SYNPLICITY 推出 TOTALRECALL
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新技術實現(xiàn)了高速驗證,全面了解問題所在
業(yè)界領先的半導體設計與驗證軟件供應商 Synplicity 公司(納斯達克上市代號:SYNP)日前發(fā)布了其 TotalRecall™完全可視化技術的詳細說明。Synplicity 相信這項新技術使設計人員能夠迅速找出問題所在并確保排除故障,從而大幅提高 FPGA 原型設計在 ASIC 驗證工具中的使用率。TotalRecall 技術使調(diào)試過程中的可視化程度達到甚至超過模擬器,且其運行速度是模擬器的 10 倍乃至 100 倍。此外,該創(chuàng)新型技術還能捕獲故障發(fā)生前和之后的全部信號信息。
TotalRecall 技術能捕獲整個設計(模塊或完整芯片)過程中的所有信號,其中包括存儲器狀態(tài)、故障發(fā)生點之前用戶定義的周期數(shù)等。整個設計狀態(tài)以及自動生成的測試工作臺隨后可導出至 HDL 模擬器,根據(jù)需要多次重放,直到找出問題并確保故障排除為止。TotalRecall 專利技術的獨特性在于,我們能用與第一處故障的信號完全相同的信號值在模擬環(huán)境中檢測故障是否成功排除。
TotalRecall 技術通過在硬件中集成斷言功能還可支持強大的硬件驗證技術。許多 IC 設計人員在設計流程中使用斷言功能,但由于模擬速度較慢,難以充分發(fā)揮驗證功能。在 FPGA 硬件中合成斷言功能后,由于斷言檢測的速度提高,我們可以全面采用斷言功能,從而有助于驗證工作。舉例來說,如果我們在手機引導程序(boot up sequence)中只采用軟件模擬器的話,那么完成引導程序時間會超過 30 天。但如果采用運行速度達 20 MHz 的 FPGA 原型設計,那么相同的引導程序所需時間僅為 3 秒鐘,從而能全面發(fā)揮斷言功能,以便快速檢測故障并確保故障被有效而迅速排除[1]。我們將 FPGA 原型設計、斷言合成以及 TotalRecall 技術完美結合在一起,不僅能夠快速檢測故障,而且還能避免采用其他方法進行驗證時可能發(fā)生的故障漏檢或無法檢測到的情況。
Synplicity 的總裁兼首席執(zhí)行官 (CEO) Gary Meyers 指出:“就提高調(diào)試可視性和工作效率而言,TotalRecall 技術邁出了激動人心的一步。TotalRecall 技術結合了 FPGA 原型設計現(xiàn)有的高性能與低成本優(yōu)勢,將使原型設計方法成為 ASIC 驗證的首選方法?!?
與其他解決方案不同,TotalRecall 技術還可用來查找實時運行硬件條件下的非確定性故障。對這類故障以及其他少見故障來說,我們幾乎不可能確定通過修改 RTL 代碼就能真正地排除故障。在此情況下,我們將 TotalRecall 技術與 FPGA 原型設計的高速度相結合,就能在故障發(fā)生前后實現(xiàn)全面的設計可視性,并為用戶提供故障是否排除所需的完整環(huán)境,這一功能是非常獨特的。
Synplicity 看好 TotalRecall 技術的前景,認為它能與項目以外的合作伙伴的技術實現(xiàn)完美集成,特別適于配合原型設計項目合作伙伴的技術。Synplicity 將開發(fā)參考設計流程,并與各大模擬環(huán)境進行集成。我們將在 2007 年年中提供采用 TotalRecall 技術的產(chǎn)品的更多詳情。
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