用并行口進行數(shù)據(jù)采集與控制
1.通用數(shù)據(jù)采集卡的結構及工作原理
通用數(shù)據(jù)采集卡的結構如圖1所示,包括微弱信號放大、通道轉(zhuǎn)換控制、時基發(fā)生器、時序控制器、采樣/保持控制、A/D轉(zhuǎn)換控制、D/A轉(zhuǎn)換控制、轉(zhuǎn)換驅(qū)動電路、數(shù)據(jù)讀入、讀出接口控制幾部分。其工作原理是被測量(如:溫度、壓力、流量、速度等)經(jīng)相應的傳感器轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過微弱信號放大器(包括電壓放大器、電流――電壓轉(zhuǎn)換、電荷放大器及低通濾波器)后,弱小的信號放大到與A/D轉(zhuǎn)換輸入電壓相匹配;通道轉(zhuǎn)換控制完成多路被測量或被控量輪流切換,分時與模數(shù)、數(shù)模轉(zhuǎn)換電路接通的任務;時基發(fā)生器為A/D、D/A轉(zhuǎn)換提供時鐘信號或啟動信號;時序控制器用來控制A/D轉(zhuǎn)換、D/A轉(zhuǎn)換的正確進行;采樣/保持電路保證A/D轉(zhuǎn)換期間,保持輸入信號不變,它對A/D轉(zhuǎn)換的精度起著決定性的影響;轉(zhuǎn)換驅(qū)動電路完成對D/A轉(zhuǎn)換控制輸出信號的轉(zhuǎn)換及功率放大;數(shù)據(jù)讀入、讀出接口控制電路完成與并行口的連接。
圖4 存儲測試系統(tǒng)原理框圖 |
圖5 ××彈膛內(nèi)加速度曲線
2.通用數(shù)據(jù)采集卡的應用
數(shù)據(jù)采集卡的形式是多種多樣的,在此僅介紹兩種最基本的形式。
2.1 專用的數(shù)據(jù)采集卡
專用數(shù)據(jù)采集卡只對某種或某類特定的被測信號進行采集,即它具有固定的采樣頻率、記錄方式,通常只需要幾個芯片就可以實現(xiàn)。圖2給出了一種專用的數(shù)據(jù)采集卡電原理圖。
圖3給出了利用上述裝置測得的×彈膛壓曲線。
2.2 存儲測試裝置
圖4是存儲測試系統(tǒng)原理框圖。它的工作原理是:自復位后存儲測試系統(tǒng)就不斷對信號采樣轉(zhuǎn)換并循環(huán)地寫入存儲器,觸發(fā)事件到來時,啟動延遲計數(shù)器(模塊⑥)按采樣頻率計數(shù),直到計滿設定值,停止這一記錄過程。這時的存儲器地址就是記錄的起始地址,這個地址雖是隨機的,但由于我們記錄的只是一個過程,因此完全可以通過數(shù)據(jù)形式,得到所需要的有用信號。
由這類電路構成的裝置可以有效捕獲單次瞬變信號,比如車輛碰撞、彈丸發(fā)射、炸藥爆炸等一次性瞬間信號。
圖5給出了由上述存儲測試系統(tǒng)獲取的××彈發(fā)射時膛內(nèi)加速度曲線。
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