炭等)的料面都有一定的安息角，因此固態(tài)料面的測量基本上是利用波在粗糙表面的漫反射。形成漫反射的條件近似于：顆粒直徑〉1/6波長。則波長λ與頻率f的關(guān)系為: c=λf (3)可以算出它的波長為8.6mm , 對顆粒直徑為2mm 以上的物料都可形成良好的漫反射;而當(dāng)c為光速3×l08m/s,采用X波段頻率為5.8GHz或6GHz 的微波物位計時，由式(3)可得波長約為52mm ，對于粒徑較小的顆粒狀物位，漫反射效果差，回波信號干擾嚴(yán)重。為改善測量性能，可提高發(fā)射信號的頻率，采用K波段(24GHz或26GHz)，從而得到較好的回波信號。從雷達(dá)料位計的測量原理可知，雷達(dá)料位計是通過處理雷達(dá)波從探頭發(fā)射到介質(zhì)表面，然后返回到探頭的時間來測量料位的。反射信號中混合有許多干擾信號，因此，對真實回波的處理和對各種虛假回波的識別技術(shù)就成為雷達(dá)料位計能否準(zhǔn)確測量的關(guān)鍵因素。由于液面波動和隨機(jī)噪聲等因素的影響，檢測信號中必然混有大量噪聲 ，為了提高檢測的準(zhǔn)確度，必須對檢測信號進(jìn)行處理，盡可能消除噪聲。 調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)必須在發(fā)射的同時進(jìn)行接收，如果采用同一天線進(jìn)行發(fā)射和接收，必須有效地防止發(fā)射信號直接泄漏到接收系統(tǒng)，因此，可采用環(huán)行器隔離發(fā)射接收信號。為了保證測量精度的要求，還必須采取有效的措施保證發(fā)射信號頻率的穩(wěn)定度和線性度。
五、結(jié)束語
近年來，微電子技術(shù)的滲入大大促進(jìn)了新型物位測量技術(shù)的發(fā)展，新的測量技術(shù)促使物位測量儀表產(chǎn)品結(jié)構(gòu)產(chǎn)生了很大變化。電池供電及無線雷達(dá)式物位儀表也開始在市場上出現(xiàn)。所有這些技術(shù)上取得的進(jìn)步以及不斷下降的價格正推動著雷達(dá)式物位儀表的不斷增長。
加入技術(shù)交流群
評論