行變換的(時(shí)間為高4位的兩倍),因此與標(biāo)準(zhǔn)的相比,這種變換方式可減少30%的采樣比較器,并且具有的采樣率。

tlc5540的運(yùn)行時(shí)序

TLC5540的運(yùn)行時(shí)序見圖3。時(shí)鐘信號CLK在每一個(gè)下降沿采集模擬輸入信號,第N次采集的數(shù)據(jù)經(jīng)過3個(gè)時(shí)鐘周期的延遲之后,送到內(nèi)部數(shù)據(jù)總線上。此時(shí)如果輸出使能OE有效,則數(shù)據(jù)可由CPU讀取或進(jìn)入緩沖存貯器。其中,時(shí)鐘的高、低電平持續(xù)時(shí)間tW(H)、tw(L)最小為12.5ns,時(shí)鐘周期是了小為25ns,因此最高采樣速率為40MSPS。圖中tpd為數(shù)據(jù)輸出延遲時(shí)間,典型值為9ns,最大為15ns;tPHZ、tPLZ為數(shù)據(jù)輸出端有效至高阻的延遲時(shí)間,最大為20ns;tPZH、tPZL為數(shù)據(jù)輸出端從高阻轉(zhuǎn)為有效的延遲時(shí)間,最大為15ns。

4 參考電壓配置

參考電壓配置

TLC5540可使用外部和內(nèi)部兩種參考電壓。其參考電壓配置見圖4所示。外部參考電壓從REFT和REFB接入,并應(yīng)滿足VREFB+1.8V≤VREF≤VDDA, 0≤VREFB≤VREFB-1.8V和1.8V≤VREFT-VREFB≤5V。模擬輸入電壓范圍為VREFB≤VREFT。對于從零電平開始的正極性模擬輸入電壓,REFB應(yīng)接模擬地AGND。VREFT范圍為1.8V~5V。如使用外部參考電壓,則可獲得較高的精度和較小的噪聲。

如果要簡化電路,可利用TLC5540的內(nèi)部分壓電阻從模擬電源電壓VDDA取得參考電壓。內(nèi)部電壓R1、Rref和R2的標(biāo)稱值分別為320Ω、270Ω和80Ω。圖4(a)的配置適用于模擬輸入電壓范圍+0.61V~+2.6V的情況,圖4(b)的輸入電壓范圍為0~+2.28V。由于R1的下端連接外部濾波電容,故R1也兼作濾波電阻。若將圖4(b)中的R1短接,則輸入電壓范圍0~+5V。

5 應(yīng)用

典型的云耦連接配置圖

為了保證TLC5540的工作性能,系統(tǒng)電源應(yīng)采用線性穩(wěn)壓電源而不是開關(guān)電源。VDDA和VDDD應(yīng)就近與AGND和DGND連接一個(gè)0.1μF的高頻陶磁濾波電容。圖5為其典型的云耦連接配置圖。其中FB1~FB3為高頻磁珠,模擬供電電源AVDD經(jīng)FB1~FB3為三部分模擬電路提供工作電流,以獲得更好的高頻去耦效果。

tlc5540 的一種應(yīng)用參考電路

TLC5540 的一種應(yīng)用參考電路見圖6。該電路分為兩個(gè)工作狀態(tài):采樣狀態(tài)和讀出狀態(tài)。當(dāng)主控CPU發(fā)出啟動(dòng)命令后,RS觸發(fā)器U8的Q=0,電路進(jìn)入采樣工作狀態(tài)。當(dāng)TLC5540的OE=0時(shí),數(shù)據(jù)開放。同時(shí),時(shí)鐘信號CLK通過U4和U7分別控制存貯器U6的讀寫控制端WE和片選端CS,并將采樣數(shù)據(jù)寫入存貯器 U6的內(nèi)部單元。地址計(jì)數(shù)器U5為多級可預(yù)置同步加法計(jì)數(shù)器,時(shí)鐘CLK通過多路開關(guān)驅(qū)動(dòng)U5,在采樣數(shù)據(jù)穩(wěn)定后提供新的存貯地址。在整個(gè)采樣狀態(tài)下, CPU不干預(yù)電路的工作,直至地址計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)溢出,高位輸出信號Q13使RS觸發(fā)器U8翻轉(zhuǎn),Q=1,電路進(jìn)入讀出狀態(tài)。之后,TLC5540的OE= 1,輸出數(shù)據(jù)被封鎖。同時(shí),存貯器U6的OE=0,采樣數(shù)據(jù)可從內(nèi)部讀出。U6的讀出地址仍由地址計(jì)數(shù)器U5提供,可以順序讀出或隨機(jī)讀出。順序讀出時(shí),由多路開關(guān)U1的輸入信號G控制,G的每一個(gè)跳變使地址增加1。隨機(jī)讀出時(shí),由CPU地址總線提供的地址數(shù)據(jù)A0~A12置入地址計(jì)數(shù)器U5,在G的一次跳變后,有效地址即出現(xiàn)在U5的輸出端Q0~Q12上。存貯器數(shù)據(jù)總線出現(xiàn)相應(yīng)地址內(nèi)的采樣數(shù)據(jù),以供CPU讀取。

由于采樣狀態(tài)下的時(shí)鐘頻率可能高達(dá)40MHz,故存貯器U6、地址計(jì)數(shù)器U5以及其它部件均應(yīng)具有相應(yīng)的速度和盡可能小的信號延遲,以使各部件的協(xié)同工作滿足TLC5540及存貯器的時(shí)序要求。該電路采用標(biāo)準(zhǔn)引腳的RAM芯片,還可采用雙端口RAM或FIFO存貯器,它們均有較高的運(yùn)行速度,并可簡化電路設(shè)計(jì)。

6 小結(jié)

由于TLC5540采用了改進(jìn)的,因而具有高速率、低功耗和低價(jià)格的特點(diǎn)??蓱?yīng)用在數(shù)字電視、醫(yī)學(xué)圖像、視頻會(huì)議、CCD掃描儀、高速數(shù)據(jù)變換及QAN調(diào)制等應(yīng)用方面。



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