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電壓比較器VIO的開環(huán)測試(圖)

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作者:國電公司自動化研究院 王衛(wèi)民 謝力 時間:2007-02-06 來源: 收藏

輸入失調(diào)電壓(vio)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù),gb/t 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時,兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(dut,device under test)-輔助運(yùn)放”的測試模式,測試原理圖見圖1。                      

在輔助運(yùn)放a的作用下,整個系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò),從而使vd=0,則
 vc = -vs1



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