基于雙機(jī)通信的研究

　　當(dāng)SCE214 與S3C4510B 同時(shí)向同一存儲單元( # 07FF) 寫入數(shù)據(jù)時(shí)，如果對側(cè)地址信號的穩(wěn)態(tài)先于本側(cè)的時(shí)，本側(cè)信號輸出 L.，表示禁止本側(cè)處理器寫入，本側(cè)寫入脈沖中加入等待周期; 若對側(cè)地址信號的穩(wěn)態(tài)晚于本側(cè)時(shí)，本側(cè)信號輸出" H".，表示本側(cè)處理器可以執(zhí)行寫入操作;不能同時(shí)為" L".。

　　圖6 是雙口RAM IDT7132 存儲器映射圖,IDT7132 空間大小為2 KB，存儲空間劃分為兩部分： 控制區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)。數(shù)據(jù)區(qū)分又分為兩部分： 1# 區(qū)和2#區(qū)，其空間均為512 B，1# 區(qū)用于實(shí)現(xiàn)SCE214 寫入數(shù)據(jù)和S3C4510B 讀出數(shù)據(jù)，2# 區(qū)用于實(shí)現(xiàn)SCE214 讀出數(shù)據(jù)和S3C4510B 寫入數(shù)據(jù)?？刂茀^(qū)包含讀/ 寫標(biāo)志、1 # 數(shù)據(jù)區(qū)起始地址及有效數(shù)據(jù)最大地址偏移、2#數(shù)據(jù)區(qū)起始地址及有效數(shù)據(jù)最大地址偏移。

圖6 雙口RAM IDT7132 存儲器映射圖。

　　處理器對雙口RAM 的操作過程如下：

　　( 1) SCE214 有寫入數(shù)據(jù)時(shí)，將數(shù)據(jù)寫入1# 區(qū)，有效數(shù)據(jù)起始地址寫入$ 07FE、$ 07FD 存儲單元中( 按小端格式存放) ，有效數(shù)據(jù)地址最大偏移量寫入$ 07FC、$ 07FB，并將$ 07FF 的Bit0 置為1;( 2) S3C4510B 讀雙口RAM 時(shí)，先判斷$ 07FF 的Bit0 是否為1，若為1，從$ 07FE、$ 07FD 存儲單元中取出有效數(shù)據(jù)起始地址，從$ 07FC、$ 07FB 存儲單元中取出有效數(shù)據(jù)地址最大偏移量，根據(jù)有效數(shù)據(jù)起始地址和最大偏移量，讀出雙口RAM 中的數(shù)據(jù)，并將$ 07FF 的Bit0 置為0;( 3) S3C4510B 讀雙口RAM 時(shí)，若判斷出$ 07FF的Bit0 為0，則S3C4510B 認(rèn)為SCE214 無數(shù)據(jù)發(fā)送來。這時(shí)S3C4510B 若有數(shù)據(jù)需要寫入雙口RAM，則將數(shù)據(jù)寫入2# 區(qū)，有效數(shù)據(jù)起始地址寫入$ 07FA、$ 07F9存儲單元中( 按小端格式存放) ，有效數(shù)據(jù)地址最大偏移量寫入$ 07F8、$ 07F7，并將$ 07FF 的Bit3 置為1;( 4) SCE214 輪循到讀雙口RAM 操作時(shí)，先判斷$ 07FF 的Bit3 是否為1，若為1，從$ 07FA、$ 07F9 存儲單元中取出有效數(shù)據(jù)起始地址，從$ 07F8、$ 07F7 存儲單元中取出最后一個(gè)有效數(shù)據(jù)的地址偏移，根據(jù)有效數(shù)據(jù)起始地址和最大偏移量，讀出雙口RAM 中的數(shù)據(jù)，并將$ 07FF 的Bit3 置為0;( 5) SCE214 輪循到讀雙口RAM 操作時(shí)，若判斷出$ 07FF 的Bit3 為0，SCE214 認(rèn)為S3C4510B 無數(shù)據(jù)發(fā)送來。

　　如此重復(fù)( 1) ~ ( 5) 的操作，即可完成SCE214 與S3C4510B 的雙向通信，最大一次可傳送512 B數(shù)據(jù)。

　　2 結(jié)論

　　雙機(jī)通信在嵌入式系統(tǒng)中應(yīng)用比較廣泛，本文介紹的設(shè)計(jì)方案主要用于速率要求高、成本適中的場合。

　　由于本系統(tǒng)采用的是雙處理器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，給系統(tǒng)的穩(wěn)定性帶來一定的隱患，有待于在以后的研發(fā)中能將雙處理器集成為單片處理器。雙網(wǎng)數(shù)字傳真機(jī)研發(fā)的亮點(diǎn)在網(wǎng)絡(luò)傳真，其網(wǎng)絡(luò)傳真實(shí)現(xiàn)的業(yè)務(wù)不是實(shí)時(shí)傳真,加之因特網(wǎng)本身的時(shí)延較大，有待用戶檢驗(yàn)，但其市場前景仍比較樂觀。

參考文獻(xiàn):

[1].2K datasheethttp://www.dzsc.com/datasheet/2K+_2205217.html.
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