泄漏試驗的溫度影響及補(bǔ)償
通常溫度的影響主要來自兩個方面,一是環(huán)境溫度,二是工件溫度。對于環(huán)境溫度,應(yīng)使整個檢測系統(tǒng)處于同一環(huán)境溫度下,在試驗過程中還應(yīng)避免環(huán)境溫度的變化。此外,壓力測量法中采用差壓法時,使被測工件與標(biāo)準(zhǔn)樣件處于同樣的環(huán)境溫度下,即可起到補(bǔ)償作用。而對于工件溫度,在差壓檢漏法中已提出應(yīng)使工件處于室溫狀態(tài),也就是說應(yīng)盡可能從工藝流程上予以解決.這樣即經(jīng)濟(jì)又可靠。但目前在我們一些現(xiàn)有的或新設(shè)計的生產(chǎn)線上,都很難實現(xiàn)使工件達(dá)到室溫狀態(tài)。特別是通常在試驗前,需將工件清洗、吹干,在這種情況下應(yīng)如何解決工件溫度對測量結(jié)果的影響呢?可以采取以下幾種方法:
第一種方法通常稱為二次測量法,即將被試工件密封后,首先以低于所要求的試驗壓力充氣測量,然后再按所要求的試驗壓力進(jìn)行二次充氣測量,顯然這種方法將加速工件與檢驗氣體溫度趨于一致。這種方法因其測量精度較低,加之生產(chǎn)節(jié)拍的限制,故較少應(yīng)用。
第二種方法稱之為統(tǒng)計法。顧名思義,該方法是以實際試驗所得到的統(tǒng)計數(shù)據(jù)為依據(jù),找出其中的規(guī)律,并適當(dāng)?shù)匦拚龔U品值以滿足測量要求。該方法結(jié)構(gòu)簡單,費用低,目前被廣泛采用。例如,德國佛羅里西公司的檢漏儀上就帶有DPK鍵,即泄漏速率修正鍵,采用該鍵很容易實現(xiàn)統(tǒng)計法對測量結(jié)果的補(bǔ)償。此外,采用該鍵還可用來縮短試驗過程中的平衡時間,從而縮短整個試驗時間。但是,應(yīng)當(dāng)指出的是,當(dāng)工件不處于室溫狀態(tài)時就很難保證所有的工件都具有相同的溫度。這種情況下,如果工件間的溫差較大且檢測精度又相對要求較高,則統(tǒng)計法也就無法滿足要求了。
第三種方法是采用兩個溫度傳感器,一個用于測量檢驗氣體的溫度,加一個測量被試工件的溫度。其辦法是根據(jù)泄漏標(biāo)準(zhǔn)工件,測出其與檢驗氣體的各個溫度差及相應(yīng)壓降值,依據(jù)廢品點,作出一條溫度、壓降曲線,作為溫度補(bǔ)償曲線,并將此曲線編程到檢漏儀中。在實際生產(chǎn)條件下,將再次測得的檢驗氣體與被試工件之間的溫度差及相應(yīng)的壓降值輸入到儀器中,與所存入的溫度補(bǔ)償曲線相比較,即可得出補(bǔ)償后的檢測結(jié)果。
這種方法也可以用于補(bǔ)償環(huán)境溫度對測量結(jié)果的影響,其辦法是用上述測量被試工件的溫度傳感器測量密封夾具的溫度。但應(yīng)當(dāng)指出的是這種補(bǔ)償方法也是遵循某種統(tǒng)計規(guī)律的,并不是依據(jù)理想氣體的狀態(tài)方程檢測出檢驗氣體的溫度變化就可進(jìn)行補(bǔ)償?shù)?,因為在整個測量過程中檢驗氣體不可能達(dá)到平衡狀態(tài)。
采用溫度補(bǔ)償后其測量精度勢必有所降低,并增加費用。在實際應(yīng)用中,應(yīng)按實際生產(chǎn)條件,做了同批工件的實驗數(shù)據(jù),從中選定一條適宜的曲線。(end)
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