Qualcomm Atheros使用NI VST進行802.11ac測試，改進測試速度和范圍

就傳統(tǒng)儀器而言，每次測試大約會取得40個重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據點。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀的測試速度非?？?，因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻，進而采集共300,000個數(shù)據點。

"我們采用軟件設計的NI PXI矢量信號收發(fā)儀與NI WLAN測量套件之后，測試速度比傳統(tǒng)的堆疊式儀器快了200倍以上，測試范圍也擴大了許多。"

- Doug Johnson, Qualcomm Atheros

挑戰(zhàn):

在無線標準越來越多元，且設備復雜度與日俱增的同時，必須降低無線區(qū)域網絡(WLAN)的測試成本，保有高的測試精準度，并且縮短特性測試時間。

解決方案:

使用NI PXI構架的矢量信號收發(fā)儀與NI LabVIEW FPGA模塊，構建靈活的自定義WLAN測試系統(tǒng)，相比以前的堆疊式儀器，可縮短200倍的測試時間，進一步減少成本，并提升設備特性。

過去20幾年以來，Qualcomm Atheros公司在網絡連接、消費性電子、運算和移動設備通信的新一代無線技術領域中一直處于領導者的地位。 現(xiàn)在我們正對WiFi等高傳輸率的無線技術進行改革，以便滿足新的連線應用需求。 最新的Qualcomm Atheros芯片是一種具有3組無線電的多重輸入/多重輸出 (MIMO)收發(fā)器，適用于最新的WiFi 標準802.11ac。

新型WLAN測試系統(tǒng)的需求

由于無線標準越來越復雜，這些設備的運作模式數(shù)量也會隨之飆升。 我們會逐漸改用最新的WiFi標準，802.11ac ，所以要持續(xù)增加新的調制方案，以及更多的通道、頻寬設定與額外的空間串流數(shù)目。 此外，數(shù)以千計的獨立運作增益設定也會讓WLAN收發(fā)器的特性測試變得更加棘手。

WLAN收發(fā)器的每個組件都具備多重增益階段。 為了在低成本的CMOS流程中開發(fā)出高性能無線電，Qualcomm Atheros的設計團隊必須針對每個無線電階段采用靈活的操作方式。 一旦加入新的構架階段，多重增益設定便會大幅提高可能的設定組合數(shù)量，因此單一運作模式便可能具有成千上萬個數(shù)據點， 而且這只是一個無線電收發(fā)器的數(shù)據點而已;如果系統(tǒng)搭載多個天線的話，MIMO設定的電路排列數(shù)量也會持續(xù)增加。 隨著可能的設定組合數(shù)量激增，要避免測試時間延長便會是相當困難的挑戰(zhàn)。

圖1. 以常見的WLAN接收器程序框圖為例，可以看出每個組件都具有多重增益階段，因此一個接收器可能會有成千上萬種不同的增益設定。

NI PXI矢量信號收發(fā)儀與LabVIEW FPGA

為了解決這類測試時間的挑戰(zhàn)，Qualcomm Atheros采用了NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀。 由于NI PXIe-5644R內建FPGA，所以可通過矢量信號收發(fā)器內的射頻信號發(fā)生器/分析器，同時控制芯片的數(shù)字界面。

一般而言，F(xiàn)PGA的程序設計必須通過VHSIC硬件描述語言或Verilog。 但許多工程師和科學家并不熟悉這些復雜的語言，或是需要特定的工具，才能針對高階抽象層提高設計產能，進而簡化FPGA代碼的生成流程。 由于LabVIEW能夠清楚地表現(xiàn)并行架構和數(shù)據流，非常適用于FPGA程序的編寫，所以用戶不論有沒有傳統(tǒng)FPGA設計的經驗都能高效運用可重新配置硬件的功能。

Qualcomm Atheros采用LabVIEW來設計NI矢量信號收發(fā)器的FPGA，以便控制待測設備并處理數(shù)據。 儀器內部即可執(zhí)行處理程序，無需通過總線來回傳輸至控制器，因此有助于大幅提升測試速度。