安捷倫近場電磁干擾源探測定位解決方案
概述
如果一個新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI )預(yù)兼容測試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。而近場探頭配合頻譜分析儀查找干擾源,并驗證改進(jìn)效果是最常見易行的方法。
圖一 安捷倫X系列信號分析儀和N9311X-100 近場探頭
近場測試綜述
在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中,使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試,都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試,可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師,嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙,還是來自連接的電纜,或USB ,LAN 之類的通信接口。在這種情況下,我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。
近場 EMI 測量的問題在于使用近場探頭的測量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場測量的結(jié)果無法直接進(jìn)行數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換。但是存在一個基本原理:近場的輻射越大,遠(yuǎn)場的輻射也必然越大。所以使用近場探頭測量,實際上是一個相對量的測量,而不是精確的絕對量測量。使用近場探頭進(jìn)行 EMI 預(yù)兼容測試時,我們常常把新被測件測試結(jié)果和一個已知合格被測件的近場探頭測試(近場測試)結(jié)果進(jìn)行比較,來預(yù)測EMI 輻射泄漏測試(遠(yuǎn)場測試)的結(jié)果,而不是直接和符合EMI兼容標(biāo)準(zhǔn)的限制線進(jìn)行比較。同時,測試的絕對數(shù)值意義也不大,因為這個測試結(jié)果和諸多變量,包括探頭的位置方向、被測件的形狀等會密切相關(guān)。
近場探頭的種類及主要特點
電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場,電場和磁場共同存在,其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場為主還是磁場為主,主要是由發(fā)射源的類型決定的。簡而言之,在高電壓,低電流的區(qū)域,電場大于磁場。高電流,低電壓的區(qū)域,磁場大于電場。同時在主要的EMI 測試頻段,磁場隨著距離的變化要快于電場。
因為磁場是由電流產(chǎn)生的,所以最常見的發(fā)射源包括芯片,器件的管腳、PCB 上的布線、電源線及信號線纜。最常見的磁場探頭多為環(huán)狀,當(dāng)磁場傳播線和探頭環(huán)面垂直的時候,測量數(shù)值最大。所以在測量過程中,工程師一般需要旋轉(zhuǎn)探頭的方向來測量到最大的磁場數(shù)值,同時避免遺漏重要的發(fā)射源。
電場是由電壓產(chǎn)生,主要的發(fā)射源包括一些未端接器件的線纜 、連接高阻器件的PCB 布線等。最簡單的電場探頭類似一根小天線。有人甚至把同軸電纜前端的一小段屏蔽層剝開,露出芯線來構(gòu)成簡單的電場探頭進(jìn)行使用。在沒有屏蔽設(shè)備的情況下,電場探頭的問題是比較容易拾取到環(huán)境中存在的電磁波信號,如蜂窩通信的上下行信號,從而影響到整個測試系統(tǒng)的測量動態(tài)范圍。
選擇近場探頭往往要考慮幾個重要因素,包括分辨率 、靈敏度和頻率響應(yīng)等。
近場探頭的靈敏度不是一個絕對的指標(biāo),關(guān)鍵是看探頭和配合使用的頻譜分析儀或者接收機(jī)能不能容易的測量到輻射泄漏信號,并且有足夠的裕量去觀察改進(jìn)后的變化。如果頻譜儀的靈敏度很高,我們可以選擇靈敏度相對較低一些的探頭。反之就必須選擇靈敏度高的探頭,甚至考慮外接前置放大器提高整體系統(tǒng)的靈敏度。
分辨率也就是探頭分辨干擾源位置的能力。而通常來說分辨率和靈敏度是一對矛盾體。以我們最常用的環(huán)狀磁場探頭為例,尺寸越大的環(huán)狀探頭,靈敏度往往越高,測試面積越大,從而分辨率就會越低。而比較推薦的辦法是選用一組多個尺寸的探頭,在大范圍測試的時候
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