精確測量ADC驅(qū)動電路建立時間

　　圖 6 對圖 5 進行了比例放大，充分說明了圖 5 所示的建立時間行為

　　圖 6 為圖 5 的放大圖，以更精確地顯示運算放大器的輸出建立時間。盡管輸出代碼是基于 16 位采樣的，但由于采集了 65536 個樣本，并對每個讀數(shù)值求取了平均值，所以測量的精度會超過 16 位。測量結(jié)果顯示了在不使用電容器時，比較明顯的振鈴以及較少的系統(tǒng)衰減，同時也表明較大電容器 (電容值為 1000pF) 的使用會大大增加建立時間。

　　結(jié)果匯總見表 1。

　　表 1 邊緣位移方法與傳統(tǒng)方法的比較

　　*16 位 LSB 誤差= 0.0015%

　　求取輸出數(shù)據(jù)的平均值可以得到超過 16 位的測量精度

　　 圖 7 更改反饋電阻的影響

　　偏置電流測量

　　圖 7 顯示了設(shè)置不同電阻值的反饋電阻的情況下運算放大器的建立行為。固定電壓 (settled voltage) 之間的不同表明了偏置電流導(dǎo)致了失調(diào)電壓漂移，從而可計算出偏置電流值為 3 μA，這與 THS4031 的典型規(guī)范相符合。此項試驗可驗證該設(shè)置的正確性。

　　偏置電流計算

　　0Ω ?反饋電阻的固定值為 59595，而 301Ω 反饋電阻的固定值為 59610。Δ(失調(diào)電壓)=偏置電流×電阻器(用于反饋)。

　　結(jié)語

　　該方法主要用于精確測量 ADC 驅(qū)動電路的建立時間，既簡單又實用。由于設(shè)置中沒有增加額外的組件，所以測量工作并不會影響建立行為。該方法將來可用來進行內(nèi)置自測 (BIST)。求取多個數(shù)值的平均值使測量結(jié)果更為精確。