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基于GPIB和計(jì)算機(jī)并行口的SoC自動(dòng)化測(cè)試方案

作者: 時(shí)間:2011-09-02 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
測(cè)試流程及結(jié)論

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/194754.htm

  利用之前設(shè)計(jì)的硬軟件模塊可以完成自動(dòng)化測(cè)試。圖2為測(cè)試系統(tǒng)框架,

  

  圖2 測(cè)試系統(tǒng)框架

  圖3為利用該系統(tǒng)測(cè)試得到的一個(gè)數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出信號(hào)的時(shí)域波形,

  

合成信號(hào)時(shí)域波形

  圖3 合成信號(hào)時(shí)域波形

  圖4所示為利用該系統(tǒng)得到的該信號(hào)的頻譜特性。

  

  圖4 合成信號(hào)頻譜特性

  通過相關(guān)的接口總線對(duì)設(shè)備的控制指令控制頻譜儀,可以使頻譜的捕捉在4秒鐘內(nèi)完成,整個(gè)測(cè)試流程在1分鐘內(nèi)完成,有效地節(jié)約了測(cè)試時(shí)間。在多片測(cè)試中,測(cè)試員啟動(dòng)批處理文件就可以完成快速測(cè)試流程。對(duì)比傳統(tǒng)測(cè)試方案,該方案不需要反復(fù)更換測(cè)試儀器探頭及調(diào)試測(cè)試儀器,只需要更換開關(guān)電源及待測(cè)芯片即可。


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