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針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試靜電放電抗擾度試驗(yàn)等問(wèn)題研究

作者： 時(shí)間：2014-01-12 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 收藏
論

本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/226988.htm

手機(jī)的電磁兼容性能直接關(guān)系到手機(jī)的各個(gè)性能，保證手機(jī)的電磁兼容性能是保證手機(jī)質(zhì)量的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，因此手機(jī)的電磁兼容測(cè)試及設(shè)計(jì)不容忽視。
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關(guān)鍵詞： 電磁兼容 靜電放電

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