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基于PWM技術(shù)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計方法

作者: 時間:2012-02-11 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
,在RETI 指令之后,系統(tǒng)返回到中斷前的狀態(tài),繼續(xù)低功耗模式。

  本設(shè)計所采用的是MSP430F1232微控制器,具有非常高的集成度,除內(nèi)部帶有具有功能的定時器外,片內(nèi)還集成了10通道的1 0位A / D轉(zhuǎn)換、溫度傳感器、USART、看門狗定時器、片內(nèi)數(shù)控振蕩器DCO、大量的具有中斷功能的I/O 端口、大容量的片內(nèi)Flash 和RAM 以及信息Flash 存儲器[4]。其中的16位定時器A中帶有3個捕獲/比較通道,內(nèi)部的Flash 存儲器可以實現(xiàn)掉電保護(hù)和軟件升級。由此采用MSP430單片機(jī)作為該設(shè)計的處理器,不但可簡化系統(tǒng)電路設(shè)計、縮短開發(fā)周期,降低系統(tǒng)功耗,還可利用其內(nèi)部集成的溫度傳感器,方便的對被測模擬量進(jìn)行溫度補償,從而使系統(tǒng)的測試精度得以提高。

  4. A/D 轉(zhuǎn)換分辨率分析及主程序設(shè)計

  由于采用技術(shù)的A/D轉(zhuǎn)換器的分辨率取決于控制脈沖占空比的定時器的計數(shù)值位數(shù)或字長,因此可通過改變定時器計數(shù)位數(shù)來改變A/D轉(zhuǎn)換的分辨率,而MSP430單片機(jī)的內(nèi)部定時器A中的計數(shù)器字長為16位,因此其PWM信號占空比的調(diào)整范圍為0~216-1,于是當(dāng)系統(tǒng)定時器的計數(shù)器字長為16位時,采用PWM技術(shù)的A/D轉(zhuǎn)換器的最大分辨率可達(dá)16位。由于單片機(jī)內(nèi)部的16位定時器采用晶振作為內(nèi)部計數(shù)器的工作時鐘,因此其定時精度一般都較高,且其計數(shù)值與PWM脈沖占空比成嚴(yán)格的線性關(guān)系,輸入脈沖精確,因此A/D轉(zhuǎn)換的線性度和精度較好,線性度誤差小于1%。轉(zhuǎn)換速率與分辨率和選取的PWM信號的周期有關(guān),分辨率越高,轉(zhuǎn)換時間越長,但同采用V/F方式相比較,轉(zhuǎn)換速度要快的多。

  為了能夠縮短試探時間提高在高分辨率下的采樣速度,采用改進(jìn)的逐次逼近的對分試探法使得試探值能夠迅速逼近被測模擬量。常規(guī)的對分試探法是每次試探開始時,首先將最大計數(shù)值的一半(即字長對分值)作為試探初值并將其轉(zhuǎn)換成PWM信號輸出,相當(dāng)于輸出1:1占空比的PWM脈沖信號,然后測試比較器的狀態(tài),以確定當(dāng)前試探值的大小,若試探值小于被測模擬量,則保留當(dāng)前試探值,否則去掉,然后再將剩余值的一半(即:剩余對分值)作為新的增量與上次保留值相加后產(chǎn)生新的試探值并將其轉(zhuǎn)換成PWM脈沖信號輸出,再測試比較器的狀態(tài),若大于被測模擬量,則去掉當(dāng)前增量,否則保留,隨后每次的輸出都將剩余對分值作為增量進(jìn)行試探,一直持續(xù)的試探下去,直到試探完與分辨率相當(dāng)?shù)拇螖?shù),例如:實現(xiàn)具有16位分辨率的A/D轉(zhuǎn)換就要試探16次。由于該方法在采樣時無論當(dāng)前采樣值試探值多么接近被測值,其每次采樣的試探次數(shù)都相同,為減小試探次數(shù)提高采樣速率,在本設(shè)計中采用了一種改進(jìn)的逐次逼近試探算法,可大大減少試探次數(shù),其具體實現(xiàn)的方法是:當(dāng)?shù)谝淮卧囂酵瓴@得采樣值后,保留當(dāng)前采樣值,不再以剩余對分值作為新的增量,而是以最小值作為初次增量(即:將最低位置1,可將其看作權(quán)值),與上次保留值相加并轉(zhuǎn)換成PWM信號輸出,通過測試比較器輸出確定當(dāng)前增量值是否需要保留,若試探值小于被測模擬量,則保留當(dāng)前試探值,否則去掉。若需要增大試探值時,則可將權(quán)值左移一位再與上次試探值相加,以形成新的試探值,這樣可以使逐次逼近試探值總處在跟蹤試探狀態(tài),從而大大減少了試探次數(shù)。由于在實際測試過程中被測模擬量一般很少有突變情況發(fā)生,大都處在緩變增加或緩變減小狀態(tài),因此采用這種改進(jìn)的逐次逼近的試探算法,將會有效的提高A/D轉(zhuǎn)換器的采樣速率。

  采用PWM技術(shù)的A/D轉(zhuǎn)換器的主程序,采用匯編語言編寫。其主程序流程圖如圖5所示:

  

主程序流程圖

  5. 結(jié)束語

  采用普通元器件利用MCU內(nèi)部定時器結(jié)合PWM技術(shù)設(shè)計高分辨率的A/D轉(zhuǎn)換器,改變A/D轉(zhuǎn)換的分辨率只須修改PWM定時器的有關(guān)參數(shù)即可,靈活方便,穩(wěn)定性好,線性度高,由于該轉(zhuǎn)換器與系統(tǒng)的連接僅為兩條信號線,因此,可以很方便的采用光電隔離技術(shù)提高系統(tǒng)的抗干擾能力,另外由于電路中的低通濾波環(huán)節(jié),使得電路本身也具有一定的抗干擾能力,這比較適合在具有較強的干擾環(huán)境中使用,采用改進(jìn)的逐次逼近試探算法實現(xiàn)對模擬電壓的測量或A/D變換,提高了采樣速率,轉(zhuǎn)換電路設(shè)計及算法實現(xiàn)簡單,測試分辨率和精度較高,具有較好的應(yīng)用價值。

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