新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于NI Flex II創(chuàng)新技術(shù)的通用儀器可提供最高動態(tài)性能

基于NI Flex II創(chuàng)新技術(shù)的通用儀器可提供最高動態(tài)性能

作者: 時間:2012-11-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


圖2. 在高達(dá)15MS/s采樣速率條件下與其它數(shù)字轉(zhuǎn)換器相比的PX-5922頻率-分辨率曲線。

創(chuàng)新的Flex II ADC多分辨率技術(shù)

這種創(chuàng)新的多分辨率技術(shù)可以通過NI的 Flex II ADC實現(xiàn)。該模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用了NI設(shè)計的全定制模擬ASIC,是一種增強型的Δ-Σ轉(zhuǎn)換器,利用下面這兩種創(chuàng)新技術(shù)在寬范圍的采樣速率下獲得了特別高的動態(tài)范圍:用6位Δ-Σ ADC代替單比特Δ-Σ ADC;擁有專利的數(shù)字線性化機制。

單比特Δ-Σ ADC可以為低頻應(yīng)用提供高分辨和高動態(tài)范圍。然而,由于采樣速度有限,單比特Δ-Σ ADC不適合動態(tài)信號頻率超過數(shù)百KHz的應(yīng)用場合。而多比特Δ-Σ ADC可以在高頻時提供高的動態(tài)范圍,并且線性化后可以去除多比特Δ-Σ ADC所固有的非線性。


圖3. 線性化前后應(yīng)用于6位Δ-ΣADC的純正弦波FFT圖。

圖3所示ADC中的非線性如何在頻域中表現(xiàn)為諧波。Flex II ADC采用強大的FPGA和線性化專利技術(shù)以數(shù)字方式消除這些非線性,并在較高采樣速率范圍內(nèi)提供較寬的動態(tài)范圍。動態(tài)范圍的增加使用戶有能力去分析以前會混跡于傳統(tǒng)儀器噪聲中的信號。


Flex II ADC是一項偉大的發(fā)明,但如果工程師不能在不降低性能的條件下將它集成進(jìn)數(shù)字化儀器,那么它就無法發(fā)揮作用。PXI-5922多分辨率數(shù)字轉(zhuǎn)換器擁有一流的模塊前端,它能充分利用高性能的Flex II ADC功能,釋放數(shù)字轉(zhuǎn)換器的有效資源,從而提供強大的性能。這種數(shù)字轉(zhuǎn)換器可以提供市場上最高的分辨率和最大的動態(tài)范圍。因此,它不僅可以當(dāng)作使用,而且與它可代替的各種單獨儀器相比還能提供更高的。圖4顯示出高端發(fā)生器產(chǎn)生的非常純的10kHz正弦波FFT捕獲。PXI-5922噪聲密度可低至-170dB FS/Hz,本例中的SFDR可高達(dá)-120dBc。


圖4. 高端發(fā)生器產(chǎn)生非常純的10kHz正弦波FFT捕獲,其噪聲水平低至-170dB FS/Hz,SFDR高達(dá)-120dBc。


上一頁 1 2 下一頁

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉