HARQ測試原理及其TD-LTE基站性能測試方案

如果測試環(huán)境確實希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測試。典型的測量系統(tǒng)如圖3所示。

圖3：N5182B/72B MXG-B測試系統(tǒng)

2.2 軟件平臺

PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號，并實時地調(diào)整編碼冗余因子。

圖4：上行信號配置

圖5：HARQ設置

2.3 反饋信號格式

基站下發(fā)給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進行編碼，PXB或N5182B/72B根據(jù)相同的編碼速率和格式進行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個比特組成，1個起始位，1個停止位，無奇偶校驗位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。

表2：ACK/NACK編碼格式（LSB）

3 測試結(jié)果

按照測試結(jié)構(gòu)圖搭建好測試系統(tǒng)并配置軟件平臺，啟動基站及PXB或N5182B/72B，同時在示波器和基站控制端觀察測試結(jié)果。

圖6： PXB或N5182B/72B實時響應

圖6為示波器上觀察到的PXB或N5182B/72B實時響應。通道1、2、3和4分別為上行信號幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號I/Q數(shù)據(jù)以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應（高電平為ACK，低電平為NACK）。如圖所示，HARQ時序響應與標準協(xié)議完全相符。

基站端對上行射頻信號進行分集接收并解調(diào)，然后通過CRC校驗對接收結(jié)果作出判斷，最后得到在特定衰落模型下的系統(tǒng)吞吐率。

根據(jù)3GPP TS 36.141規(guī)定，選取PUSCH，20MHz帶寬信號作為測試案例。在2根接收天線，Normal CP下，按照列出的前10個Case依次測試，結(jié)果如下：

表3：PUSCH，20MHz 帶寬下PUSCH性能測試結(jié)果

4 結(jié)論

結(jié)果表明，系統(tǒng)完全滿足標準測試要求。測試過程透明可見，結(jié)果顯示直觀可信。同時，該測試系統(tǒng)在不添加任何硬件配置的情況下，僅僅通過軟件配置即可實現(xiàn)1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，從而實現(xiàn)基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能測試，是TD-LTE基站性能測試的理想平臺。

推薦方案：安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB配合信號發(fā)生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整體解決方案；如果測試系統(tǒng)已有專用信道仿真器，則可使用安捷倫信號發(fā)生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最終測試。