ATE推動(dòng)WiMAX射頻測(cè)試
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測(cè)試開發(fā)期間，測(cè)試者應(yīng)恰當(dāng)安排測(cè)試儀資源，使負(fù)載板的復(fù)雜度最低。從測(cè)試工程師的角度看，這使得依照測(cè)試儀交付平面來(lái)校準(zhǔn)射頻信號(hào)電平的工作能夠自動(dòng)完成。器件設(shè)計(jì)應(yīng)使最終組裝產(chǎn)品的PCB上的元件數(shù)量最少，并因此降低材料成本。同理，ATE負(fù)載板的元件也應(yīng)盡可能少。元件數(shù)量最少的“潔凈”負(fù)載板需要的設(shè)計(jì)、布局、構(gòu)建、調(diào)試時(shí)間較短，并且事實(shí)證明，它們?cè)谂可a(chǎn)時(shí)也更可靠。
為了測(cè)試MIMO器件，測(cè)試儀需要提供多個(gè)接收器來(lái)并行記錄器件的發(fā)射信號(hào)。它把記錄的波形傳輸給調(diào)制分析包，后者能與多個(gè)輸入流連接，并分析綜合信息。同樣的流程適用于接收路徑，此處的多個(gè)數(shù)字記錄引擎需要同時(shí)記錄來(lái)自各器件接收器的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
一個(gè)2×2 MIMO器件有2個(gè)輸入接收端口和2個(gè)輸出發(fā)射端口。若要在4站點(diǎn)環(huán)境中測(cè)試此類器件，則測(cè)試儀必須提供8條射頻供應(yīng)信道和8條射頻記錄信道。為避免在器件接口板(DIB)上使用分配器或射頻開關(guān)，ATE需要提供16個(gè)射頻端口。
四站點(diǎn)應(yīng)用需要4路高純度基準(zhǔn)時(shí)鐘輸入，每路用于每個(gè)DUT的合成器。時(shí)鐘輸入的相位噪聲必須很低，這至關(guān)重要，這是由于時(shí)鐘相位噪聲會(huì)影響器件的性能。配備良好時(shí)鐘源的測(cè)試儀在DIB上無(wú)需分配器或晶體。晶體具有良好的相位噪聲，但它們的頻率并未鎖定到ATE，因此它們可能會(huì)導(dǎo)致數(shù)字同步問(wèn)題。因此，如果測(cè)試儀不需要晶體，測(cè)試者就將獲得更好的測(cè)試結(jié)果。
WiMAX器件面臨的測(cè)試難題
WiMAX器件必須經(jīng)歷一系列測(cè)試，來(lái)確保它們用在無(wú)線電設(shè)備中時(shí)將會(huì)恰當(dāng)工作。這系列測(cè)試一般包括：
* 連續(xù)性與泄漏測(cè)試，以便確保封裝和靜電放電保護(hù)正確；
* 數(shù)字類型測(cè)試（包括掃描格式的一些測(cè)試）；
* 對(duì)轉(zhuǎn)換器的傳統(tǒng) INL、DNL、THD性能測(cè)量；
* 對(duì)DUT各種工作模式的電源功耗測(cè)量；
* 射頻收發(fā)操作，以便測(cè)試正弦波信號(hào)和調(diào)制信號(hào)的規(guī)格。
首先可以測(cè)試來(lái)確定器件是否在工作，是否需要進(jìn)一步測(cè)試。但是這一步的時(shí)間效率也許不高，這取決于成品率和測(cè)試方法。
你也許不必按照上述順序執(zhí)行測(cè)試，這是因?yàn)橐恍y(cè)試儀在后臺(tái)執(zhí)行DSP功能時(shí)，還可同時(shí)執(zhí)行其它測(cè)試，比如需要大型數(shù)字圖案的測(cè)試。提供此類并行測(cè)試的測(cè)試儀能幫助優(yōu)化總測(cè)試時(shí)間。
隨著器件變得更加復(fù)雜，對(duì)于設(shè)計(jì)者而言，在其中包含“面向測(cè)試的設(shè)計(jì)”特性就變得至關(guān)重要起來(lái)。例如，一條測(cè)試總線的若干測(cè)試模式被設(shè)計(jì)到了DUT中，它幫助把信號(hào)輸送到正常工作時(shí)不使用的觀察點(diǎn)。這種可見性幫助測(cè)試工程師準(zhǔn)確測(cè)試DUT的某個(gè)塊或部分。
對(duì)WiMAX收發(fā)器的射頻發(fā)射部分所做的經(jīng)典連續(xù)波(CW)測(cè)試包括輸出功率、載波和邊帶抑制測(cè)量。測(cè)試者還可執(zhí)行發(fā)射測(cè)試來(lái)測(cè)量本地振蕩器(LO)抑制。這并非常規(guī)發(fā)射測(cè)試，但他們應(yīng)該知道發(fā)射引腳位置有多少LO泄漏，并且因此被天線輻射了多少。這個(gè)電平很低，并且無(wú)法用經(jīng)典的CW方法來(lái)測(cè)試LO的相位噪聲。
在接收端，增益、增益線性、圖像抑制、三階截取(IP3)都是關(guān)鍵的CW測(cè)試。接收信號(hào)強(qiáng)度指標(biāo)(RSSI)是另一項(xiàng)應(yīng)該考慮的測(cè)試。對(duì)于RSSI，器件自己的接收電平指示提供了一項(xiàng)良好的接收功能基本測(cè)試。RSSI測(cè)試通常需要讀取寄存器值，這可能是非常方便的一步，尤其是在晶圓探測(cè)期間，此時(shí)滿負(fù)荷的射頻測(cè)試儀經(jīng)常不能供利用，并且在執(zhí)行一個(gè)測(cè)試子集。
射頻調(diào)制測(cè)試
調(diào)制測(cè)試按照器件在最終應(yīng)用中的使用方式來(lái)檢查器件。這提供了一個(gè)優(yōu)勢(shì)——對(duì)無(wú)線電設(shè)備作為完整系統(tǒng)的性能執(zhí)行測(cè)量。
對(duì)發(fā)射端做的一項(xiàng)典型調(diào)制測(cè)試就是誤差矢量幅度(EVM)，也稱作接收器星座誤差(RCE)。EVM測(cè)量星座點(diǎn)距離理想值有多遠(yuǎn)，EVM越低越好（圖3）。
圖3，EVM計(jì)算表明了基準(zhǔn)與星座圖上的觀察點(diǎn)之間的差異，這是由相位誤差和幅度誤差引起的。
在理想的情況下，調(diào)制信號(hào)的星座點(diǎn)將位于各自的理想位置。但由LO的相位噪聲、非線性、圖像抑制和其它問(wèn)題引起的器件缺陷會(huì)導(dǎo)致星座點(diǎn)處于不理想的位置，因此限制數(shù)據(jù)速率。
信道掩碼測(cè)試是另一項(xiàng)常見的調(diào)制發(fā)射測(cè)試，記錄到比信道更寬的帶寬，并且測(cè)量工作信道之外的信號(hào)電平，來(lái)確保它是低電平，并處于規(guī)格之內(nèi)。
對(duì)于接收路徑，測(cè)試經(jīng)常測(cè)量EVM和誤碼率。BER是錯(cuò)誤比特與正確比特之比，越小越好。BER測(cè)試對(duì)DUT收到的調(diào)制射頻信號(hào)做測(cè)量，并計(jì)算正確接收和錯(cuò)誤接收的比特?cái)?shù)量。BER測(cè)試一般很耗時(shí)，這是因?yàn)樗ê荛L(zhǎng)時(shí)間來(lái)測(cè)試很低的BER電平。
射頻調(diào)制測(cè)試也可用于濾波器測(cè)試。一種包含1個(gè)基帶分量和3至6個(gè)滾降帶和阻帶分量的多音信號(hào)可用于迅速確定器件濾波器的3 dB點(diǎn)和阻帶性能。這種多音信號(hào)方法可用于接收濾波器和發(fā)射濾波器，主要優(yōu)點(diǎn)是在數(shù)字域或視頻域只需要一次記錄。
調(diào)制測(cè)試提供關(guān)于DUT在完整系統(tǒng)中的性能的有用信息。如果DUT未能通過(guò)這些測(cè)試，則它們的工作表現(xiàn)很可能不會(huì)令人滿意。遺憾的是，在生產(chǎn)環(huán)境中很難準(zhǔn)確指出是器件的哪個(gè)塊導(dǎo)致了問(wèn)題。如需確定邊際射頻性能，CW測(cè)試和調(diào)制測(cè)試應(yīng)被認(rèn)為是必要的。
臺(tái)式設(shè)備幫助完成特征描述
射頻器件的特征描述是在開發(fā)臺(tái)上完成的，一些實(shí)驗(yàn)室設(shè)備專門用來(lái)模擬器件在最終使用中的工作狀況，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)測(cè)試器件。該過(guò)程涉及面廣泛而耗時(shí)，并需要大量臺(tái)式設(shè)備。
由于使用了與ATE領(lǐng)域相同的工具，因此實(shí)驗(yàn)室人員和生產(chǎn)人員有機(jī)會(huì)更密切合作，并使用符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和射頻標(biāo)準(zhǔn)的相同波形和分析方法。實(shí)驗(yàn)室人員在實(shí)驗(yàn)室中需要耗費(fèi)的小時(shí)數(shù)將會(huì)減少，而生產(chǎn)人員將更快獲得與器件設(shè)置條件、寄存器值等等有關(guān)的各種問(wèn)題的答案。
今天的實(shí)驗(yàn)室人員和生產(chǎn)人員能比前輩們更輕松地共享數(shù)據(jù)，這是因?yàn)槎鄶?shù)較新式的ATE系統(tǒng)均基于PC，并且運(yùn)行Windows操作系統(tǒng)。這些系統(tǒng)能對(duì)許多器件迅速運(yùn)行測(cè)試，并能在需要時(shí)，用不同電源軌來(lái)迅速重新運(yùn)行測(cè)試，并且測(cè)試結(jié)果可被自動(dòng)導(dǎo)出到Excel工作簿等等電子數(shù)據(jù)表中。工程師們?nèi)缓竽芤詧D形方式繪制測(cè)試結(jié)果，這帶來(lái)了方便的可視化分析以及與其他團(tuán)隊(duì)成員和管理層之間的共享。
在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)過(guò)程中使用相同的分析工具，可極大增加臺(tái)式測(cè)量與ATE測(cè)量之間建立相關(guān)性的機(jī)會(huì)，但仍需要技巧來(lái)處理兩個(gè)地點(diǎn)所用的不同DUT插座等等因素。另外，ATE板很可能將比實(shí)驗(yàn)室評(píng)估板厚許多，并且電源解耦位置和射頻信號(hào)交付路線也將不同，需要測(cè)試工程技巧。
但是，由于調(diào)制工作所用的工具相同，因此綜合團(tuán)隊(duì)在實(shí)驗(yàn)室的工作將會(huì)更少，在測(cè)試儀上開展的工作會(huì)更多，會(huì)更快并以更大的批量交付工程樣品。擁有相同的ATE和臺(tái)式調(diào)制調(diào)試顯示器和設(shè)置文件也很有幫助。根本之處在于能及時(shí)交付經(jīng)過(guò)全面測(cè)試并且符合客戶期望的WiMAX器件。
評(píng)論