為高電壓測(cè)試選擇最佳電纜
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在探測(cè)臺(tái)上，轉(zhuǎn)換至同軸連接的影響可能更大，在這里，線纜和連接取決于晶片的大小以及器件方向（縱向或橫向）。如果把電纜電容考慮在內(nèi)，探測(cè)臺(tái)中的電容可能輕易達(dá)到納法量級(jí)，從而導(dǎo)致較長(zhǎng)的電容充電時(shí)間和測(cè)量建立時(shí)間。
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在探測(cè)臺(tái)上，轉(zhuǎn)換至同軸連接的影響可能更大，在這里，線纜和連接取決于晶片的大小以及器件方向（縱向或橫向）。如果把電纜電容考慮在內(nèi)，探測(cè)臺(tái)中的電容可能輕易達(dá)到納法量級(jí)，從而導(dǎo)致較長(zhǎng)的電容充電時(shí)間和測(cè)量建立時(shí)間。
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