精確和高效的LTE終端測(cè)試

性能測(cè)試

一旦RF、基帶、協(xié)議棧和應(yīng)用層實(shí)現(xiàn)集成，接下來(lái)就需要對(duì)整體終端性能進(jìn)行全面測(cè)試。在此階段期間，必須查出和消除數(shù)據(jù)傳輸瓶頸，以最大化數(shù)據(jù)吞吐量——包括在正常和極端溫度及電源電壓條件下。另外還需要在滿負(fù)荷條件下測(cè)量功耗、熱特性、電磁兼容性(EMC)、發(fā)射及磁化率。一般情況下，這需要使用2x2下行鏈路多輸入多輸出(MIMO)技術(shù)。

測(cè)試設(shè)備要能夠在小區(qū)之間無(wú)縫交接數(shù)據(jù)，同時(shí)盡量減小對(duì)數(shù)據(jù)吞吐率的影響，就像要能在不同無(wú)線接入技術(shù)之間進(jìn)行交接數(shù)據(jù)，同時(shí)保持?jǐn)?shù)據(jù)連接一樣。已有多家供應(yīng)商推出了設(shè)計(jì)緊湊、靈活和模塊化的測(cè)試儀器。例如，Aeroflex的LTE測(cè)試產(chǎn)品就支持用于測(cè)試LTE終端性能的所有功能(圖2)。

圖2：Aeroflex的LTE測(cè)試產(chǎn)品支持用于測(cè)試LTE終端性能的所有功能

雖然LTE物理層使用循環(huán)前綴來(lái)增加對(duì)多徑效應(yīng)的抵制，但需要對(duì)之進(jìn)行測(cè)試，以確保正確運(yùn)行。將此測(cè)試留到現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)階段會(huì)增加開(kāi)發(fā)風(fēng)險(xiǎn)。幸運(yùn)的是，測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提供了內(nèi)建衰落模擬器和噪聲發(fā)生器的工具，用來(lái)在實(shí)驗(yàn)室中模擬實(shí)際信號(hào)條件。

LTE終端的一個(gè)重要性能參數(shù)是其實(shí)現(xiàn)和保持與下行鏈路信號(hào)同步的能力。LTE OFDMA傳輸方式使用頻率間隔為15 kHz的子載波。接收機(jī)也必須對(duì)子載波處于精確調(diào)諧狀態(tài)，即使存在多普勒頻移效應(yīng)也不例外。不同步會(huì)導(dǎo)致子載波間的相互干擾，從而降低信噪比。要檢驗(yàn)終端的行為，同樣必須能夠在實(shí)驗(yàn)室中模擬多普勒頻移效應(yīng)。

本文小結(jié)

下一代移動(dòng)終端需要提供能夠滿足網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商的希望與期待的移動(dòng)寬帶體驗(yàn)，因此必須使用逐層方案來(lái)測(cè)試新的LTE終端，建立起基于實(shí)際信號(hào)條件的端到端測(cè)試場(chǎng)景。確保終端性能在整個(gè)小區(qū)內(nèi)得到保持將是最艱巨的挑戰(zhàn)，特別在小區(qū)內(nèi)用戶數(shù)量增加以及由此而產(chǎn)生的信號(hào)噪聲電平上升的情況下。

LTE終端測(cè)試不僅要精確和高效，還要覆蓋全面的測(cè)試范圍——包括RF、協(xié)議和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。測(cè)試設(shè)備廠商正在提供這一功能，新型及升級(jí)型儀器、測(cè)試儀和系統(tǒng)已陸續(xù)上市。以盡可能高效的方式實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)吞吐量和低時(shí)延(就功耗和RF頻譜使用而言)是引入LTE技術(shù)的主要目的，但只有在開(kāi)發(fā)和部署階段進(jìn)行周密的測(cè)試才能實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。