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電源測(cè)試大全(二):可靠性測(cè)試

作者: 時(shí)間:2016-12-09 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

電壓的能力。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201612/328428.htm

  測(cè)試方法:

  過(guò)電壓線(xiàn)路的模擬十分簡(jiǎn)單,原理如下:

  其中電感的參數(shù)為10mH(供參考:EES的模塊測(cè)試方法中,沒(méi)有接地電容,輸入電阻與電感串聯(lián),電阻值為0歐、電感為8mH和電阻為79歐、電感為10mH兩種情況的測(cè)試),電容為16.7uF,測(cè)試波形如下(未畫(huà)出)。

  將被測(cè)試的設(shè)備連接在電容兩端,在K合閘瞬間,在電容兩端會(huì)產(chǎn)生過(guò)電壓,用來(lái)模擬在上電過(guò)程中,過(guò)電壓對(duì)設(shè)備的損害程度。作為極限測(cè)試項(xiàng)目,輸入接L、N線(xiàn),將被測(cè)試的設(shè)備接在電容兩端,頻繁開(kāi)關(guān)機(jī),重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試5小時(shí)。對(duì)于三相輸入設(shè)備,輸入接在L、L線(xiàn)上,被測(cè)試設(shè)備接在電容兩端,重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試2小時(shí)。

  判定標(biāo)準(zhǔn):

  在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)短時(shí)功能下降或性能劣化,但能自動(dòng)恢復(fù)的,合格;但出現(xiàn)性能永久性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復(fù)的,不合格。


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