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提升LED芯片品質(zhì)的方法

作者: 時間:2011-12-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  芯片生產(chǎn)流程

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  前段制程Flow Chart

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  ITO蒸鍍前清洗不良造成銲線掉電極

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  封裝廠新增銲線判定標(biāo)準(zhǔn)

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  Plasma在應(yīng)用之優(yōu)點(diǎn)

  Plasma表面清洗是近年來用在IC、太陽能等產(chǎn)業(yè)上的標(biāo)準(zhǔn)制程,利用Ar、H2、O2、N2氣體的物理或化學(xué)作用,讓表面微結(jié)構(gòu)產(chǎn)生官能基或者粗糙度達(dá)到良好的結(jié)合性,或者蝕刻殘余負(fù)光阻等。讓產(chǎn)品的可靠度、穩(wěn)定度提高增加壽命等。

  采用真空電容式電極技術(shù),產(chǎn)生高密度、高活性的電漿離子與自由基(Radical)。將LED上的有機(jī)污染物(Organic Contaminant)即碳?xì)浠衔?,以物理和化學(xué)的方法有效去除,強(qiáng)化、活化表面的黏著力。

  水滴角度測試(增加表面能)

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  Plasma Solutions

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  Plasma Theory

  ● Argon Plasma
  純物理作用、物理撞擊可將表面高分子的鍵結(jié)打斷,形成微結(jié)構(gòu)粗糙面。
  ● Oxygen Plasma
  具有化學(xué)作用,可以氧化燃燒高分子聚合物,或者形成雙鑑結(jié)結(jié)構(gòu)的官能子,可表面改質(zhì)。
  ● Hydrogen Plasma
  具有還原性作用的氣體,可以還原被氧化的金屬表面層
  ● Mix Gas Plasma
  可以組合上述的氣體種類,也可達(dá)到特殊官能基的形成,例如氧氣與氫氣可以形成O-H官能基。

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  三種氣體實(shí)驗(yàn)比較

  1、Ar/H2混合氣,借由物理撞擊對表面的結(jié)構(gòu)產(chǎn)生活化,形成粗糙面增加結(jié)合力。
  2、O2/H2混合氣,對金屬面形成OH-基,也可以增加與Compound間的結(jié)合力。
  3、純Ar氣利用該氣體的重量,達(dá)到最大物理撞擊增加結(jié)合力。

  Plasma Principle in Parallel Electrode

  1、RF power在平形板電極造成電場使電子來回震蕩。
  2、電子激發(fā)并解氣體產(chǎn)生電漿。
  3、電漿中的離子物理作用。自由基具有化學(xué)作用。如此與污染源反應(yīng),在真空中借由氣體流暢,揮發(fā)排出。

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  Carrier

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Operation Condition

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  金球推力測試數(shù)據(jù)

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  結(jié)論

  根據(jù)對失效LED分析可知,大都(約70%比例)為芯片焊線工藝出現(xiàn)peeling或焊不粘問題。而焊線金球推力為影響這個工藝的關(guān)鍵參數(shù),因此如何提升這個參數(shù)成為提高產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵,通過實(shí)驗(yàn)對比在蒸鍍前引入plasma能很大程度提升焊線金球推力,并起到穩(wěn)定工藝制程能力的作用。



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