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安捷倫科技推出世界首臺(tái)采用瓊斯矩陣法的便攜式極化模式色散(PMD)測(cè)試儀

作者:電子設(shè)計(jì)應(yīng)用 時(shí)間:2004-04-07 來源:電子設(shè)計(jì)應(yīng)用 收藏
科技公司日前宣布,在其N3900A便攜式模塊化光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀上推出全新的N3909A極化模式色散(PMD)測(cè)試模塊。

N3900A便攜式模塊化光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀為中國廣大光纖及DWDM網(wǎng)絡(luò)測(cè)試用戶所采用,它采用最新設(shè)計(jì),無須預(yù)留任何槽位,可積木式添加擴(kuò)展各種測(cè)試模塊,如OTDR模塊、DWDM模塊、CD測(cè)試模塊等并可帶電插拔使用。這次全新推出的N3909A可滿足廣大用戶對(duì)PMD的測(cè)試需求。

N3909A PMD測(cè)試儀是首臺(tái)而且是唯一采用業(yè)界最基準(zhǔn)(golden standard)的瓊斯矩陣法(Jones Matrix method)的安裝運(yùn)營現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試用便攜儀表。

由于以前瓊斯法測(cè)試速度慢(測(cè)試時(shí)間長達(dá)十幾分鐘),在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境下,被測(cè)光纖鏈路在長時(shí)間的測(cè)試過程中可能會(huì)發(fā)生移動(dòng)等狀態(tài)改變而影響測(cè)試結(jié)果,因此瓊斯法以前僅用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境而很難在現(xiàn)場(chǎng)使用。

科技通過獨(dú)有的革新技術(shù)使瓊斯法測(cè)試非???15s)而可靠,避免了由于測(cè)試時(shí)間長而在測(cè)試期間光纖移動(dòng)的影響,從而使現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試同樣準(zhǔn)確。

目前市面上傳統(tǒng)的便攜式PMD測(cè)試儀是采用干涉法測(cè)試光纖或鏈路的干涉圖,再用高斯函數(shù)來擬合此干涉圖,通過高斯函數(shù)來推算出被測(cè)光纖或鏈路的平均PMD情況。其測(cè)試精度必須基于被測(cè)件為Maxwell DGD分布即干涉圖高斯分布此前提條件。在很多情況下光纖或鏈路的干涉圖并不完全為高斯分布(特別是跨光放時(shí)),這會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的測(cè)量誤差。

由于測(cè)試方法的局限,市面上采用干涉法的PMD測(cè)試儀只能推測(cè)到平均的PMD情況。PMD平均值只能用來大致判斷極化模式色散的平均情況。而實(shí)際上引起光纖或鏈路PMD問題的原因是群時(shí)延(DGD)。

安捷倫N3909A 通過瓊斯法可直接測(cè)試各個(gè)波長上的差分群時(shí)延DGD值即DGD vs 波長曲線,同時(shí)根據(jù)DGD VS.波長曲線還可直接得到平均PMD,二階PMD。通過每個(gè)波長上的DGD值可以診斷特定的波長在特定的時(shí)間其PMD是否發(fā)生問題,而這是僅有平均DGD的PMD值所無法做到的。

安捷倫 N3909A PMD測(cè)試儀主要特點(diǎn)包括:

采用最準(zhǔn)確的瓊斯矩陣法(JME Method)。
測(cè)試精度不依賴被測(cè)光纖或鏈路的特性,對(duì)于非Maxwell DGD分布或跨光放都能進(jìn)行測(cè)試。
直接測(cè)量DGD vs. 波長曲線及平均DGD。
同時(shí)測(cè)量2階PMD vs. 波長曲線。
通過DGD vs波長曲線可進(jìn)行PMD故障診斷。
同時(shí)測(cè)量損耗 vs. 波長曲線
全自動(dòng)操作(單鍵)

安捷倫科技光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試產(chǎn)品中國業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理張擁勛說“我們的客戶經(jīng)常反映,目前所用的PMD現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀表由于測(cè)試方法局限,只能推測(cè)出平均PMD值,往往無法準(zhǔn)確反映問題。例如,在實(shí)際使用中,會(huì)發(fā)生DWDM某一個(gè)波長使用起來出了問題,而檢查DWDM設(shè)備一切正常,換根光纖問題就得到解決,懷疑是因?yàn)樗霉饫w的某個(gè)波長的PMD出了問題但總平均PMD還可以,而目前的測(cè)試手段不能對(duì)每個(gè)波長測(cè)試PMD值只能測(cè)總的平均PMD值因而無法作出判斷。再者,現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試PMD往往需要測(cè)試帶光放的整個(gè)光鏈路的PMD值,而目前已有的測(cè)試手段若跨光放測(cè)試則由于測(cè)試算法要求的Maxwell分布被破壞導(dǎo)致算法不準(zhǔn)因而只能測(cè)純光纖而不能測(cè)試帶光放的整個(gè)光鏈路的PMD值。有了安捷倫采用最新技術(shù)的PMD測(cè)試儀,以上問題就迎仞而解“



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