全新測(cè)試卡擴(kuò)展了4500-MTS多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的功能并降低測(cè)試成本
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4500-MTS用于多頭（多DUT）生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境的自動(dòng)測(cè)試，如那些涉及到應(yīng)力測(cè)量、使用壽命測(cè)量、以及一般設(shè)備特性的環(huán)境。該系統(tǒng)通常的應(yīng)用情況為：利用其快速的源測(cè)量的性能產(chǎn)生I-V曲線，測(cè)量諸如MEMS以及電路保護(hù)二極管等DUT的電阻，以對(duì)其它無(wú)源和有源器件的特性。該系統(tǒng)作為多通道的電源也具有廣泛的用途，可以在器件（如RFIC以及光電IC）的功能測(cè)試中輸出電壓和電流或測(cè)量電壓和電流。吉時(shí)利以及其它公司的許多儀器都可以與4500-MTS搭配實(shí)現(xiàn)其I-V和電源供電的性能。
應(yīng)用背景。4500-MTS可以解決生產(chǎn)商面臨的棘手的測(cè)量難題，它可以幫助生產(chǎn)商在不同的測(cè)試條件下，對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行測(cè)試或者對(duì)一個(gè)器件上的不同通道同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。通常情況下，一臺(tái)測(cè)試夾具上會(huì)加裝一打甚至更多的器件，而且要在每一臺(tái)設(shè)備的成千個(gè)源-測(cè)量測(cè)試點(diǎn)上采集電氣數(shù)據(jù)。在這些情況下使用多個(gè)獨(dú)立儀器的成本是非常高的，而且總線上的數(shù)據(jù)交流還會(huì)減慢數(shù)據(jù)采集的速度。
與其它模塊化測(cè)試系統(tǒng)不同，4500-MTS多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)具有低噪音和高電流源的特點(diǎn)，并可以同時(shí)在高靈敏度測(cè)量中保持良好控制環(huán)境。它有助于在不降低質(zhì)量目標(biāo)和生產(chǎn)產(chǎn)量的前提下降低生產(chǎn)成本。
產(chǎn)品詳情。4510或4511 Quad I-V卡的每一個(gè)通道都可以提供一個(gè)高功率電流源子通道、一個(gè)低功率電壓源子通道、以及一個(gè)用于讀取DUT對(duì)源激勵(lì)反應(yīng)的5-1/2位模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器。4510型卡具有三個(gè)全刻度輸出量程，分別為±30mA、±100mA和±500mA。4511型卡具有的三個(gè)全刻度輸出量程分別為±100mA、±300mA和±1.0A。除此之外，這兩種卡是完全相同的，包括它們的±10VDC全刻度電壓源子通道。每一個(gè)卡上還有一個(gè)微控制器，運(yùn)行實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)及板上的測(cè)量存儲(chǔ)，因此測(cè)試次序中它可以自發(fā)的活動(dòng)或通過(guò)觸發(fā)總線為源測(cè)量活動(dòng)計(jì)時(shí)以實(shí)現(xiàn)與其它4500系列測(cè)試卡的同步工作。每一個(gè)子通道都具有機(jī)械繼電器以隔離輸出和測(cè)量DUT電路，因此實(shí)現(xiàn)電流源子通道和電壓源子通道之間的多路工作。
這些測(cè)試卡擴(kuò)展了早前4500型Quad I-V卡的功能。低噪音電壓源子通道的最大輸出已經(jīng)從5V增加到了10V。對(duì)這些子通道電流測(cè)量的靈敏度也提高到了10
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