涂鍍層的無損檢測方法
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采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性，通過校準同樣也可以測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3～5倍以上（如銅上鍍鉻）。
校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于儀器規(guī)定的最小值約0.5mm以下時），有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術參數(shù)的要求（直徑約20mm以下），還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份，校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經(jīng)過其它（包括有損測試方法）測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產(chǎn)品上進行快速無損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過的硬紙。
微電腦測厚一般有多個校準值存貯。隨著被測產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實際使用時直接調用各校準值，就無須重新調校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。
測試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設置了上下極限還可以使統(tǒng)計數(shù)據(jù)更加準確，測量時所有超限的點都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計計算用。
影響測量值的因素與解決方法
使用測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。
1.邊界間距
如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度，只有預先在相同條件的無覆層表面進行校準，才能測量。（注：最新的產(chǎn)品有透過覆層校準的獨特功能可達3～10％的精度）
2.基體表面曲率
在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個初始值?；騾⒄障聴l。
3.基體金屬最小厚度
基體金屬必須有一個給定的最小厚度，使探頭的電磁場能完全包容在基體金屬中，最小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質有關，在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。
反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度
在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。
5.探頭測量板的作用力
探頭測量時的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降?；町a(chǎn)生大的波動，必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當?shù)氐玫绞４拧?
6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁
應該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁，根據(jù)檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結構鋼，深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份
覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。也可向有關計量測試部門購得。(end)
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