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虛擬儀器測(cè)試開發(fā)環(huán)境VITE

作者: 時(shí)間:2012-09-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

測(cè)試(Virtual Instrument Test Environment)主要用于對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)研制、維修過(guò)程中測(cè)試程序的自動(dòng)生成,具有被測(cè)對(duì)象建模,系統(tǒng)資源開發(fā)、用戶界面定制,測(cè)試程序生成、測(cè)試執(zhí)行服務(wù)、綜合數(shù)據(jù)分析、專家知識(shí)生成、系統(tǒng)故障分析、維修信息管理等主要功能。

該應(yīng)用環(huán)境為以S-R(激勵(lì)─響應(yīng))模式工作的測(cè)試過(guò)程提供了一個(gè)通用、完備的系統(tǒng)解決方案;能夠完成對(duì)被測(cè)對(duì)象的測(cè)試需求的分析處理、測(cè)試系統(tǒng)的資源描述、測(cè)試流程的開發(fā)、系統(tǒng)級(jí)多元故障分析等與測(cè)試、診斷相關(guān)的基本工作;開發(fā)平臺(tái)無(wú)需測(cè)試人員編程,測(cè)試人員只需根據(jù)被測(cè)對(duì)象的測(cè)試需求,在完全的圖形化開發(fā)接口上填寫測(cè)試流程要素,系統(tǒng)將根據(jù)要素自動(dòng)生成測(cè)試任務(wù)的執(zhí)行腳本。

特點(diǎn):

體系結(jié)構(gòu):

基于軟總線的開放式體系結(jié)構(gòu),便于用戶進(jìn)行二次開發(fā);

支持IEEE1226、IEEE1232、IEEE1149、IEEE1445、IEEE716等標(biāo)準(zhǔn)族,可滿足多種環(huán)境下的數(shù)據(jù)交換,提高軟件的互操作性;

資源管理:

提供全新的ATE系統(tǒng)集成與虛擬資源描述方法,方便TPS的移植;

支持儀器互換,兼容IVI-C和IVI-COM兩大結(jié)構(gòu),可自動(dòng)識(shí)別驅(qū)動(dòng)類型,極大的擴(kuò)展了應(yīng)用范圍。

故障診斷:提供在線快速診斷與離線智能診斷相結(jié)合的方法;

TPS開發(fā):具有多種視圖結(jié)構(gòu),可全面反映 TPS中的信息,根據(jù)TPS節(jié)點(diǎn)的配置狀況,可自動(dòng)生成該節(jié)點(diǎn)的電路原理圖和系統(tǒng)硬件連接圖,輔助您檢查TPS的測(cè)試邏輯;

信息化:支持分布式測(cè)試信息共享和遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)備份,提供遠(yuǎn)程測(cè)試與診斷信息傳輸?shù)臉?biāo)準(zhǔn)化服務(wù)接口。



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