測(cè)試挑戰(zhàn):測(cè)試技術(shù)的分析 作者: 時(shí)間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 just: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px"> 一些RFID設(shè)備使用了經(jīng)過優(yōu)化的面向特定應(yīng)用的專用通信機(jī)制。這種情況下,工程師需要一種分析儀能夠提供多種調(diào)制和編碼機(jī)制,可根據(jù)所使用的特定格式,對(duì)這些調(diào)制和編碼機(jī)制進(jìn)行編程調(diào)整。 上一頁 1 2 下一頁
評(píng)論