更快地對高速存儲故障深入調(diào)試三大步驟

　　通過簡單的連接，對全部 DDR總線進(jìn)行64K深的高分辨率定時(shí)分析。64k深度信號可以從觸發(fā)前的100%調(diào)節(jié)到觸發(fā)后的100%。

　　獨(dú)特的高分辨率眼圖，可以識別百萬分之幾概率的故障信號。

　　可以從搜索功能中自動(dòng)設(shè)置全局標(biāo)尺（最多1024個(gè)）。

　　著色濾波功能可以識別軌跡的碼型，協(xié)助觀察內(nèi)存訪問情況。

　　協(xié)議解碼轉(zhuǎn)換命令，用于進(jìn)行功能性驗(yàn)證。

　　全局標(biāo)尺可以跟蹤波形和列表窗口。

　　對于使用同一時(shí)鐘的所有信號，使用眼圖測量可以一目了然地查看所有信號。

　　圖1中感興趣的測量包括：

　　時(shí)鐘周期測量。圖1中的系統(tǒng)是DDRII_400，時(shí)鐘周期是5ns。

　　使用標(biāo)尺測量數(shù)據(jù)有效窗口，或使用鼠標(biāo)在軌跡上移動(dòng)，確定轉(zhuǎn)換寬度的分布情況。

　　從有效命令（指令時(shí)鐘 （CK0）的上升沿，其中CS低，位于WRITE/ READ命令期間）到數(shù)據(jù)脈沖期間第一個(gè)數(shù)據(jù)選通的上升沿，測得的RAS/CAS等待時(shí)間。

　　從有效激活（指令時(shí)鐘的上升沿，S0 = 0，其中命令 = Activate）到有效WRITE/CAS測得的RAS/CAS時(shí)延。

　　刷新速率。

　　預(yù)充電間隔。

　　圖3：著色濾波器使工程師能夠迅速識別表明內(nèi)存訪問問題的碼型。

　　在圖1中，用標(biāo)尺標(biāo)出的明顯問題區(qū)域中，S0 （片選）偶爾會在CK0 （指令時(shí)鐘）上升沿的250ps范圍內(nèi)啟動(dòng)。

　　這可能要超出DDRII 400 建立/保持時(shí)間（Ts/Th）》600ps的指標(biāo)。為正確檢驗(yàn)建立時(shí)間和保持時(shí)間，我們必需使用高速示波器和探頭探測SDRAM上的CK0/CK0#和片選。如果Ts/Th對任何信號處于邊際狀態(tài)，那么它可能會導(dǎo)致間歇性的或持續(xù)的內(nèi)存故障。

　　在我們連接示波器探頭，檢定S0的Tsetup /Thold之前，我們可以使用邏輯分析儀上的眼圖測量功能，進(jìn)一步評估邊際定時(shí)關(guān)系。請看圖2中所示的眼圖：1. CK0是方形波。2. S0是三角形波，構(gòu)成了與CK0的上升沿有關(guān)的眼圖。3. S0上升時(shí)間慢可能是這個(gè)系統(tǒng)中間歇性系統(tǒng)故障的根本原因。邊沿慢使得眼圖變差，減少了建立時(shí)間（Tsetup）。4. 從百萬分之幾概率的故障信號中識別潛在問題。百萬分之幾的故障信號會在眼圖內(nèi)部顯示為綠色的斑點(diǎn)。在本例中，沒有證據(jù)表明存在故障信號。邊沿慢是主要問題。