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測(cè)試挑戰(zhàn):測(cè)試技術(shù)的分析

作者: 時(shí)間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
just: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  一些RFID設(shè)備使用了經(jīng)過優(yōu)化的面向特定應(yīng)用的專用通信機(jī)制。這種情況下,工程師需要一種分析儀能夠提供多種調(diào)制和編碼機(jī)制,可根據(jù)所使用的特定格式,對(duì)這些調(diào)制和編碼機(jī)制進(jìn)行編程調(diào)整。


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