紅外熱像儀成LED應(yīng)用和發(fā)展的關(guān)鍵因素

事實(shí)上，LED的實(shí)際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時(shí)、63℃為25000小時(shí)，小于50℃時(shí)，則可為50000小時(shí)。根本原因是LED的光電轉(zhuǎn)換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉(zhuǎn)為光輸出，其余均轉(zhuǎn)換成為熱能，因此，當(dāng)大量使用高功率的LED于一塊模組，應(yīng)用于高亮度的操作時(shí)，這些極差的轉(zhuǎn)換效率將造成散熱處理的大問題。

熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應(yīng)用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面。

1研發(fā):主要是對(duì)LED模塊驅(qū)動(dòng)電路（包括電源）、光源半導(dǎo)體發(fā)熱分布分析、及光衰測(cè)試等。

a）LED模塊驅(qū)動(dòng)電路

在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。

b）LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱

利用熱像儀，工程師可以通過光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。

c）光衰試驗(yàn)

LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段全球的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。目前，市場(chǎng)上的白光LED其光衰可能是向民用照明進(jìn)軍的首要問題之一。

2品質(zhì)管理

a）半導(dǎo)體照明：吹制燈泡均勻性

通過熱像儀抓拍產(chǎn)線玻璃吹泡的過程，進(jìn)行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可以有效提高產(chǎn)品成品率，降低成本。

b）LED檢測(cè)芯片封裝前的溫度

LED芯片封裝前檢測(cè)溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問題，作為流水線檢測(cè)工具。

c）LED成品顯示屏開機(jī)測(cè)試

LED顯示屏完成后，要做最后驗(yàn)收，通過不同顏色的測(cè)試來(lái)看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒有這個(gè)流程。使用熱像儀后，能夠?yàn)閺S家完善產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

典型客戶

大晨光電、飛利浦照明等。

紅外熱像儀的獨(dú)特作用

在使用熱像儀前，LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒有很好的解決這個(gè)問題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮獨(dú)特作用：

1通過紅外線熱像儀檢測(cè)目標(biāo)時(shí)，不需要斷電，操作方便，同時(shí)非接觸測(cè)量使原有的溫度場(chǎng)不受干擾；反應(yīng)速度較快，小于1毫秒。

2Fluke熱像儀IR-Fusion技術(shù)：用戶采用Fluke專利IR-Fusion技術(shù)除了可以拍攝紅外圖像外，還可以同時(shí)捕獲一幅可見光照片，并將其融合在一起，有助于第一時(shí)間識(shí)別和定位故障。

拍攝時(shí)可能會(huì)遇到哪些問題？

可能由于觀察目標(biāo)較小，使用160×120熱像儀時(shí)，會(huì)發(fā)生很難發(fā)現(xiàn)準(zhǔn)確的故障點(diǎn)，需要我們更換320×240熱像儀（甚至需要更換鏡頭）進(jìn)行檢測(cè)。

如何才能拍攝優(yōu)質(zhì)紅外熱像？

使用熱像儀進(jìn)行拍攝時(shí)，若要得到一幅優(yōu)秀的紅外熱圖，我們建議：

1需要分辨較小溫差的場(chǎng)合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀；

2先用自動(dòng)模式測(cè)量溫度范圍；然后手動(dòng)設(shè)置水平及跨度，將溫度范圍設(shè)置在最小，并包含有先前測(cè)量的溫度范圍。